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"반도체 probe 공정" 검색결과 81-100 / 210건

  • 2017년 SK하이닉스 합격 자기소개서
    하다고 느끼는 저에게는 꿈을 향해 한 걸음 더 나아갈 수 있는 발판이라고 생각되었습니다.주로 Probe Card용 세라믹 기판, 반도체 Track장비용 플레이트 등을 만드는 회사로서 위 ... 제품들을 만드는 기본 공정들을 배우고 실습하였습니다. 공정에는 원재료의 배합부터 시트의 성형, 회로 인쇄 및 적층, 소성까지의 과정과 세라믹 기판에 전기를 사용하지 않는 방식 ... 들을 실습을 통하여 한 번에 날려버리게 되었습니다. 총 세단계로 이루어진 공정을 성공적으로 마치고 같이 신청하였던 학생들 중 최고의 점수를 받아 제조기술 분야에 대한 자신감과 성취감을 얻을 수 있었습니다. 이러한 실무경험이 SK하이닉스에 도움이 되리라 확신합니다.
    자기소개서 | 4페이지 | 3,000원 | 등록일 2019.08.13
  • [실험레포트] 온도변화에 따르 저항 변화 측정
    는다기 보다는 화학반응을 일으켜서 고체 상태로 변화하는 것이다.● PVD & CVDPVD와 CVD 모두 반도체 공정이나 기타 산업에 많이 이용되는데 대개 PVD는 고품질의 박막 ... .? 온도변화에 따라 저항의 변화를 그래프로 그려 활성화에너지를 계산한다.Ⅰ. 서론● two-probe methodtwo-probe method에서 전극은 측정하는 재료보다 훨씬 작 ... 아야 한다. 그렇지 않으면 전극의 저항이 포함되기 때문이다. 예를들면 세라믹 등이 있다. two-probe method는 시료와 전극의 접촉이 잘 안될 가능성이 있다는 단점이 있다.R
    리포트 | 7페이지 | 1,500원 | 등록일 2015.12.05
  • 반도체공정실험 예비보고서(Metal deposition)
    반도체공정실험 3조1. Schematic diagram for the evaporator (vacuum system) and sputter deposition system1.1 ... Deposition) 등이 있다. 많이 쓰이는 산화물 반도체나 GaAs 등을 증착시킬 때의 PVD 방법들은 그 화합물들을 우선 소결하거나 녹여서 고체상태의 target으로 제조해서 열이나 전자빔 ... -point probe이번 실험에 면저항 측정을 위해 사용할 Four-point probe(FPP)는 그림 5와 같이 동일선상에 놓인 텅스텐 와이어 probe가 Sample 표면에 직접
    리포트 | 3페이지 | 5,000원 | 등록일 2014.09.23 | 수정일 2021.04.11
  • MOS커패시터(MOScapacitor) 커패시턴스(capacitance) 측정 및 RLC 측정 장비 이론
    반도체 기초설계 및 실험 보고서 #41. CapacitanceCapacitor의 전기를 축적하는 능력을 나타내는 물리량이다. Capacitor는 에너지를 저장하는 수동형 회로 ... 에probe를 위치시킨다. 그 후에 전압을 가하여 측정되는 C-V곡선을 확인한다. 1kHz, Bias는 변화, voltage level은 25mV 혹은 50mV로 설정한다. 노이즈 발생 ... . Sensitivity는 빛에 대한 민감도를 의미한다. 빛을 조사하는 과정이 길수록 공정시간이 오래걸리고 이는 곧 operation cost에 연결되는 문제이기 때문에 그 과정이 짧을수록 효율적일 다.
