24장 FPGA를 활용한 스위치 인터페이스 예비 보고서실 험 일학 과학 번성 명1. 스위치 채터링의 발생 원인과 디지털 방지 방법을 설명하시오스위치를 사람이 누르거나 때는 과정에서 스위치 접점이 여러 번 붙었다가 떨어지는 현상이 발생할 수 있다. 채터링 현상은 스위치의 상태가 전환되는 짧은 순간에만 발생한다.채터링을 제거하기 위해서는 디바운싱 회로의 사용이 필요하다. 특정 시간동안 스위치의 입력을 무시하도록 설계하는 방법이다. 그렇게 하면 스위치의 입력이 들어왔을 때 채터링으로 인한 변화가 생기더라도 이를 무시함으로써 변화의 결과를 쭉 유지하게 된다.2. 아래 그림의 엣지 검출 타이밍도를 verilog로 작성할때 아래의 파란 부분의 코드를 완성하시오.module test (input MCLK,input SW_SIG);reg SW_SIGz = 1'b0;reg SW_SIGzz = 1'b0;wire PosEdgeDet;wire NegEdgeDet;always @(posedge MCLK)beginSW_SIGz
10장 RC, RL 회로의 주파수응답(필터링 특성) 실험보고서실 험 일학 과학 번성 명저역통과 RC회로(필터)4. 함수파발생기의 출력 주파수는 우선 40Hz로 하고 오실로스코프를 이용하여 전압의 상하첨두값을 관찰한다. 이 때 회로에서 출력되는 전압은 입력되는 전압 즉 함수파발생기 출력전압과 거의 같아야 한다.(오실로스코프 화면 우측에 숫자로 표시되는 항목들을 조절하여VP-P가 나타나도록 한다) 이러한 주파수변화에 따른 출력전압의 변화를 모눈종이에 표시하여주파수응답곡선을 얻는다.(※ OrCAD 회로도 및 세팅값, 주파수에 따른 시뮬레이션, 실험 측정값과 비교 그래프 포함)RC회로(LOW PASS) 회로도 및 세팅값그림 10.2 저역통과 RC회로(필터)RC회로 낮은 주파수 (40Hz)RC회로 차단주파수 (160Hz)RC회로 높은 주파수 (1 kHz)오차분석오실로스코프를 이용하여 측정한 상하 첨두값은 40Hz일 때 5V, 160Hz일 때 3.64V, 1KHz일 때 920mV이다. 저주파(40Hz)일 때 회로에서 출력되는 전압과 함수파발생기에서 출력되는 전압이 같았다. 주파수가 올라갈수록 출력 전압의 상하 첨두값이 작아진다. 이러한 RC회로의 특성은 LOW-PASS 필터(저역통과 필터)의 특성과 같다고 볼 수 있다.ORCAD의 시뮬레이션 그래프 또한 오실로스코프 파형과 같은 결과를 나타낸다.저역통과 RC회로(필터)6. 앞의 절차와 같이 하였을 때의 주파수를 오실로스코프에 나타나는 파형을 이용하여 계산한다.이 주파수가 이 실험에서 사용한 저역통과 RC필터의 차단(롤오프) 주파수이다.(※ 이론값, 차단(롤오프) 주파수에서의 세팅값, 시뮬레이션 파형, 실험 측정값과 비교 포함)RC회로 차단주파수 (빨간 선)오차`:` {161.38-159.23} over {159.23} TIMES 100=1.35%차단주파수의 이론값과 측정값의 오차는 1.35%가 나왔다.원인으로는1/ sqrt {2}가 정확히 70%는 아니라는 점과, 3.51V를 찍어서 x축(Hz)값이 살짝 더 높게 나온 점이 있다. 오차를 줄이기 위해서는1/ sqrt {2}로 계산하여 더욱 정확한 값을 측정해야하고, ORCAD 파형에서 정확히 3.5V를 찍어서 차단주파수를 계산했다면 오차가 더 낮게 나왔을 것이다.입력전압 : 5V입력전압의 70%(이론값) : 5*70% = 3.5Vorcad 시뮬레이션 파형에서 y축(V)에 3.51V를 찍었을 때, x축(Hz) 값은 161.38Hz이다.즉, 약 161.38Hz 가 이 실험에서 사용한 저역통과 RC필터의 차단(롤오프) 주파수이다.차단주파수 공식f _{C} =` {1} over {2 pi RC}을 이용하면f _{C} =` {1} over {2 pi RC} = {1} over {2 pi *1000*0.000001} =159.23Hz 이다. 