재료공학기초실험 재료의 전기화학적 성질 미세구조 및 열적 특성

소개

재료공학기초실험
재료의 전기화학적 성질
미세 구조 및 열적 특성

목차

1. 광학 현미경을 통한 미세조직 관찰 및 분석
2. 주사 전자 현미경을 통한 미세조직 관찰 및 분석
3. 시차 열분석
4. 이론

본문내용

- 광학현미경 (OM)
현미경은 물체의 미세한 부분을 확대하여 관찰하는 장치로 초점거리가 짧은 대물렌즈에 의하여 얻어지는 확대된 도립 실상을 접안렌즈로 다시 확대하는 것이다. 광학현미경은 볼록렌즈를 통해 상을 확대하고 필요한 경우 여러 개의 렌즈를 차례로 배열하며 10배~2000배까지 배율을 높일 수 있다.

- 주사전자현미경(SEM)
진공 중에 놓인 시료표면을 미세한 전자선으로 주사하여 검출된 신호로 고체상태 의 미세조직과 형상을 관찰하는데 쓰이는 현미경이다. 장치에는 고체 시료와 반응 해 여러 가지 신호를 발생시키는 가속전자들을 영상화하기 위한 2차 전자 검출기와 후방산란전자검출기가 있다. 2차 전자는 전자선이 시료에 비탄성 충돌하여 시료에 에너지를 전달한 뒤 시료에서 방출되어 비교적 에너지가 작은 전자이며, 후방산란 전자는 입사각이 직각일 때, 핵 주의를 원형으로 돌아 시료 밖으로 방출되는 에너 지는 매우 큰 전자이다. SEM은 OM에 비해 해상력이 좋고 초점심도가 커 3차원적 인 영상의 관찰에 용이하다.

참고자료

· 없음