"Focused Ion Beam (FIB)"의 검색결과 입니다.

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FIB 갈륨 이온 FIB sem 분석 원자현미경 cmt 용접

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"Focused Ion Beam (FIB)" 검색결과 1-20 / 34건

FIB를 이용한 트라이보층에 대한 연구 (A Study on the Tribolayer using Focused Ion Beam (FIB))

한국트라이볼로지학회 김홍진

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.12 | 수정일 2025.05.18

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집속 이온빔을 이용한투과 전자 현미경 시편의 표면 영향에 관한 연구 (Study on Surface Damage of Specimen for Transmission Electron Microscopy(TEM) Using Focused Ion Beam(FIB))

대한전자공학회 김동식

논문 | 5페이지 | 무료 | 등록일 2025.03.18 | 수정일 2025.03.28

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FIB (Focused Ion Beam) 정리 및 발표자료 레포트

, BSE)를 이용하여 시료의 표면을 분석할 수 있음.Focused Ion Beam 진공 챔버 내의 시료에 가속 이온빔을 집중시켜 주사하는 광학 기기사용 목적1. 이온 이미지 형성입사

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 9페이지 | 4,000원 | 등록일 2020.06.01 | 수정일 2022.10.14

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EMMI(Emission Microscope)와 FIB(Focused Ion Beam)를 이용한 Thin Oxide 불량분석

한국재료학회 박진성, 이은구, 이현규, 이우선

Non-Ai HUMAN
| 논문 | 5페이지 | 4,000원 | 등록일 2016.04.02 | 수정일 2023.04.05

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FIB (Focused Ion Beam) 자료조사

FIB 에 관한 내용정리 FIB(Focused Ion Beam) 1차례 FIB(Focus Ion Beam) 의 개요 -------------------------- 3 - 광원 ... - Focus Ion Beam 의 조사 ( 照射 ) --------------------- 6 현재 시판 중인 FIB 관련 자료 -------------------------- ... -7 FIB 의 응용예 -------------------------------------------10 2FIB (Focus Ion Beam) 의 개요 Focus Ion Beam

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 12페이지 | 1,000원 | 등록일 2012.05.14

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Focused Ion Beam(FIB)와 Scanning Electron Microscope(SEM)의 비교

Focused Ion Beam(FIB)와 Scanning Electron Microscope(SEM)의 비교1. Focused Ion Beam의 소개Focused Ion Beam ... 의 이미지를 얻는데 사용을 하고, FIB는 갈륨 이온의 Focused Beam을 사용한다.갈륨을 사용하는 이유는 Liquid metal ion soruce(LMIS)를 만들기에 쉽 ... 의 정보를 전달시키거나, 몇 나노미터 사이즈의 점들로 이루어진 샘플의 이미지를 얻을 수 있다.Focused Ion Beam(FIB)는 material을 일반적인 치수(1마이크론

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 11페이지 | 1,500원 | 등록일 2006.10.22

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(특집) 포토공정 심화 정리17편. X-RAY Photo공정, FIB 공정

ration & 3D- X-ray는 회절현상이 거의 없어 복잡한 Patterning형성에 용이?< Focused Ion Beam(FIB) >??* Focused Ion Beam(FIB) ... Layout에 따라 Ion beam을 이용해 Direct 증착 / 식각?- FIB의 장단점?- FIB의 응용1) Mask(Reticle)의 Repairing ... - Ion beam : EUV, X-ray, E-Beam 보다 더 짧은 파장. 펨토미터 단위- 주로 Ga+(갈륨이온) 이온빔을 조사에 사용- Writing : Mask가 없이

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 3페이지 | 2,000원 | 등록일 2021.08.16

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2023년 한국나노기술연구원 FIB 직무 합격 자소서

1. "K라는 직원이 업무관련으로 고객과 대화를 나누고 있다, 그런데 고객은 이해가 되지 않는다고 반문을 했다." 어떻게 하면 해결할 수 있는지 본인의 의견을 서술하여 주십시오.고객에게 정확히 어느 부분이 이해되지 않는지 반문할 것입니다. 이해되지 않는다는 것은 고객과..

자기소개서 | 3페이지 | 4,000원 | 등록일 2025.01.05

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(특집) 포토공정 심화 정리16편. EBL, FIB 노광기법

- Negative resist : 항상 Tapered profile, Lift-off에 부적합??< FIB(Focused Ion Beam) >?* FIB(Focused Ion Beam) ... 에 따라 Ion beam을 이용해 Direct 증착 / 식각?* FIB의 장단점- 응용1) Mask(Reticle)의 Repairing2) IC device의 결함 검출(w/SEM) ... - Ion beam : EUV, X-ray, E-beam 보다 더 짧은 파장(펨토미터 단위)- 주로 Ga+갈륨이온 이온빔을 조사에 사용- Writing : Mask 없이 Layout

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 3페이지 | 2,000원 | 등록일 2021.08.16

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열충격에 의한 3차원 패키징용 TSV의 Cu 돌출 거동 (Effect of thermal shock on Cu extrusion of TSV for three-dimensional packaging)

