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afm 원자현미경 SPM afm 실험 AFM 분석 AFM 사용법
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"LFM Modulation" 검색결과 1-20 / 27건

  • 자료 표지
    단일 플랫폼에서 동시 운용되는 펄스 도플러 레이다의 파형 및 변조 방식간의 간섭 분석 (Interference Analysis Among Waveforms and Modulation Methods of Concurrently Operated Pulse Doppler Radars)
    한국군사과학기술학회 김은희, 유성현, 김한생, 이기원
    논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.07.18 | 수정일 2025.07.21
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  • 자료 표지
    GSFM 펄스를 이용한 다중 수직지향각 기반 선체고정소나 능동 표적 탐지 (Multiple vertical depression-based HMS active target detection using GSFM pulse)
    한국음향학회 홍정표, 조점군, 김근환, 이균경, 윤경식
    논문 | 9페이지 | 무료 | 등록일 2025.03.10 | 수정일 2025.03.28
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  • 자료 표지
    AFM(원리, 접촉모드, 비접촉모드, 탬핑모드)
    (Repulsive force) 과 인력 (Attractive force) 작용 ※ 거리에 따라 작용하는 반데르발스 힘측정 가능한 parameter 표면 측정 LFM (Lateral ... Force Microscope) – 마찰력 분석 Force Modulation – 경도분석 ( 시료가 물렁한 부분 레버의 진폭 큼 / 크고 단단한 부분에서는 진폭 감소 ) Phase Image – 탄성 분석End.{nameOfApplication=Show}
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 11페이지 | 1,000원 | 등록일 2020.07.09 | 수정일 2020.07.11
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  • 판매자 표지 자료 표지
    화공계측실험 Pre-Report (9)-Atomic Force Microscope
    하게 이동하면서 표면을 이미지화 한다. 탐침은 cantilever라는 길쭉한 물체에 붙어 있고 이는 modulating piezo에 고정되어 있다. Modulating piezo ... 에 설치한다. PC와 모니터의 전원을 켜고 나노 소프트웨어, Nanoscope 3 controller, illuminator 를 킨다. AFM/LFM모드로 스위치를 켠다. 레이저 ... 면 image모드로 돌아간다.접촉 모드 이미징Scan control과 slow scan axis를 다시 활성화한다. 이미지와 파일명을 캡쳐한다.LFM (Lateral Force
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 7페이지 | 2,000원 | 등록일 2020.06.12
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  • 자료 표지
    Surface characterization by AFM
    ③ LFM(Lateral Force Microscope): 표면의 마찰력을 재는 원자현미경④ MFM(Magnetic Force Microscope): 자기력을 재는 원자현미경⑤ FMM ... (Force Modulation Microscope): 시료의 경도를 재는 원자현미경⑥ PDM(Phase Detection Microscope): 시료의 탄성 및 점성등을 재 ... 한다.- 접촉모드는 비접촉모드에 비해 응답속도가 빨라서 고속측정이나 고해상 원자상을 얻는데 주로 활용된다.(LFM, C-AFM, 나노lithography 기술 등)
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 5페이지 | 3,000원 | 등록일 2021.01.18 | 수정일 2023.01.12
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  • 판매자 표지 자료 표지
    AFM-발표 자료(PT)
    을 없는 대신 , 탐침이 시료에 닿을 때의 충격량이 일반적인 접촉 모드 AFM 에서의 힘보다 클 수도 있어 탐침을 빠르게 손상된다4) 이외의 SPM LFM (Lateral ... Force Microscope) : 표면의 마찰력을 재는 원자현미경 유리가 코팅된 나일론 화학용기의 표면 (5 x 5 mm) FMM (Force Modulation Microscope
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 23페이지 | 3,000원 | 등록일 2019.11.06
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  • 자료 표지
    현대물리실험-Atomic Force Microscope (원자현미경) 결과레포트
    위ing capacitance), SThM(scanning thermal), LFM(lateral force;시료표면의 마찰계수를 측정)으로 나뉜다.비접촉식 AFM은 캔틸레버 ... ), FMM(force modulation microscope), PFM(pulsed force mode;FMM의 파생기법으로서 시료의 경도와 점착성을 측정), NSOM(near ... )EFMelectrostatic force microscope(정전기력)FMMforce modulation microscopeNSOMnear field scanning optical microscope(뾰족하
