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afm STM 장단점 spm 실험 스핀코팅 sem 분석

"AFM(atomic force microscope)" 검색결과 201-214 / 214건

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    [자연과학]박막과 MEMS
    의 peak의 각도와 intensity가 기록되어 있다. 이것을 JCPDS 카드에서 해당하는 물질을 찾으면 된다.둘째, AFM(Atomic Force Microscope)이
    리포트 | 11페이지 | 1,000원 | 등록일 2005.06.11
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  • 자료 표지
    [나노 기술]나노 기술(프리젠테이션)
    하여 만든 IBM로고자가조립의 한 과정-리보솜3. 나노 세계의 관측법STM 과 AFMSTM(Scaning Tunneling Microscope) AFM(Atomic Force
    리포트 | 71페이지 | 1,500원 | 등록일 2005.12.05
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  • 자료 표지
    [나노] 나노 프린팅
    이 상하로 움직여야 하는데 이때의 높낮이 변화를 기록하여 시료 표면의 형상을 얻어내는 현미경이다. 주사원자현미경 (Atomic Force Microscope, AFM) 은 STM
    리포트 | 4페이지 | 1,500원 | 등록일 2003.06.11
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  • 자료 표지
    nano 나노 기술
    원자현미경 (Atomic Force Microscope, AFM) 은 STM과 유사하나 다만 다른 점은 전자의 터널링 현상 대신 시료표면의 원자나 분자와 미세 탐침간의 원자간의 작용 ... 시킨 탄소덩어리를 투과전자현미경 (Transmission Electron Microscope, TEM)으로 분석하는 과정에서 가늘고 긴 대롱 모양의 탄소나노튜브를 발견하여 Nature
    리포트 | 14페이지 | 1,000원 | 등록일 2003.12.01
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  • 자료 표지
    [나노] 분체와 나노기술의 관계
    과학이 등장한 것은 80년대 초 STM(Scanning Tunneling Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope) 주사 원자현미경이 잇달아 개발
    리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2004.03.10
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  • 자료 표지
    광학, 전자, 원자 현미경
    ) AFM(atomic force microscope) : 가장 보편적인 원자 현미경STM의 가장 큰 결점은 전기적으로 부도체인 시료는 볼 수 없다는 것인데, 이를 해결하여 원자현미경 ... 이 들쭉날쭉한 모양을 이루며 쌓여있는데 각층의 높이는 0.14nm이다.(0.75×0.75m)(3) LFM(lateral force microscope) : 표면의 마찰력을 재 ... , 히드라, 윤충같은 것들을 발견하게 되었으며, 1743년 핸리 베이커는 Solar microscope에 Camera obscura를 결합하여 제작, 발표하였습니다. 1771년 레
    리포트 | 14페이지 | 1,000원 | 등록일 2000.09.22
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  • 자료 표지
    [산업] 나노산업의 소개 및 전망
    과학이 등장한 것은 80년대 초 STM(Scanning Tunneling Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope) 주사 원자현미경이 잇달아 개발
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2002.05.22
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  • 자료 표지
    미래 산업
    Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)을 포함하는 원자현미경(Scanning Probe Microscope)이다. '원자는 너무 작아서 아무리 좋
    리포트 | 20페이지 | 1,000원 | 등록일 2003.06.05
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  • 자료 표지
    [나노] 나노
    은 80년대 초 STM(Scanning Tunneling Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope) 주사 원자현미경이 잇달아 개발되면서 부터이
    리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2002.10.25
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  • 자료 표지
    신소재 나노튜브합성과 응용
    (Scanning Tunneling Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)을 포함하는 원자현미경(Scanning Probe Microscope
    리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2003.03.24
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  • 자료 표지
    나노란?
    는데 이때의 높낮이 변화를 기록하여 시료 표면의 형상을 얻어내는 현미경이다. 주사원자현미경 (Atomic Force Microscope, AFM) 은 STM과 유사하나 다만 다른 점 ... 으로 Terabit DRAM의 등장을 기대해 볼 수도 있다. 탄소나노튜브의 우수한 전기전도도와 기계적 강도를 이용하면 위에서 언급한 STM 및 AFM의 미세탐침으로도 사용할 수 있다. 현재 AFM
    리포트 | 18페이지 | 3,000원 | 등록일 2002.05.29
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  • 자료 표지
    [화학] 나노 기술
    Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope) 주사 원자현미경이 잇달아 개발되면서부터 이다. 주사현미경의 개발 이후, 분자나 고체의 구조를 눈으로 직접 관측할 수 있
    리포트 | 7페이지 | 1,500원 | 등록일 2002.12.09
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  • 자료 표지
    [신소재]나노 기술
    Force Microscope, AFM) 은 STM과 유사하나 다만 다른 점은 전자의 터널링 현상 대신 시료표면의 원자나 분자와 미세 탐침간의 원자간의 작용하는 미세한 힘의 작용 ... 전류를 일정하게 유지하려면 시료의 형상에 따라 탐침이 상하로 움직여야 하는데 이때의 높낮이 변화를 기록하여 시료 표면의 형상을 얻어내는 현미경이다. 주사원자현미경 (Atomic ... 하다. 가 전기방전법을 사용하여 흑연 음극상에 형성시킨 탄소덩어리를 투과전자현미경 (Transmission Electron Microscope, TEM)으로 분석하는 과정에서 가늘고 긴
    리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2002.07.04
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  • 자료 표지
    [화학 공학] Nano Technology(나노 기술)
    표면의 형상을 얻어내는 현미경이다. 주사원자현미경 (Atomic Force Microscope, AFM) 은 STM과 유사하나 다만 다른 점은 전자의 터널링 현상 대신 시료표면
    리포트 | 62페이지 | 1,500원 | 등록일 2002.12.18
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