이 값은 ORCAD 파형에서 도출해낸차단주파수 161.38Hz와 거의 비슷하다.고역 통과 RL회로(필터)3. 이 실험에서 시작하는 주파수는 높은 값으로(20[kHz] 정도) 하며 VP-P(첨두-첨두 전압 값)의변화를 관찰한다. 이 주파수에서는 회로의 출력전압이 입력전압과 거의 같아야 한다.이제 주파수를 낮은 값으로 서서히 조절하면서 전압의 변화를 관찰한다.이렇게 관찰한 결과를 모눈종이에 표시하여 주파수응답곡선을 얻는다.(※ OrCAD 회로도 및 세팅값, 주파수에 따른 시뮬레이션, 실험 측정값과 비교 그래프 포함)그림 10.3 고역통과 RL회로(필터)RL회로(HIGH PASS) 회로도 및 세팅값RL회로 낮은 주파수 (500Hz)RL회로 차단주파수 (4.825 kHz)RL회로 높은 주파수 (10 kHz)오실로스코프를 이용하여 측정한 상하 첨두값은 500Hz일 때 800mV, 4.825KHz일 때 3.56V, 10kHz일 때 4.64V이다. 고주파(10KHz)일 때 회로에서 출력되는 전압과 함수파발생기에서 출력되는 전압이 비슷했다. 주파수가 올라갈수록 출력 전압의 상하 첨두값이 입력전압과 가까워진다. 이러한 RL회로의 특성은 HIGH-PASS 필터(고역통과 필터)의 특성과 같다고 볼 수 있다.ORCAD의 시뮬레이션 그래프 또한 오실로스코프 파형과 같은 결과를 나타낸다.고역 통과 RL회로(필터)5. 오실로스코프에 나타나는 파형을 이용하여 앞의 절차와 같이 하였을 때의 주파수를 계산한다. 이 주파수가 이 실험에서 사용한 저역통과 RL필터의 차단(롤오프)주파수이다.(※ 이론값, 차단(롤오프) 주파수에서의 세팅값, 시뮬레이션 파형, 실험 측정값과 비교 포함)RL회로 차단주파수 (빨간 선)입력전압 : 5V입력전압의 70%(이론값) : 5*70% = 3.5Vorcad 시뮬레이션 파형에서 y축(V)에 3.50V를 찍었을 때, x축(Hz) 값은 4.732KHz이다.즉, 약 4.732KHz 가 이 실험에서 사용한 저역통과 RL필터의 차단(롤오프) 주파수이다.차단주파수 공식f _{C} =` {R} over {2 pi L}을 이용하면f _{C} =` {R} over {2 pi L} = {1000} over {2 pi *0.0033} =4.825kHz 이다. 이 값은 ORCAD 파형에서 도출해낸차단주파수 4.732kHz와 거의 비슷하다.오차분석오차`:` {4825-4732} over {4825} TIMES 100=1.93%차단주파수의 이론값과 측정값의 오차는 1.93%가 나왔다.원인으로는1/ sqrt {2}가 정확히 70%는 아니라는 점과, 오실로스코프에 차단주파수를 입력할 때 이론값을 먼저 계산하고 그와 비슷한 주파수를 입력했다는 점이 있다. 오차를 줄이기 위해서는1/ sqrt {2}로 계산하여 더욱 정확한 값을 측정해야하고, 자동측정기능을 사용한다면 더욱 낮은 오차가 나올 것이다.자체평가1) 주어진 식(1)과 (2)를 사용하여 RC회로와 RL회로의 차단(롤오프)주파수를 계산하고 앞의 실험에서 얻은 결과와 비교한다.RC회로의 차단주파수(이론값) :f _{c} = {1} over {2 pi sqrt {1000 TIMES 10 ^{-9}}} APPROX 159.23HzRL회로의 차단주파수(이론값) :f _{c} = {1000} over {2 pi TIMES 33 TIMES 10 ^{-3}} APPROX 4.825K rm Hz첫 번째 실험에서는 오실로스코프의 주파수를 159.23Hz 대신 160Hz로 진행했고, 두 번째 실험에서는 4.825Hz로 진행하였다. 각 실험의 첨두값은 3.64V, 3.56V가 나왔다.
