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afm STM 장단점 spm 실험 스핀코팅 sem 분석

"AFM(atomic force microscope)" 검색결과 161-180 / 214건

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    [원자론]SPM 원자현미경에 대하여
    Binning, Roher 노벨 물리학상 수상)* Atomic Force MicroScope(AFM)은 IBM이 주도한 공동연구에서 Binning과 Gerber에 의해 1986년 ... MicroScope)과 AFM(Atomic Force MicroScope 을 포함하는 주사탐침현미경 (Scanning Probe MicroScope)이다.원자는 그 크기(0.1～0.5nm ... 는 물론 단면도, 입체도 및 각종 통계자료를 얻을 수 있다.STM의 원리 구조도AFM(Atomic Force Microscope)이란?STM의 가장 큰 결점은 전기적으로 부도체인 시료
    리포트 | 25페이지 | 1,500원 | 등록일 2004.11.27
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  • 자료 표지
    공주대 반도체제조공정 중간고사 족보
    에 균일하게 발라주고 말리면 고체 상태의 것을 물리적인 방법.▶분석장비0.sem1.sims(secondary ion massspectrometry):3.afm(atomic force ... microscope)4.aes(auger electron spectroscopy)5.xps(x-ray phtoelectron spectronscopy)6.tem ... 핀홀및voids감소,낮은 공정온도에 따른 낮은 막응력▶ald(atomic layer deposition):[장점:CVD 대비 저온 공정 가능 & 우수한 step coverage
    시험자료 | 2페이지 | 1,500원 | 등록일 2011.11.08
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  • 자료 표지
    현미경 (생물실험 보고서)
    를 각종 검출기로 감지하여, 브라운관의 밝기로 변조시켜, 시료의 표면 형태 및 조성에 대한 각각의 영상들을 얻어 출력할 수 있다.3. 원자현미경(AFM, Atomic Force ... Microscope)유리렌즈를 사용하며, 광원은 가시광선을 이용한다. 따라서 칼라로 관찰이 가능하다.광학현미경은 세부적으로 여러 개로 나눌 수 있다. 이에 대해서 좀 더 알아보면 다음과 같 ... 다.(1) 일반광학현미경(light or bright-field microscope)대물렌즈로 1차 확대상을 대물렌즈로 2차 확대상을 만든다.(2) 위상차현미경(phase c
    리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2007.07.23
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    Report♪<나노물질>나노물질의 개념 및 특징
    하고 제어하는데 필요한 장비를 제작하고 활용하는 기술영역: AFM(Atomic Force Microscope, 원자힘 현미경), STM(Scanning Tunneling ... Microscope, 주사통과현미경) 등이 있다.나노구조체를 제조(합성)하는 기술 영역bottom up 방식: 소형화top down 방식: 원자 및 분자 제어, 자기조합 및 합성나노기술의 활용
    리포트 | 3페이지 | 5,000원 | 등록일 2008.04.16 | 수정일 2015.01.23
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  • 자료 표지
    [전자현미경]AFM
    목 차AFM 개념 AFM 원리 Instrument AFM 측정모드 AFM 이미지 AFM 장ㆍ단점AFM 개념Atomic Force Microscope의 약자로서, 원자 지름의 수 ... 십분의 1까지 측정할 수 있는 현미경 전자현미경(SEM)의 배율이 최고 수십 만 배인데 비해 원자현미경의 배율은 최고 수천만 배로서, 개개의 원자를 관찰할 수 있음.AFM 원리 ... 기 어려움 Tapping Mode - sample의 손상 없이 최고 해상도의 선명한 이미지를 얻을 수 있음AFM 이미지(1)Epitaxial Si (0.75*0.75μm) h=0.14
    리포트 | 9페이지 | 1,500원 | 등록일 2005.05.25
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  • 자료 표지
    Plasma (RF Sputtering) / Working pressure / Oxygen partial pressure / XRD / SEM / AFM / TEM
    을 주사현미경으로 관찰한 사진 (bar means : 10 μm)>6. AFMA. Theory (simple)- AFM이란 Atomic Force Microscope의 약자로, STM ... Tunneling Microscope의 약자로, 10^-3 Pa 이상의 진공 중에 놓여있는 시료 표면을 1~100nm 정도의 미세한 전자선으로 x-y의 이차원방향으로 주사하여 시료
    리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2007.12.23
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  • 자료 표지
    현미경 (광학현미경,전자현미경,원자현미경)
    되고 있으며 생활과학 분야 및 신소재, 신기능소자의 개발에 불가결한 장치 이다.원자현미경 (AFM, atomic force microscope)광학현미경과 전자현미경에 이어 개발된 제3 ... 과 전자현미경의 차이점 >< 참고문헌 >< 현미경의 원리와 특징 및 용도 >광학현미경 (LM, Light microscope)표본에 빛을 비추어 그 표본을 통과한 빛이 대물렌즈에 의해 ... 하다.? 위상차현미경(phase contrast microscope)굴절률의 차이를 이용하여 표본(시료)를 관찰하는 방법으로 염색되지 않은 살아있는 세포를 관찰하는데 유용하나 굴절률이 낮
