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A+ 전기회로실험 33장 오실로스코우프를 이용한 전압 및 주파수측정 <10주차 결과보고서>

결과 보고서33장. 오실로스코우프를 이용한 전압 및 주파수측정조:학번:이름:실험목적① 측정을 위하여 오실로스코우프와 프로브를 점검한다.② 오실로스코우프를 이용하여 교류와 직류 전압을 정확히 측정한다.③ 오실로스코우프를 이용하여 시간과 주파수를 정확히 측정한다.실험결과1. DC전압측정실험 33의 첫 번째 실험은 오실로스코프로 DC전압을 측정하고, 그때의 Volt/Div 값과 Voltage를 확인하는 실험이다. 함수 발생기가 아닌, DC 공급전원을 사용했으며, -5V 같은 경우는 프로브 선을 반대 측정을 하니 단락상태가 되었다. 따라서 임의로 오실로스코프에 있는 반전옵션을 통해서 ?5V를 나타내었다. 첫 번째 그림에서 왼쪽 하단에보면 CH1 1.00V (volts/div) 라고 되어있는데, 이것은 수직으로 한 칸에 1V를 나타냄을 의미한다. 두 번째 그림에 적용을 해보면 한 칸에 5V를 나타내기 때문에 9V를 나타내기 위해서는 2칸보다 조금 작은 값을 나타내고 있음을 알 수 있다.실험 결과는 다음과 같다.DC Input Voltage3V9V-5Vvolts/div1.00V5.00V↓5.00Vvoltage3V9V-5V2. AC 전압 측정실험 33의 두 번째 실험은 AC 전압을 각 전압마다 측정 하는 것과 AC전압과 DC전압이 함께 입력이 될 때 측정하는 실험이다. 원래 실험에는 두 번째 표에 12V로 측정하여야 하는데 함수 발생기에서 최대 10V까지 밖에 공급원을 줄 수 없었다. 따라서 8V로 조정이 되었다. 또한 DC 4V를 주는 과정에 있어서 함수 발생기와 공급원을 직렬로 연결해서 선형성을 이용해 더해진다고 생각하였으나 오실로스코프로 측정하려니 AC값이 발생하지 않았다. 따라서 3번째는 함수발생기의 OFFSET 기능을 통해서 4V DC를 주어서 해결할 수 있었다. Hz는 100Hz를 사용 하였다.실험 결과는 다음과 같다.AC Input Voltage, Vp-p2V8V2V on 4V DCvolts/div1.00V5.00V2.00voltage(p-p)4.16V16.6V4V실험에 대한 고찰1)ac 전압 측정시 volt/div 값을 어떻게 조정하면 가장 정확하게 측정할 수 있나?- 1X로 측정하는것보다 10X으로 프로브를 조정하는 것이 측정상 오차를 보완할 수 있다.프로브를 10X으로 바꾼 후 오실로스코프 상 가운데에 맞춘다. VOLT/DIV값을 돌려가며 가장 읽기 쉽게 돌린다.2)어떤환경하에서 10X형 프로브가 1X형 프로브보다 장점을 갖는가?- 측정하고자 하는 파의 진폭이 오실로스코프의 최대하계보다 내려간다면 10X형 프로브를 통해 오실로스코프 화면상에 나타나는 한계치를 극복할 수 있다. 진폭이 오실로스코프의 최소상계보다 커질 시는 1X형 프로브를 사용하는 것이 10X를 사용하는 것보다 좋다.3)왜 오실로스코프를 사용할때마다 조정스위치 및 프로브를 교정하는것이 필요한가?

공학/기술| 2020.01.11| 2페이지| 1,500원| 조회(230)

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A+ 전기회로실험 26장 노튼의 정리 <9주차 결과보고서> 평가A+최고예요