R _{X}의 값을 1kOMEGA 으로 설정하였고, 가변저항의 값을 드라이버를 이용해 돌리면서 노드C, D 사이에 흐르는 전류를 0이 되도록 하였다. 이때R _{1}과R _{2}의 값이 10kOMEGA 으로 그 비율이 1이기 때문에, 가변저항의 값은 이론적으로R _{X}의 값과 같아야한다. 가변저항 측정 결과 0.9782kOMEGA 으로 측정되고, 이는R _{X}의 저항값 1kOMEGA 과 거의 같다고 볼 수 있다.9장 휘스톤 브리지와 전력전달 실험보고서실 험 일학 과학 번성 명[휘스톤 브리지]3. a) VOM을 저항 측정범위에 맞춘다.b) 조정된 저항값에 변동됨이 없이 가감저항기를 회로에서 분리시켜 VOM로 그 저항값을측정하여 기록한다. 이 저항값은 미지의 저항값(R_{ X})과 비교하여 거의 같은가?미지 저항값(R_{ X})VOM 측정 저항값1kOMEGA 0.9782kOMEGAc) 분리시킨 가감저항기를 다시 회로에 연결한다.가변저항기 DMM 측정전류 측정 회로 사진4. a) 다음과 같이 결합 번호에 따라 각 저항기(1㏀, 1.5㏀, 3.3㏀, 22㏀)를 결합 시킨다.결합번호각 저항기의 결합11㏀ 와 3.3㏀ 이 병렬21.5㏀ 와 3.3㏀ 이 병렬33.3㏀ 과 3.3㏀ 이 병렬41㏀, 1.5㏀, 3.3㏀ 이 병렬51.5㏀, 3.3㏀, 3.3㏀ 이 병렬63.3㏀, 3.3㏀, 22㏀ 이 병렬b) 저항 결합번호 1에서 6까지의 그 저항값을 계산하여 표 9.1이 기입한다.가변저항의 값을 돌려가며 브리지 회로에 흐르는 전류를 0이 되도록 하면 가변저항의 값은 이론적으로 단자 A-B 사이에 연결된 저항들의 합성저항과 같아야한다. 실험결과 브릿지회로에 흐르는 전류가 0일 때, 가변저항의 값이 합성저항들의 계산값들과 큰 오차 없이 거의 같았다.이번 실험에서 밀리전류계 대신 DMM으로 측정하였다. 밀리전류계보다 DMM의 최소 눈금이 더 작기 때문에, DMM으로 측정할 경우 조금 더 정확한 측정결과를 얻을 수 있다.약간의 오차가 발생하는 것을 볼 수 있다. 이는 가변저항을 돌류가 0이 되게 만드는 과정에서 정확히 0.00... 으로 맞추기 힘들다는 점과, 가변저항을 회로에서 분리하면서 미세하게 저항값이 바뀔 수 있다는 점이 작용한 것으로 보인다.오차 분석표 9.1결합번호계산값측정값10.7674kOMEGA 0.7557kOMEGA21.0312kOMEGA 1.0153kOMEGA31.6500kOMEGA 1.6282kOMEGA40.5076kOMEGA 0.5001kOMEGA50.7857kOMEGA 0.7744kOMEGA61.5348kOMEGA 1.5142OMEGA오차1.52%1.54%1.32%1.47%1.43%1.34%(1) 1㏀ 와 3.3㏀ 이 병렬(2) 1.5㏀ 와 3.3㏀ 이 병렬(3) 3.3㏀ 과 3.3㏀ 이 병렬(4) 1㏀, 1.5㏀, 3.3㏀ 이 병렬(5) 1.5㏀, 3.3㏀, 3.3㏀ 이 병렬(6) 3.3㏀, 3.3㏀, 22㏀ 이 병렬5. a) 결합번호에 따라 결합한 저항을 브리지의 단자 A-B 사이에 연결하여 실험 절차 2, 3행한 것과 같이 반복하여 각 저항값을 측정하여 표 9.1의 해당란에 기입한다.b) 측정값과 계산값이 일치하는가? 그 이유를 설명하시오.6. a) 밀리전류계의 눈금이 0~50㎂dc라면 이 브리지는 좀 더 높은 정확도를 얻을 수 있겠는가?그 이유를 설명하시오.R _{1}과R _{2}는 10kOMEGA 이고, 오차 색 띠가 금색이므로 두 저항의 오차는 ±5% 이다. 따라서 오차가 1%라면 이 브리지는 좀 더 높은 정확도를 얻을 수 있었을 것이다.b) 저항R_{ 1} 및R _{2}의 오차가 1% 라면 이 브리지는 좀 더 높은 정확도를 얻을 수 있겠는가?그 이유를 설명하시오.위에서(표9.1 오차 분석) 언급했듯이 노드 C,D사이의 전류가 정확히 0이 될 때의 가변저항 값을 잘 맞춰야하고, 회로에서 분리할때도 최대한 저항값이 변하지 않게 유지해야한다. 또한 정밀하게 조절할 수 있는 가변저항을 사용하면 더욱 정확한 실험값을 도출해낼 수 있을 것이다.c) 이 브리지의 정확도를 높이자면 가변저항R _{3}를 어떻게 하면가?7. a)R _{2}의 저항을 떼어내고R _{5}(1㏀)의 저항을 그 자리에 접속한다.b) 브리지의 단자 A-B 사이에 저항R _{5}를 접속한다.c) 저항R_{ 1}과R _{5}의 비는 얼마인가?R _{1} :R _{5} =10k OMEGA :1k OMEGA `=`10:1 이다.