이차 조화파 발생과 뮬러 행렬 타원법(Mueller Matrix Ellipsometry)에 의한 KDP(KH_2PO_4) 관찰 (Second Harmonic Generation and Mueller Matrix Ellipsometry with KDP(KH_2PO_4))

서지정보

· 발행기관 : 한국화상학회
· 수록지 정보 : 한국화상학회지 / 17권 / 1호 / 25 ~ 30페이지
· 저자명 : 김석원, 이유미

초록

본 연구에서는 선형 편광된 빔과 원형 편광된 빔을 이용한 이차 조화파 발생 현미경(Second Harmonic Generation Microscope)으로 비선형 물질인 KDP의 이미지를 얻었다. 펨토초 수준의 Ti-Sapphire 레이저를 광원으로 하였고, 편광상태발생기로 편광된 빔(0°, 45°, 90°, 우원편광)을 KDP에 투과시킨 후, 이차 조화파 신호를 발생시켜 편광상태분석기로 검출하였다. 검출기로는 4개의 광전자증배관을 사용하였으며, 여기서 얻은 신호세기로 고유값 보정법을 이용하여 A 행렬을 구하였다. 그 결과, 스톡스 벡터와 A 행렬로 뮬러 행렬을 구할 수 있음을 알았다. 또한 편광계를 더욱 발전시켜 세분화하였고, 대비효과를 높였으며, 편광된 빔(0°, 45°, 90°, -45°, 우원편광, 좌원편광)에 따른 KDP의 이미지 변화를 관찰하였다.

영어초록

Second Harmonic Generation microscope according to linearly and radially polarized beam was obtained images of KDP(KH_2PO_4). It was used Ti-Sapphire as a light source with 100~200 femto-seconds, polarized beam(0°, 45°, 90°and right circular) in polarization state generator(PSG) respectively was transmitted KDP, and then, SH signals are detected by polarization state analyzer(PSA). We used 4 photomultiplier tubes as detectors and calculated A matrix by eigenvalue calibration method from obtained intensities. As a result, It was realized that mueller matrix can be calculated by Stokes vector and A matrix. Also, we developed polarimeter in detail in polarization principle, increased contrast and observed change of images of KDP according to polarized beam(o°, 45°, 90°, -45°, right circular and left circular).

참고자료

· 없음