Focused Ion Beam(FIB)와 Scanning Electron Microscope(SEM)의 비교

소개글

FIB와 SEM의 자료를 찾아 각 장비의 소개와 사용방법들을 찾아서 적어놓은 글입니다.
레포트를 쓰시거나 공부하실때 참고 하셨으면 좋겠습니다.

목차

1. Focused ion beam의 소개
2. FIB의 구조
3. Scanning Electron Microscope의 소개
4. SEM의 Operation Construction

본문내용

1. Focused Ion Beam의 소개

Focused Ion Beam. 우리는 FIB로 알고 있는 이 장비는, Scanning Electron Microscope 와 구조는 닯았지만, SEM은 Focused Beam을 Chanber안에 있는 샘플의 이미지를 얻는데 사용을 하고, FIB는 갈륨 이온의 Focused Beam을 사용한다.
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3. Scanning Electron Microscope의 소개

Scanning Electron Microscope(SEM)는 전자(electron)를 이용하는 현미경이다.
가벼운 현미경을 사용하는 것보다 SEM을 사용하는 것이 많은 이점이 있다.
SEM은 현미경 분야에서 큰 깊이를 가진다. 많은 양의 샘플을 측정할 때에는 초점을 한번에 맞춰야 한다.
SEM은 또한 고 해상도의 이미지를 생성해 낼수 있다. 이 말은 좁은 공간에서 고배율로 물체를 관찰 할 수 있다는 뜻이다.

참고 자료

http://en.wikipedia.org/wiki/Main_Page