{10k OMEGA } over {1k OMEGA } = {1k OMEGA } over {R _{4}}를 만족해야하므로 가변저항기의 값은0.1k OMEGA 이다.d) 브리지가 평형을 이룰 때 가변저항기R _{4}의 값을 계산하여라.e) 스위치S _{1}을 닫고 브리지를 평형시킨다.f) 스위치S _{1}을 열고 저항값을 변화시키지 않은 상태로 가감저항기를 분리시켜 그 저항값을휘스톤 브리지의 특성 상 가변저항기의 저항값은0.1k OMEGA 이 되어야한다.따라서22k OMEGA 의 1/3이 될 수 없다.측정하여 기록한다. 이 값이 22㏀ 값의 1/3이 되는가?g) 전원 전압을 0으로 조정하고 전원을 끈다.[최대전력전달]1. a) 그림 9.5의 회로와 같이 직류전원, 전류계, 전자식 VOM, 저항R_{ 1} 및R _{2}, 포텐쇼미터R _{L}그리고 스위치S _{1}을 결선한다. 이 때 1㏀의 저항R_{ 1}과R _{2}를 병렬로 하는 것은 전원의내부저항R _{S}가 500Ω이 됨을 나타내고자 한 것이고, 전류계는 부하 전류를 측정하려는것이다.그림 9.5 실험 회로b) 스위치S _{1}을 열어 놓고 VOM의 저항 측정범위에서R _{L}의 저항값을 100Ω으로 조정한다.c) 전원을 넣고 전압이 5Vdc가 되도록 조정한다.d) 스위치S _{1}을 닫고 부하 전류를 측정하여 기록한다.e) 부하 전압을 측정하여 기록한다.f)P _{L} =E _{L} TIMES I _{L}의 식을 이용하여R _{L}에서 소비되는 부하 전력을 계산하여 기록한다.g) 위에서 구한I _{L},E _{L},P _{L}의 값들을 표 9.2의R _{L} =100 ohm 의 해당란에 기입한다.h) 스위치S _{1}을 개방한다{L} =5Vdc,R _{S} =500 ohmR _{L}[Ω]I _{L}[㎃dc]E _{L}[Vdc]P _{L}[㎽]1008.27610.83116.87832007.09831.435110.1863006.23351.875111.6884005.59942.188412.2545004.99312.465212.3096004.58882.649812.1597004.20642.882312.1248003.90603.042211.8839003.62803.182611.54610003.34503.301511.045100OMEGA 200OMEGA 300OMEGA전류전압100OMEGA 에서 부하전류가 가장 많이 흘렀다.I~=~ { V} over {R } 를 이용하면 부하저항이 작을수록 전류값이 커진다는 것을 알 수 있다.400OMEGA ~1000OMEGA 도 부하저항 값만 바꾸면서 DMM을 이용해 전류와 전압을 측정하였다.(300OMEGA , 500OMEGA , 600OMEGA , 700OMEGA , 800OMEGA , 900OMEGA 은 저항의 직렬/병렬 연결을 이용하여 회로를 구성하였다.)꺾은선 그래프를 보면 500OMEGA 에서 전력이 가장 높다는 것을 알 수 있다.회로 사진3. a) 어느 부하저항 값에서 부하 전류가 가장 많이 흘렀는가?b) 어느 부항 저항값에서 가장 큰 부하 전압을 얻었는가?1000OMEGA 에서 가장 큰 부하전압을 얻었다. 부하저항값이 커질수록 전압값도 비례하여 커지기 때문에 큰 부하전압을 얻을 수 있다.c) 어느 부하 저항값에서 가장 많은 전력을 소모하는가?500OMEGA 에서 가장 많은 전력을 소모한다. 전원의 내부저항R _{S}가 500OMEGA 이므로, 부하저항이 500OMEGA 일 때, 즉R _{S} =R _{TH}일 때 가장 많은 전력을 소모한다.4. a) 표 9.2에 기입한P _{L}의 값으로부터 다음의 축 설정 조건으로 전력 곡선을 그리시오.