결과 보고서26장. 노튼의 정리조:학번:이름:실험목적① 한 개 또는 두 개의 전압원을 갖는 직류회로에서 노튼 정전류원 IN과 노튼 전류원 저항 RN의 값을 결정한다.② 두 개의 전압원을 갖는 복잡한 직류 회로망 해석에서 IN과 RN의 값을 실험적으로 입증한다.실험결과1. 노튼의 정리를 입증하기 위한 측정실험 26의 첫 번째 실험은 노튼의 정리를 입증하기 위한 측정이다. 원래값과 노튼값의 오차가 있었는데 이유는 똑같은 저항으로 계산하다고 하여도, 다른 빵판, 공급원의 저항, 열의 저항, 단선의 저항이 존재 하기 때문이다. 그렇지만 비교적 오차가 크지 않고,이상적인 경우에는 노튼의 정리가 성립했을 것이다.실험 결과는 다음과 같다.노튼의 정리를 입증하기 위한 측정표 26-1 : 노튼의 정리를 입증하기 위한 측정I _{N}, mAR _{N}, ΩI _{L}, mAR _{L}, ΩMeasuredCalculatedMeasuredCalculatedMeasuredCalculatedOriginalNorton EquivalentCircuit1.2k14.5915.425544542.84.754.484.8063908.568.868.9785607.187.647.8951.8k3.463.763.76실험에 대한 고찰1. 2단자 선형 회로망을 정전류원과 등가저항의 병렬연결인 등가회로로 변환하기 위해 노튼의 정리가 어떻게 사용되는지 설명하시오.- Norton 정리도 25. 테브냉 등가회로와 같이, 내부에 상관없이 외부로 나타나는 결과가 일치하면 해당회로를 변형해도 상관이 없다. 그러기 위해서는 우선I_N과R_N을 구하기 위해 두 선형단자 a, b를 선택하도록 한다. 등가전류I_N은 두 단자 사이에 흐르는 전류로 해당 회로의 a, b 단자 사이를 연결하여 short 시킨 뒤 전류를 구하면 된다.R_N의 값은V_OC를 통해서 계산하며 a, b 단자를 open 시킨 뒤에 전압을 측정하여V over I = R의 식을 이용하여 구할 수 있다. 만약 대상 회로가 independent source 만으로 구성되어 있는 회로라면 따로V_OC값을 일부러 구할 필요없이 independent source를 제거한 뒤에 전체저항을 구하여R_N을 얻을 수 있다. 여기서 source를 제거한다는 말은 0 voltage(=short, 전압원), 0 ampere(=open, 전류원)으로 설정해야 한다는 뜻이다. 마지막으로I_N,R_N을 서로 병렬로 연결하여 회로를 구성해주면 Norton Equivalent 회로가 완성된다. 이 방법을 사용하면 회로를 간단하게 변형하여 해석이 쉬워지게 된다.2. 표 26-1을 참조하여,I _{N}의 계산값과 측정값을 비교하시오. 예상했던 결과가 얻어졌는가?R _{N}의 두 값에 대해서도 같은 방법으로 비교하고 설명하시오.- Norton 등가전류I_N,R_N에 대해서도 거의 일치하는 결과가 나왔으나 1.4mA, 7Ω 정도의 오차가 발생하였다. 오차의 범위가 해당 도선 주변을 흐르는 가지전류 값과의 차이가 적기 때문에 그 값을 100% 신뢰하기는 어렵다. 앞서 2번에서 언급한 쟁점과 동일하며, 오차의 원인으로는 7Ω의 차이를 보이는 저항기에서 기인한 것이 아닐까 추측해 보게 되었다.

공학/기술| 2020.01.09| 2페이지| 1,500원| 조회(322)

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A+ 전기회로실험 32장 신호발생기의 동작원리 <10주차 결과보고서>