    리포트 | 27페이지 | 3,000원 | 등록일 2019.02.24
  • magnetron sputter를 이용한 박막 형성 실험레포트
    Ⅰ. 서 론1. 실험 목적현재 magnetron sputter는 반도체, LCD 등을 포함하는 microelectronics 산업에서 박막 형성을 위한 주요 장비로 널리 쓰이고 ... 와 내부의 조밀도를 높이는데 이용합니다. 이러한 응용은 전자제품, 전자부품, 반도체부품 등에도 널리 이용되고 있다. 어린아이들이 스트로(빨대, 대롱)를 이용해 물이나 음료수를 마시 ... 는 증류(원유나 화학공정)를 하는데 진공을 이용하여, 원료를 절감을 하고 있다. 음식 물이나 부패하기 쉬운 물질 등을 보관하는 데에도 진공보관이나 진공포장을 이용하며, 우리가 흔히
    리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2014.08.18
  • 반도체공정실험 Final Report
    반도체공정실험 3조 Final ReportExperiment 1 _ Cleaning & Oxidation1. Purpose of experiment우리 조는 반도체 소자의 절연 ... 층 생성을 위해 반도체 소자 공정의 첫 번째 공정에 해당하는 `Wafer Cleaning & Oxidation'을 실시하였다. 먼저 Wafer Cleaning Process를 통하 ... 하여, Al를 wafer에 두께가 10nm가 되도록 증착시킨다.5) 증착두께가 20nm, 30nm로 되도록 실험을 반복한다.6) Four-point-probe를 이용하여 metal
    리포트 | 13페이지 | 8,000원 | 등록일 2014.09.23 | 수정일 2021.04.11
  • 4PP 예비보고서
    4 Point Probe Measurement 예비보고서홍길동물리학과 인하대학교, 인천 남구 용현동 253우리나라의 기간산업의 하나인 반도체 산업은 날이 갈수록 발전하고 있 ... 다. 반도체 특성을 측정하기 위해서, 저항의 측정이나 다른 종류의 측정방법이 필요할 것 이다. 우리가 흔히 사용하는 측정기인 기존의 2 Point Probe 방식은 두개의 Probe ... 있게 되었고, 이 모든 것은 여러 기술들의 발전이 이루어낸 성과라고 할 수 있겠지만, 특히 반도체 기술 발전이 크게 한 몫을 했다고 생각한다.Figure 1. 반도체 공정이런
    리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.11.16 | 수정일 2014.11.12
  • 아주대 기계설계 분야별 실험3
    증착법) 장비를 이용하여 화합물 반도체를 성장시켜 에피 웨이퍼를 제조 하는 단계 이다. 에피 웨이퍼 제조 공정을 청색 LED를 예를 들어 설명하면, 청색을 내는 반도체 재료 ... Sensor 장비에 대해 이해 해보고, 이를 이용해 Wafer Marking장비의 움직인 이동거리를 측정해본다. 또한 Wafer Marking 장비가 반도체장치에 각인을 시키 ... 는 것의 중요성을 실험원리를 통해 알아본다.2. 실험 원리◎LED 칩 제조 공정① LED란?-p-n접합 다이오드의 일종으로, 순방향으로 전압이 걸릴 때 단파장광(monochro
    리포트 | 16페이지 | 3,000원 | 등록일 2014.07.22
  • 4PP 결과보고서
    을 측정하기 위해서, 저항의 측정이나 다른 종류의 측정방법이 필요할 것 이다. 2 Point Probe 방식은 혼합물과 같은 반도체의 저항을 정확하게 측정하기에는 무리가 있 ... 발전이 크게 한 몫을 했다고 생각한다.Figure 1. 반도체 공정이런 반도체는 Si(규소)와 다른 물질들을 섞어서 만든다. 반도체 공정을 하기위해선 반도체의 특성에 대해서도 알 ... 아야 할 것인데, 반도체의 저항도 이런 특성의 한 종류 일 것이다. 반도체의 저항(면저항)을 측정하기 위해서는 기존의 2 Point Probe(2PP) 측정보다 4 Point
    리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.11.16 | 수정일 2014.11.12
  • 7세대 노광기(Stepper) 설계 [정밀기계공학 레포트_논문형식]