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 13페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.05.30 | 수정일 2020.04.06
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  • 자료 표지
    AFM과 STM 발표자료
    Microscope)AFM (Atomic Force Microscope)MFM (Magnetic Force Microscope)LFM (Lateral Force Microscope)FMM ... (Force Modulation Microscope)EFM (Electrostatic Force Microscope)SCM (Scanning Capacitance Microscope
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 22페이지 | 3,000원 | 등록일 2016.05.30
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  • 자료 표지
    각종 현미경
    Force Microscope)3-1. Contact AFM3-2. Non-contact AFM3-3. Intermittent-contact AFM4. LFM(Lateral Force ... Microscope)5. FMM(Force Modulation Microscope)6. PDM(Phase Detection Microscope)7. MFM(Magnetic
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 64페이지 | 5,000원 | 등록일 2008.05.19
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  • 자료 표지
    [고분자 실험] Atomic Force Microscopy (AFM)
    고, LFM(Lateral Force Microscope), MFM(Magnetic Force Microscope), FMM(Force Modulation Microscope), EFM ... 고 평탄uency Modulation) 기술을 사용한다. 켄틸레버는 공기 중에서도 Q값이 매우 높기 때문에 고유 공진 주파수 근처에서는 진동시킬 때 진동의 진폭과 위상이 외부교란에 대해
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 5페이지 | 1,500원 | 등록일 2013.08.01
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  • 자료 표지
    원자 현미경
    Force Microscope), LFM(Lateral Force Microscope), FMM(Fore Modulation Microscope), EFM(Electrostatic ... 다. 표면 에너지를 낮추기 위해 원자들이 스스로 7 x 7 형태로 재구성되어 있다. 왼쪽 가장자리 부근에 원자하나가 없어진 것을 볼 수 있다. (15 x 15 nm)LFM ... (Laterntilever)가 위아래로 휘는 정도만을 측정해서 시료의 표면을 알아내는 반면에, LFM은 캔틸레버의 좌우로 휘는 정도까지 측정가능 .3. 시료 표면의 마찰 계수
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.12.07
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  • 자료 표지
    주사탐침 현미경 spm
    부도체 시료까지 측정가능이렇게 두가지가 있으며 기타 아래와 같은 종류의 현미경들이 있다.MFM(Magnetic Force Microscope)LFM(lateral Force ... Microscope)FMM(Force Modulation Microscope)EFM(Electrostatic Force Microscope)SCM(ScanningCapacitance
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 7페이지 | 1,500원 | 등록일 2013.03.18
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  • 자료 표지
    Taba의 귀납적 교수모형
    한다. 따라서 각 모듈(module)을 마치는 데는 약 2주가 정도가 소요된다.⑵ 교육목표가 설정되면 이 목표 달성을 위해 활용될 수 있는 가장 효과적인 학습방법과 자료 개발 ... (Winnetka Plan과 유사함)⑥ Bloom의 LFM(Learning for Mastery) ⇒ Carroll의 학교학습모형에 전적으로 기초함.⑦ 자율학습(self ... , ⑤ 교사 개발, ⑥ 컴퓨터의 기능 등으로 구분하여 설명할 수 있다.2) PLAN의 특징⑴ 하나의 교육목표는 2～3시간 정도 소요되는 것으로서 약 5개 정도의 목표가 하나의 모듈을 형성
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2010.06.19
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  • 자료 표지
    학습 이론을 2개 이상 조사하기
