X선 기반 분광광도계를 통해 얻은 데이터 분석의 기초 (Practical Guide to X-ray Spectroscopic Data Analysis)

서지정보

· 발행기관 : 한국전기전자재료학회
· 수록지 정보 : 전기전자재료학회논문지 / 35권 / 3호 / 223 ~ 231페이지
· 저자명 : 조재현, 조욱

초록

분광학은 재료의 결정학적, 화학적 구조를 분석하기 위해 가장 보편적으로 활용되는 분석 기법이다. 이러한 기조에 따라 다양한 분석 소프트웨어와 peak fitting과 관련된 기술적 가이드라인이 보급되었지만, 정작 ‘왜’ 중간 계산 과정을 거치고 해당 함수를 쓰는지에 대한 논의는 부족한 실정이다. 따라서 본 tutorial에서는 X선 기반 분광광도계를 통해 얻은 데이터 분석의 기초를 논하고자 한다. 이를 위해 관련된 peak fitting을 위해 필요한 실용적 배경지식을 제시하였다. 나아가, 하나의 예시로 임의로 선정한 X선 광전자 분광법 데이터에 대한 curve fitting 과정을 순서에 따라 알기 쉽게 소개하였다. 제시한 기초 이론은 특정 소프트웨어에 국한된 내용이 아니라 fitting tool이 있는 모든 소프트웨어에서 그대로 활용 가능할뿐더러 다른 분광법 데이터를 분석하는 데 적용 가능하기 때문에, 본 내용을 숙지한다면 보다 수월한 연구 진행을 위한 바탕이 될 수 있을 것이라 기대한다.

영어초록

Spectroscopies are the most widely used for understanding the crystallographic, chemical, and physical aspects of materials; therefore, numerous commercial and non-commercial software have been introduced to help researchers better handling their spectroscopic data. However, not many researchers, especially early-stage ones, have a proper background knowledge on the choice of fitting functions and a technique for actual fitting, although the essence of such data analysis is peak fitting. In this regard, we present a practical guide for peak fitting for data analysis. We start with a basic-level theoretical background why and how a certain protocol for peak fitting works, followed by a step-by-step visualized demonstration how an actual fitting is performed. We expect that this contribution is sure to help many active researchers in the discipline of materials science better handle their spectroscopic data.

참고자료

· 없음