    공정 장비로, 빛에 노출시켜 회로나 패턴을 구성하는 등 반도체 생산을 위해 밑그림을 그리는 작업을 수행한다. 즉 카메라처럼 마스크에 빛을 쪼아 유리 기판에 회로를 그리는 회로공정 ... -generation LCD production, and its operating principle is presented.1. 서 론노광기는 LCD 패널과 반도체를 생산하는데 필수적인 ... 적으로 , 정열능력)을 제공하는 장치인 공정부를 중점으로 설계를 수행할 것이며, 여기에는 조명계와 각종 계측기, Stage구동 및 정밀 보정장치들이 포함된다.Figure 1. LCD
    리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2014.06.21 | 수정일 2017.05.14
  • 9. 4-point probe
    . 단결정 시료의 저항률은 다음식으로 산출한다.  ∘   -- 반도체 공정순서6. 실험 결과CuSiO20.28986 Ω/□348964004.99344 Ω/□7 ... 는 실리콘 재료에 고온,고압을 시켜 위쪽으로 끌어 올리게 되면 잉곳형태로 모양이 생기는데 이때 단면을 자르면 된다. PNP, NPN을 만드는 것이 반도체 공정인데 다음과 같은 6가지 ... 지만, 혼합물의 경우 여러가지 방법에 의하여 구할 수 있습니다- 반도체 공정은 사진공정-산화-이온주입-식각공정-금속공정-증착공정 순이다.- 다결정 실리콘으로부터 단결정 실리콘을 제조
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.11.24
  • Cu 박막 전기적 특성 분석
    putteringMagnetron sputtering3) Four Point Probe4-point probe반도체의 resistivity, 절연체 위에 형성된 금속박막의 저항율를 측정하는 데 ... (1nm=10??m) ※ 구리의 비저항 1.67μΩ-㎝5. Data 분석(고찰) 및 결론이번 실험에서는 반도체 공정중 하나인 배선공정에서 구리의 전기적 특성에 영향을미치는 인자 ... 실험과제 : Cu film의 전기적 특성 분석 실험1. 실험목적전자제품 (반도체, display)에 전기배선 재료로 사용되는 Al이 있다. 하지만 최근의경향이 고집적화, 대면적
    리포트 | 9페이지 | 2,500원 | 등록일 2012.09.21 | 수정일 2015.09.17
  • silicon wafer 박막형성
    - Scuttering 방법을 통하여 금속박막을 형성하는 원리를 알고, 이 방법이 박막의 구조에 어떠한 작용을 주는지 알 수 있다.- 사진-식각 공정을 통하여 반도체의 금속배선 ... pattern 을 만드는 방법을 이해할 수 있다.- 4 point probe, van der pauw 방법을 이용하여 반도체의 저항을 측정할 수 있다. (저항 측정 시, 대칭 ... hr HV) 이렇게 하여 총 4개의 다른 종류의 시편을 얻게 된다.2. Photolithography⑦ 먼지, 불순물 등이 재료를 손상시키지 않도록 반도체 공정 실험실
    리포트 | 15페이지 | 2,000원 | 등록일 2012.07.06
  • 탄소나노소자의 특성과 응용 - CNT의 종류, CNT의 원자구조 및 특징, CNT의 합성, CNT의 응용, 풀러렌의 성질과 응용, 풀러렌유도체의 합성, 그래핀
    Chiral 구조의 특징CNT의 합성전기방전법 (arc-discharge)레이저 증착법 (Laser vaporization)CNT의 응용Scanning probe ... microscopy (SPM)나노핀셋 (Nano Tweezer)반도체 CNT2. 풀러렌 (Fullerene)풀러렌의 성질풀러렌유도체의 합성방법ReductionNucleophilic ... 라는 새로운 분야가 열렸으며, 이는 곧 21세기를 선도해 갈 정보통신, 의약, 소재, 제조공정, 환경 및 에너지 등의 분야에서 미래의 기술로서 인식되게 되었다. 현재는 여러 나노소자 중
    리포트 | 12페이지 | 2,000원 | 등록일 2013.09.26
  • 산화 공정 (Oxidation) 분석 [A+]
    제목 : 산화 공정 (Oxidation)목적 : 반도체 소자 제조 공정 중 하나로 고온에서 산소나 수증기를 주입시키고 열을 가해 실리콘 웨이퍼 표면에 얇고 균일한 실리콘 산화막 ... 을 형성 시키는 공정이다. 실리콘 산화막은 실리콘 표면에 원하지 않는 오염을 방지하는 역할 뿐 아니라 반도체소자에 서 매우 우수한 절연체로 전류와 도핑물질의 이동을 막는데 사용 ... 되는 물질로 고품질 의 SiO₂박막을 성장시키는 산화기술은 반도체 공정에서 매우 중요하다.이론 : 딜-그로브의 열 산화 모델 (Deal-Grove Model of Oxidation)Si