결과 보고서32장. 신호발생기의 동작원리조:학번:이름:실험목적① AF 신호발생기의 동작특성을 조사한다.② 함수발생기의 동작특성을 조사한다.③ 오실로스코우프를 이용하여 신호발생기의 출력을 관찰한다.실험결과1. AF 신호발생기의 동작실험 32의 첫 번째 실험은 오실로스코프가 주파수에 따라, 화면에 나타나는 주기수를 알아보는 실험이다. 표 결과에서 1khz일 때 화면에 2.5 주기가 나오는 경우에는 Time/Div이 250us일 때 그러했다. 그리고 나서 generator에서 Time/Div은 그대로 두고, 주파수를 2khz를 높이면 그에 따른 5 주기가 되었다. 이것은 주파수와 주기의 관계를 보면 1khz ?> 2khz가 되니 2.5 주기 ?> 5주기로 유추할 수 있다.실험 결과는 다음과 같다.1khz일때의 주기2khz일때의 주기500hz일때의 주기Frequency setting of Signal Generator,HzNumber of Cycles Displayed on ScreenTime/Div. Setting of Scope, Time Units/Div1k2.5250mus2k5250mus5001.25250mus2. 함수발생기의 동작실험 32의 두 번째 실험은 함수 발생기에서 Sine wave, Sawtooth Wave, Square Wave를 파형을 입력하고, 주파수를 1000Hz와 2000Hz일 때의 모습을 확인하는 실험이다. 실험 조건은 모두 한주기가 나오는 모습으로 Time/Div. 스위치를 조정하는 것이다.실험 결과는 다음과 같다.Sine SaveSawtooth WaveSquare Wave1000Hz2000Hz실험에 대한 고찰1)실험 결과를 이용하여 AF신호발생기의 출력 주파수와 오실로스코프의 화면상에 나타난 파형의 주기와의 관계를 설명하시오.- 실험을 통하여(1주기의``수평```칸```수)` TIMES `(TIME````/````DIV``값)````=``` {1} over {주파수}임을 알 수 있다.2)실험과정 A3에서, 과정 A2에 사용한 신호발생기 출력을 가감하면서 파형을 관찰하였다. 이때, 파형의 진폭 및 주기수의 변화에 대해 설명하시오.-신호발생기의 진폭을 증가시키면 오실로스코프에서 휘선의 진폭이 늘어난다.주파수를 증가시키면, 파형의 주기가 감소하므로 오실로스코프 상에서 주기수가 증가한다.주파수를 감소시키면, 파형의 주기가 증가하므로 오실로스코프 상에서 주기수가 감소한다.3)함수발생기의 내부저항 측정법에 대해 설명하시오.-함수발생기에 외부저항을 연결하며, 파를 출력한다. 이때, 외부저항의 전압값을 측정하여 내부저항 값을 얻을 수 있다. 함수발생기의 내부저항값을 r이라고 하자. 외부저항값을 R이라 하자. 외부저항의 측정된 전압을 V라고 하고, 발생된 전압을epsilon 이라고 하자.그러면{V- epsilon } over {r} + {V} over {R} =0 이므로,r= {R} over {V} `times`( epsilon -V) 의 식을 통해 알 수 있다.

공학/기술| 2020.01.09| 3페이지| 1,500원| 조회(421)

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A+ 디지털 시스템 실험 최종 프로젝트 자판기 <vending machine>, PPT포함

실험제목최종 프로젝트 – Vending Machine실험목표① 자판기를 설계한다.② FPGA 보드에 올려 동작을 검증한다.실험결과1. 프로젝트 설명 및 구현 방법 1) 모델, flow Chart, state diagram 자판기 프로젝트는 실제 자판기처럼 동작하게 하였다. 사용자가 임의의 금액을 투입하고 음료를 선택하면 음료가 출력되고 남은 금액이 반환된다. 모델과 Flow Chart는 [그림 1] 과 같다.Verilog로 자판기를 구현하기 전에 먼저 State Diagram을 그리고 구현하고자 하는 동작을 확인해 보는 과정을 거쳤다. State Diagram은 [그림 2]와 같다. 2) 구조도 Flow Chart와 State Diagram으로 [그림 3]과 같이 전체적인 구조도를 만들었다. Quartus의 RTL을 이용한 구체적인 구조도는 [그림 4]와 같다.3) Input 및 output 자판기는 총 6개의 Module로 구성되며 Top Module은 Vending Machine Module이 된다. Vending Machine Module의 입출력은 다음과 같다. ① Input ∙ RST, CLK, Change_sel : 1bit ∙ Coin [2:0] : 3bit, Coin[0]=50원, Coin[1]=100원, Coin[2]=500원 ∙ Coffee [2:0] : 3bit, Coffee[0]=150원, Coffee[1]=350원, Coffee[2]=500원 ② Output ∙ oS_COM [7:0] 8bit ∙ oS_ENS [6:0] : 7bit

공학/기술| 2020.01.07| 9페이지| 10,000원| 조회(1,465)

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A+ 전기회로실험 25장 테브닝 정리 <9주차 결과보고서> 평가A+최고예요