(※ X축:R _{L}(Hundreds of Ohms), Y축: Power(Milliwatts))불가능하다.x`} =` {R _{1}} over {R _{2}} *R _{s} 이고, 휘스톤브리지의 특성 상 R1 : R2 = 10K : 10K = 1 : 1 이므로R _{X} =R _{S} 이 되어야한다.R _{X}가 50kOMEGA 이 되려면 가변저항기를 50KΩ으로 돌려야 하는데, 이 실험에서는 10kOMEGA 가변저항기를 사용했으므로 측정할 수 없다.가능하다.R _{x`} =` {R _{1}} over {R _{2}} *R _{s} 이고, 휘스톤브리지의 특성 상 R1 : R2 = 10K : 1K = 10 : 1 이므로R _{X} =10R _{S} 이 되어야한다.R _{X}가 50kOMEGA 이 되려면 가변저항기를 50KΩ으로 돌려야 하는데, 이 실험에서는 10kOMEGA 가변저항기를 사용했으므로 측정 가능하다.1kOMEGA 까지 측정가능하다.R _{x`} =` {R _{1}} over {R _{2}} *R _{s} 이고, 휘스톤브리지의 특성 상 R1 : R2 = 1K : 10K= 1 : 10 이므로10R _{X} =R _{S} 이 되어야한다.R _{S} 가 10kOMEGA 까지의 가변저항기이기 때문에, 1kOMEGA 까지 측정가능하다.브리지회로로 볼 수 있다.사용될 수 있다. 평형 브리지 회로는 저항 온도 감지기(RTD)나 서미스터에 사용된다. 온도 변화에 따라 저항이 변하는 온도 센서의 종류이다.자체평가1. 그림 9.4와 같은 브리지 회로의 측정단자 A-B 사이에서 50kΩ의 저항값을 측정할 수 있는가?2. 그림 9.4에서 저항R _{2}를 1kΩ 저항으로 교체하면 측정단자 A-B에서 저항 50kΩ의 값을 측정할 수 있는가?3. 그림 9.4에서 자항R _{1}을 1kΩ 저항으로 교체한다면 측정단자 A-B에서 최대로 측정할 수 있는 저항값은 얼마인가?4. 평형 브리지회로는 온도 측정에 사용될 수 있겠는가?5. 그림 9.7은 브리지회로로 볼 수 있는가?6. 표 9.2를 참고 하여 다음의 각 부하저항에 대한 내부저항R _{s}의 전압강하를 계산하여라.R _{L} = Ω] ,
24장 FPGA를 활용한 스위치 인터페이스 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명1. a) b)스위치ON/OFF논리값LEDON/OFF논리값SW0OFF0LED1OFF0ON1ON1SW1OFF0LED2OFF0ON1ON1SW2OFF0LED3OFF0ON1ON1SW3OFF0LED4OFF0ON1ON1c) 수정된 Verilog HDL 코드NOT(~) 을 이용하여 코드 수정24장 FPGA를 활용한 스위치 인터페이스 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명2. a) 완성된 Verilog HDL 코드2_a 코드스위치ON/OFF논리값LEDON/OFF논리값S_SW1OFF0LED1OFF0ON1ON1S_SW2OFF0LED2OFF0ON1ON1S_SW3OFF0LED3OFF0ON1ON1S_SW4OFF0LED4OFF0ON1ON1b) 수정된 Verilog HDL 코드8bit로 만들어서 코드 수정24장 FPGA를 활용한 스위치 인터페이스 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명3. a) ModelSim Simulation 파형 및 동작 상태 기술 (주석으로 설명)3_a 코드testbench 코드시뮬레이션24장 FPGA를 활용한 스위치 인터페이스 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명b) 수정된 Verilog HDL 코드 (수정된 부분 주석 설명)3_b 코드24장 FPGA를 활용한 스위치 인터페이스 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명4. a) 