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.11.23
  • 반도체 공동 연구소 기본 공정교육(3일) 실습보고서(MOS Capacitor 제작 및 C-V 측정 보고서)
    ◇전자디스플레이설계 기본 공정교육 ISRC 실습보고서◇-XX대학교 전자공학과 XXX -▣교육 기간 : 2차 A조 2012.5.9(수)~5.11(금) 3일▣교육 장소 : 반도체공동 ... )실습에 대한 의의 및 개선방향4)참고자료(1)단위공정 실습 결과 보고서1-1. 실습 목적▶반도체 process를 이용하여 기본적인 MOS capacitor를 제작하고, C-V ... 특성을 측정함으로써 반도체 공정을 기본적으로 이해할 수 있도록 한다.▶C-V 측정으로 등의 값을 구할 수 있다.1-2. 실습 이론-Metal : 게이트 부분.Al 등 금속 또는 n
    리포트 | 9페이지 | 3,000원 | 등록일 2013.08.31
  • 아주대 분야별실험 기계설계실험 LDV, Gap sensor를 이용한 변위측정
    을 통해서 실제의 값과 비교와 분석을 해본다.2. 실험 이론1) LED 제조 공정LED 제조공정은 에피 웨이퍼 제조 -> 칩 생산 -> 패키징 -> 모듈 등으로 진행된다.① 먼저 기초 ... 소재인 단결정 웨이퍼에 단결정 박막을 성장시켜 에피 웨이퍼를 제조한다.② 칩 생산 공정은 전극을 형성하고 개별 칩으로 절단하는 단계③ 패키징 공정은 제조된 칩과 리드를 연결하고 빛 ... 이 최대한 외부로 방출되도록 하는 단계④ 모듈공정은 패키징이 완료된 LED를 이용하여 일정한 프레임에 LED를 부착시키는 단계LED 칩 제조 공정성장된 에피 웨이퍼를 가지고 LED
    리포트 | 14페이지 | 1,500원 | 등록일 2014.03.31 | 수정일 2014.04.07
  • DNA chip
    적 DNA chip 반도체 제작공정의 미세식각기술과 가공기술 이용 기판에 미세전극을 만듦(25개~10,000개이상) Capture probe들이 permeation layer에 부착4 ... 및 독성 검사 개인별에 맞춤 약 개발MEMS3. DNA chip에 필요한 기술DNA 기판 : 반도체 가공기술의 응용 Lithography Etching DNA 분자의 부착 Pin ... method On chip 합성 Inkjet 기술4. DNA chip의 제작 과정photolithography를 이용한 DNA chip Microarrays의 probe
    리포트 | 20페이지 | 3,500원 | 등록일 2011.12.08
  • [공학]【A+】반도체공정기술[단위공정]
    반도체 공정 기술[Semiconductor Processing Technology]Part 1. 단위 공정[1] Wafer 판별법1. Si의 결정면2. Wafer 종류1) p ... ) 공정 평가① Sheet resistance(Rs) ; 확산된 층의 저항using 4-point probe 측정법Rs = ()()= 4.53[Ω/㎠]* Correction ... ) Floating-zone growth 법. 등2. 반도체와 어떤 금속의 용액으로부터 성장· Liquid Phase Epitaxy 법 (LPE 법)3. 증기 형태로부터 성장· Vaphor
    리포트 | 28페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.07.15
  • 영상처리를 이용한 정밀측정
    한 정밀측정 3. 측정대상물 설명3. 측정대상물 설명 측정 대상물 이미지3. 측정대상물 설명 반도체 장비에 사용되는 Probe needle3. 측정대상물 설명 Probing 작업에 사용 ... 되는 Probe Needle Probing 은 웨이퍼상의 각 die 들을 전기적으로 테스트하는 공정이다 . 이 공정Probe Equipment 로 자동으로 수행된다 . 대부분 ... (probe needle) 은 끝이 뾰족한 매우 얇은 핀 모양으로 테스트 공정중에 표면에 접촉하게 된다 . 검침 바늘 은 또한 텅스텐과 같이 전기 전도성이 매우 우수한 하고 물리
    리포트 | 64페이지 | 1,000원 | 등록일 2011.11.01
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2025년 10월 12일 일요일
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