[재료공학] ebsd

소개

모두 즐거운 하루 되시고
좋은 레포트 쓰세요^^

목차

1.서론
1.1ebsd
1.2Misorientation과 CSL
1.3비정상적 결정립
2.실험방법
3.결과및고찰
3.1 annealing하기 전 후 CSL 비교 graph
3.2 annealing하기 전 후 Misorientation 비교 graph
3.3결과고찰
4.결론
5.참고자료

본문내용

1.서론

본 실험은 texture에 대한 이해를 시작으로 한다. hot rolling과 cold rolling을 하고,1차 annealing을 하면 재결정이 생겨난 다는 것을 이전실험에서 확인하였다. 이것에 annealing을 더 하면, 특정한 grain만이 비정상적으로 성장하게 되는데, 이를 texture라고 한다. 특히 전기강판의 texture는 Goss texture라고 부른다. random한 결정방향을 갖는 grain을 열처리하면, 결정방향의 c축이 모두 같아지는 경우가 생기는데 이를 texture라고 한다. 이때, 어느방향이 c축방향이 될 것인지는 그 결정 구조에 따른 preferred orientation에 따라 결정된다. c축 방향이 통일되면서, a,b축의 방향도 같은 경우에는 각 grain 자체가 하나의 grain으로 통합될 수 있다. 이를 grain growth라 하는데, 특정한 결정방향을 갖는 grain만이 성장할때는, 즉 결정방향에 따라 선택적으로 grain 성장이 될 때 이를 abnormal grain growth라고 한다.

1.1EBSD
과거에는 대부분 집합조직에 대한 연구를 할 때 X선 회절을 이용하거나 투과 전자 현미경을 이용하였다. 물론 이러한 방법을 이용한 측정이 유용한 정보를 제공해 왔으나 한 편으론 많은 제약조건이 따르기도 하였다. X-선 회절법의 경우 측정 시편의 준비나 측정 방법이 비교적 간단하기 때문에 측정 분해능이 수십 마이크론에 이르러, 미세 영역의 방위 결정에는 적합하지 않다. 따라서 미세 조직의 방위 결정을 위해서는 투과전자 현미경을 이용한 전자 회절법이 널리 사용되고 있다. 그러나 투과 전자 현미경의 경우 시편 준비가 까다로울 뿐 아니라, 홀 주위의 극히 미세한 영역만을 관찰할 수 있기 때문에 재료의 전체적인 특성을 파악하는 데는 어느정도 한계가 있을 수 밖에 없고, 이러한 단점을 보완하기 위해 SEM에서 입사빔과 고각을 이루는, 후방으로 산란되는 Kikuchi 회절도형으로 결정 방위를 측정하는 EBSD(Electron Back Scattered Diffraction)법이 개발되었다. 최근에는 이러한 제약을 극복한 새로운 측정기술이 등장하였는데 이것이 바로 SEM을 이용한 EBSD이다. 이 방법은 재료의 표면에서 산란하는 전자빔을 이용하여 시편 좌표에 대한 조사 영역의 경정 방위를 결정하는 방법이다. 분해능의 측면에서는 X선 회절기와 TEM의 중간정도에 위치하고, TEM에 비해 시편 준비 및 측정영역에서 유리한 점(원하는 영역을 찾아 측정할 수 있고, 일정영역의 mapping이 가능하다.)을 가지는 SEM을 이용하여 이전에 분석이 힘들었던 재료도 많이 연구되고 있다.

참고자료

· 없음