동작 상태 기술 (주석으로 설명)4_a 코드24장 FPGA를 활용한 스위치 인터페이스 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명b) FND 출력을 위한 수정 코드 (수정된 부분 주석 설명)4_b 코드디바운싱24장 FPGA를 활용한 스위치 인터페이스 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명자체평가1)2)SPDT(Single Pole Double Throw)3)Active Low4)입력받은 신호를 D플립플랍을 통해 클락 한 주기만큼 지연시키고 not게이트를 통과시킨다. 그 신호와 원래 입력받은 신호를 AND해서 posedge를 검출할 수 있다. negedge 검출 시에는 입력 받은 신호를 NOT 게이트를 통과 시키고, 지연된 신호와 AND연산을 한다.5)동기화 회로실 험 점 수
rcnt 레지스터의 값을 검사하는 부분에서 rcnt가 500이상이면 rcnt를 0으로 리셋하고, clkout을 현재 값의 반전으로 설정한다. 테스트벤치를 작성한 후, 웨이프폼을 보면 한 사이클이10^-3s으로1 rm kHz로 나온 것을 볼 수 있다.23장 FPGA를 이용한 LED 및 FND 구동 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명1. 클럭 분주기, 4 비트 카운터, 7 세그먼트 디코더 구현a) 1 kHz 클럭 분주기 코드, 테스트벤치 코드, 모의실험 파형클럭 분주기테스트벤치웨이브폼23장 FPGA를 이용한 LED 및 FND 구동 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명b) 4 비트 카운터 검증용 테스트벤치 코드, 모의실험 파형4 비트 카운터테스트벤치웨이브폼왼쪽 코드는 클락이 상승 엣지마다 1씩 증가하는 카운터다. 500ns 주기로 clk신호를 반전시키고 clk은 CLK에, Q는 q에 연결하는 테스트 벤치를 작성했다. 웨이브폼에서 클락 입력마다 1씩 증가하는 4비트 카운터가 만들어진 것을 볼 수 있다.23장 FPGA를 이용한 LED 및 FND 구동 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명c) 7 세그먼트 디코더 코드, 테스트벤치 코드, 모의실험 파형7 세그먼트 디코더테스트벤치웨이브폼4비트 바이너리 값으로부터 각 세그먼트에 연결된 FPGT 단자를 HIGH 또는 LOW로 출력하는 디코더이다. case문을 사용하여 0~F를 표시하기 위한 7개의 출력 단자 상태를 결정했다. 웨이브폼을 보면 50ns마다 값이 바뀌고 7개의 출력 단자의 상태도 달라지는 것을 볼 수 있다.23장 FPGA를 이용한 LED 및 FND 구동 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명2. Quartus II 프로그램 사용 실습b) LED 점멸 속도 2배 빠른 코드2씩 증가시키는 방법posedge, negedge 방법c) LED1과 LED8의 점멸 속도 반전 코드비트를 역순으로 배치하는 방법3. 1 Hz 카운터 코드e) LED 출력 수정 코드countseg 코드clkdiv 코드upcnt4 코드7seg 코드LED out 코드23장 FPGA를 이용한 LED 및 FND 구동 실험 보고서실 험 일학 과학 번성 명자체평가1) DigComV32에 사용된 FPGA 소자의 family 명은 ( Cyclone ) 이다.2) clk의 상승에지를 감지하여 동기신호로 쓰기 위한 함수는 ( always(posedge mclk) )이다.3) 1Hz 신호를 만들기 위해서 클럭 신호를 ( 1MHz에서 1Hz로 )분주 하였다.4) FPGA 프로그래밍을 위해서 사용하고 있는 USB-Blaster의 모드는 ( Active Serial programming )이다.