, reliability testingis also done at the wafer levelduring in-line parametric testing).5. Final ... testPackaged ICPackaged chiplevelProduct functionality test usingproduct specifications1. In-Line parametric ... 들이 빠짐없이 테스트 받는다는 것을 빼고는 in-line parametric test와 비슷하다. 어떤 때는 같은 automated test equipment (ATE)가 사용될 때도 있