결과 보고서25장. 테브닌 정리조: 10조학번: 2014171118이름: 조창연실험목적① 단일 전압원을 갖는 직류회로의 테브닌 등가전압 (VTH)과 등가저항 (RTH)을 결정한다.② 직-병렬회로의 해석에 있어서 VTH와 RTH의 값을 실험적으로 입증한다.실험결과1. 저항기의 측정 저항값실험 25의 첫 번째 실험은 각각의 저항을 측정하는 실험이다. 이것은 다음 실험의 테브닌 정리를 입증하기 위한 RTH의 값을 측정하는데 있어 공칭값이 아닌 측정값이 필요해서이다. 실험에 모든 저항값이 허용오차를 넘지 않고, 비교적 크지 않는 오차를 보여주었다.실험 결과는 다음과 같다.표 25-1 : 저항기의 측정 저항값ResistorRated ΩmeasuredR_1390387R_23.3k3.27kR_31.2k1.18kR_4470470R_L330325.0R_L1k0.984R_L3.3k3.332. 테브닌 정리를 입증하기 위한 측정실험 25의 두 번째 실험은 테브닌 정리를 입증하기 위해서 측정하는 실험이다. 앞서 측정한 저항들로 RTH를 계산한 값과 측정한 값이 일치하는지 확인하는 실험이다. 하지만 실제값과 측정값이 오차가 있었는데, 이유는 아마도 공칭값에서의 값과 실제 저항값에서의 차이, 빵판의 저항, 도선의 저항, 파워가 높아지면서 열을내는 저항, 공급원의 저항이 있다.실험 결과는 다음과 같다.테브닌 정리를 입증하기 위한 회로표 25-2 : 테브닌 정리를 입증하기 위한 측정R_L, ΩV_TH, VR_TH, ΩI_L, mAMeasuredCalculatedMeasuredCalculatedMeasuredCalculatedOriginalCircuitTheveninEquivalentCircuit3304.204.1981.085k1.0931k2.682.982.9501k1.992.052.0063.30.930.980.955실험에 대한 고찰1. 선형 2단자 회로망을 하나의 전압원과 저항이 직렬 연결된 간단한 등가회로로 변환하기 위해 테브닌 정리가 어떻게 이용되는지 설명하시오.- 선형회로에서 2단자 a, b를 기준으로 회로를 해석할 때에 회로가 복잡할 경우에는 전류와 전압값을 구해내는데 많은 시간이 걸리게 된다. 하지만 어떤 회로(black box) 내부에 대한 해석이 필요없이 외부에 대해서의 관계를 해석할 때에는 black box 안의 과정, 절차에 대해 알 필요가 없어지며 외부에 어떤 영향을 미치는 가에만 초점을 맞추면 된다. 그 때에 Thevenin 정리가 사용되며 black box 내부의 회로를 등가전압V_TH와 등가저항R_TH만으로 표시할 수 있게 된다. 회로를 간단하게 하기 위해서는 Source Transform을 사용해도 되나, Source Transform은 저항을 하나씩 줄여나갈 수 있기 때문에 복잡한 회로를 단순화 시키기엔 바람직하지 않은 방법이다. Thevenin Equivalent는 a, b 단자를 open circuit으로 보고 그 사이의 전압을 계산하고 a, b 단자를 short circuit으로 보고 그 도선에 흐르는 전류의 값을 계산한다. 그 뒤에V over I = R를 이용하여 Thevenin 등가저항R_TH를 얻을 수 있다. 만약 회로가 independent source 만으로 구성되어 있다면,I_sc를 구할 필요 없이 independent source를 제거한 뒤에 전체저항을 구하여R_TH를 얻을 수도 있다. 이렇게 구한V_TH와R_Th를 서로 직렬로 연결하여 구성하면, 원래 회로와 동일한 Thevenin 등가회로를 얻을 수 있는 것이다. 연결할 때에는 전압의 극성에 유의하며 등가회로를 연결하도록 해야한다.2. 표 25-2의 데이터를 참조한다. 원래의 회로(그림 25-3)에서 측정된I _{L}과 테브닌 등가회로(그림 25-4)에서 측정된I _{L}을 비교하시오. 측정값들은 같아야 하는가? 그 이유를 설명하시오.- Thevenin Equivalent는 해당 회로와 동일한 의미를 가지는 단순한 회로를 디자인하는 것이다. 그러므로 기존의 회로와 동일하지 않다면 Thevenin Equivalent는 존재의 의미가 없게 된다. 기존 회로에 대한 수정없이R_L에 흐르는 전류를 측정하였을 때, 2.68mA를 얻을 수 있었다. 이 값은 향후 Thevenin 회로를 검증할 때에 비교의 기준이 되는 수치이다. 해당 회로에 대해 B, C Node에서의 open circuit 전압, short circuit 전류를 구하여 Thevenin Equivalent를 구해보면 4.20V, 1.085kΩ이 나온다. 이를 이용하여V_TH,R_TH가 직렬연결된 회로를 구성하여 연결하면 목표값I_L은 2.98mA을 얻을 수 있다. 이것은 원래 회로에서 얻은I_L과 비교해 보았을 때 일치한다고 말할 수 있으며, 계산을 통해 Thevenin 회로를 구성하여 얻은 Calculated 값과도 일치한다. 그러므로 저항 330Ω에 대해서 Thevenin 등가회로와 원래 회로는 일치하는 결과를 나타낸다.

공학/기술| 2020.01.07| 3페이지| 1,500원| 조회(215)

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