대한금속·재료학회 노명훈, 이준형, 정재필, 김원중

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.06.11 | 수정일 2025.06.16

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한국나노기술원 기능직(FIB) 자기소개서

산업 발전에 기여하고 있습니다. 특히 FIB(Focused Ion Beam) 기술을 활용한 미세가공 및 분석 기술은 제가 연구 중 열정을 가졌던 분야와 밀접하게 연결됩니다. 저 ... 합니다. 입사 후에는 FIB 기술의 산업적 응용 확대와 공정 효율성 개선에 기여하고, 신기술 개발을 통해 연구원과 국내 나노기술 산업의 발전에 일조하고자 합니다. 이를 통해 국가 경쟁력 ... 원으로서 실험 설계, 데이터 분석, 장비 관리 등의 업무를 담당했습니다. 특히, 전자빔 리소그래피(EBL)와 FIB 장비를 활용한 정밀 가공 공정에서 고도의 전문성을 발휘

자기소개서 | 2페이지 | 3,000원 | 등록일 2024.12.11

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침투 공격 검출을 위한 비대칭 신호 스캐닝 기법 (Asymmetric Signal Scanning Scheme to Detect Invasive Attacks)

(사)한국스마트미디어학회 양다빈, 이가영, 이영우

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.16 | 수정일 2025.05.22

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Optimal Determination of the Fabrication Parameters in Focused Ion Beam for Milling Gold Nano Hole Array (Optimal Determination of the Fabrication Parameters in Focused Ion Beam for Milling Gold Nano Hole Array)

한국진공학회 조은별, 권희민, 이희선, 여종석

논문 | 8페이지 | 무료 | 등록일 2025.02.12 | 수정일 2025.02.15

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투과전자현미경분석용 박편 제작 시 집속이온빔에 의한 광물 손상 (Damage of Minerals in the Preparation of Thin Slice Using Focused Ion Beam for Transmission Electron Microscopy)

한국광물학회 정기영

논문 | 5페이지 | 무료 | 등록일 2025.03.18 | 수정일 2025.03.28

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집속이온빔 가공 처리된 오스테나이트 스테인리스강의 표면 손상층 제어 방법 (Effective Removal Method for Layer of FIB-Induced Surface Damage in Austenitic Stainless Steel)

대한금속·재료학회 진형하, 류이슬

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.17 | 수정일 2025.05.22

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Cu 기판위에 성장한 MgO, MgAl2O4와 MgAl2O4/MgO 박막의 집속이온빔을 이용한 스퍼터링수율 측정과 이차전자방출계수 측정 (Sputtering Yield and Secondary Electron Emission Coefficient(g) of the MgO, MgAl2O4 and MgAl2O4/MgO Thin Film Grown on the Cu Substrate by Using the Focused Ion Beam)

한국진공학회 정강원, 이혜정, 정원희, 오현주, 박철우, 최은하, 서윤호, 강승언

논문 | 무료 | 등록일 2025.05.17 | 수정일 2025.05.22

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SEM과 FIB의 원리

Electron AES EDS +FIB (Focused Ion Beam)FIB(Focused Ion Beam) What is FIB? 1 pA ~ 20 nA F ocused 6 ... nm spot size at 1 pA I on 500 V ~ 30 kV Ga + B eam 1pA to 20 nAFIB(Focused Ion Beam) Particle FIB ... -ray 0 0.7 0FIB(Focused Ion Beam) Ion vs. Electron Electrons ▷ Electrons are negative ▷ Very small

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 48페이지 | 2,500원 | 등록일 2013.06.04

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Focused Ion Beam (집속 이온 빔)

하는 이유는 Liquid Metal Ion Source 를 만들기에 쉽기 때문 Focused Ion Beams (FIB) 은 micro- 와 nano- 단위의 해석에 있어서 매우 유망 ... What is the FIBFIB (Focused Ion Beam)란Focused Ion Beam은 구조적으로 Scanning Electron Microscope 과 유사 하지 ... 만, Focused Beam을 Chanber안에 있는 샘플의 이미지를 얻는데 사용을 하는 SEM과 달리,FIB는 갈륨 이온의 Focused Beam을 사용한다. -> 갈륨을 사용

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 17페이지 | 2,000원 | 등록일 2009.05.26

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기기분석2 현미경 레포트

(Scanninnsmission Electron Microscope), FIB(Focused Ion Beam)과 같이 전자나 이온을 이용한 장치를 사용해 추측이 맞는지 물리 해석을 수행 ... Imaging)하거나 소자 절단, 연결 등 시료 표면 가공에 쓰일 수 있다.1. FIB의 원리a) LMIS(Liquid Metal Ion Source)에서 발생한 이온을 Aperture ... . FIB의 반도체 응용FIB를 이용한 기술은 회로 수정, FIB Cross Section, TEM Sampling, Ion Channeling Contrast, 3D 나노 구조

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 6페이지 | 3,000원 | 등록일 2020.08.31

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원자현미경 (Atomic Force Microscopy)

하기 위해 FIB (focused ion beam) 로 탐침의 옆면을 깎아 내서 종횡비를 높인 것이 아래그림 (b) 이다. 이 FIB 탐침은 모양이 훌륭하지만 가격이 비싸고 쉽 ... 게 부서지는 단점이 있다. 보편적인 Si 탐침 끝에 전자빔 (e-beam) 으로 탄소를 증착시켜 직경 20nm 정도의 가느다란 탄소 바늘을 형성시킨 것이 아래그림 (c) 이다. 이 탄소

Non-Ai HUMAN
| 리포트 | 18페이지 | 4,000원 | 등록일 2020.06.26

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