    의 모듈을 형성한다. 따라서 각 모듈(module)을 마치는 데는 약 2주가 정도가 소요된다.⑵ 교육목표가 설정되면 이 목표 달성을 위해 활용될 수 있는 가장 효과적인 학습방법과 자료 ... 함)⑥ Bloom의 LFM(Learning for Mastery) ⇒ Carroll의 학교학습모형에 전적으로 기초함.⑦ 자율학습(self-regulated(directed ... 도록 동일한 교육목표에 대해 2개 이상의 TUL가 개발된다.⑶ 학생들이 특정 모듈의 TUL를 마치게 되면, 그 모듈에 들어 있는 목표의 달성 여부를 평가한다. 모듈검사의 대답은 IBM카드
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 8페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.06.02
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  • 자료 표지
    나노기술의 정의와 이용분야 및 발전 가능성
    등을 연구하는데 LFM이 유용하게 쓰여진다.4) FMM(Force Modulation Microscope) : 시료의 경도(硬度)를재는 원자현미경Contact mode의 AFM ... 어서 이 시료의 형상을 나타내는 AFM 사진이고 오른쪽이 표면의 마찰력을 나타내는 LFM 사진으로서 이두개의 사진을 동시에 얻을 수 있다. 유리가 입혀진 부분은 마찰력이 작고(어두운 ... 성분 각도에 비례하므로 쉽게 측정될 수 있다. 이렇게 시료표면의 마찰력을 측정하는 장치가 LFM이다. 물질의 성분에 따라 마찰력이 다르므로 LFM을 사용하면 시료를 구성하는 여러
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 24페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.12.11
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  • 판매자 표지 자료 표지
    [화학과 물리화학 실험] SPM-STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope)
    (Interleave Mode), Lift Mode, 표면 전위 현미경, LFM(Lateral Force Microscope), MFM(Magnetic Force Microscope), Force ... Modulation, Phase Image, EFM(Electrostatic Force Microscope), SCM(Scanning Capacitance Microscope
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.12.27
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  • 자료 표지
    [현미경] 원자현미경
    Comparison of characteristic tools(AFM, STM, LFM and KFM)1. 원자 현미경의 발전과 중요성나노 세계를 여는 원자 현미경O 고분자 공학 ... ) 가장 널리 쓰이는 원자현미경은AFM(Atomic Force Microscope)O 그이후 MFM(Magnetic Force Microscope), LFM(Lateral Force ... Microscope), FMM(Fore Modulation Microscope), EFM(Electrostatic Force Microscope), SCM(Scanning
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 6페이지 | 2,500원 | 등록일 2004.03.07
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  • 판매자 표지 자료 표지
    [화학과 물리화학 실험] SPM-STM(Scanning Tunneling MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope)
    Mode, 인터리브 모드(Interleave Mode), Lift Mode, 표면 전위 현미경, LFM(Lateral Force Microscope), MFM(Magnetic ... Force Microscope), Force Modulation, Phase Image, EFM(Electrostatic Force Microscope), SCM(Scanning
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2009.01.21
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  • 자료 표지
    재요공학실험 ( 현미경의 종류와 원리 )
    ), 물질의 형상이외에 다른 특성들을 측정할 수 있는 MFM(Magnetic Force Microscope), LFM(lateral Force Microscope), FMM(Force ... Modulation Microscope), EFM(Electrostatic Force Microscope), SCM(Scanning Capacitance Microscope
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.07.01
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  • 자료 표지
    [경영]PSIA에 대하여..
    성,cope), 물질의 형상 이외에 다른 특성들을 측정할 수 있는 MFM(Magnetic Force Microscope), LFM(lateral Force Microscope ... ), FMM(Force Modulation Microscope), EFM(Electrostatic Force Microscope), SCM(Scanning Capacitance
    Non-Ai HUMAN
    | 리포트 | 8페이지 | 1,500원 | 등록일 2006.12.21
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