    리포트 | 8페이지 | 1,000원 | 등록일 2007.04.13
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    [생물실험] 현미경
    현미경에서는 컬러상을 관찰할 수 없고 흑백상을 관찰하게 된다.3) 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope) : 오디오 기기 중에서 CDP가 나오기 전 ... microscope은 광학현미경과 그 원리가 비슷하다.전자현미경에서의 광원은 높은 진공 상태(1x10-4 이상)에서 고속으로 가속되는 전자선이다. 전자선이 표본을 투과하여 일련의 전기 ... 현미경 scanning electron microscope(SEM)은 보다 최근에 개발되었으며 투과전자현미경과는 다소 다르다.주사전자현미경은 전자가 표본을 통과하는 것이 아니라 초점
    리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.03.18
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  • 자료 표지
    [화학] SPM
    ○ STM(Scanning Tunneling Microscope) : 원자현미경 계열 중 처음으로 등장.○ AFM(Atomic Force Microscope) : 부도체 시료 ... 의 측정을 가능케 함.○ MFM(Magnetic Force Microscope), ○ LFM(lateral Force Microscope)○ FMM(Force Modulation ... Microscope), ○ EFM(Electrostatic Force Microscope)○ SCM(Scanning Capacitance Microscope), ○ EC-SPM
    리포트 | 22페이지 | 3,000원 | 등록일 2004.12.05
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  • 자료 표지
    No.49 미세구조분석 & 광을 이용한 성분분석
    ( Atomic Force Microscope )1) AFM의 원리 : 재료표면의 원자와 탐침 끝의 원자 간의 반데르발스 힘에 의한미세한 힘을 감지하여 표면을 분석2) 얻을 수 있 ... ( Transmission Electron Microscope , TEM )2) 주사 전자 현미경 ( Scanning Electron Microscope , STM) : 표면형상 관찰3 ... ) 분석 전자 현미경 : 시료로부터 생기는 X선 또는 비탄성 산란분자 분석4) 주사 투과 현미경 ( Scanning Transmission Electron Microscope
    리포트 | 9페이지 | 3,000원 | 등록일 2007.12.24
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  • 자료 표지
    [나노 테크놀로지] Nanoparticle의 self-assembly(나노 파티클의 셀프 어셈블리)
    때까지 기다린다. 4. AFM으로 이미지를 확인한다.Atomic Force Microscope ( AFM )가장 보편적인 원자현미경 시료와 Tip(cantilever)사이 ... ScannerPiezoPhotodiodeLaserImageAtomic Force Microscope ( AFM )Spin coater주로 박막(Thin Film)을 만들기 위한 장치입니다. 스핀 코터란 말 그대로
    리포트 | 17페이지 | 1,500원 | 등록일 2005.09.13
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    전자현미경의 발달사, 종류 그리고 응용범위
    △ 광학현미경(LM, Light Microscope)△ 전자현미경(EM, Electron Microscope)△ 원자현미경(AFM, Atomic Force Microscope)1 ... : Johannes Faber(이탈리아)가 Microscope(Microscopium)란 용어 명명1660 : Antonie van Leeuwenhoek(네덜란드) 가 단순 현미경 발명 ... ) 광학현미경유리렌즈를 사용하며, 광원(빛)은 가시광선을 이용한다. 따라서 칼라로 관찰이 가능하다.가. 일반광학현미경(light or bright-field microscope)이미
    리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.12.16
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  • 자료 표지
    STM
    을 가능하도록 해준 기자재 중 가장 핵심적인 역할을 해온 것이 STM (Scanning Tunneling Microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)이 ... STM (Scanning tunneling microscope)Nano technology의 발전은 작은 원자의 세계를 볼 수 있는 능력이 발전하면서 가속화되어 왔는데, 그 것 ... 라는 기계이다. 이 둘을 통칭하여 SPM(Scanning Probe Microscope)라고 부른다. 이들 기자재를 이용하면 물질 표면에 있는 원자들의 모양을 볼 수 있는데, 그
    리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.10.18
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    세포의 관찰
    고 흑백 상으로 관찰하게 된다.③원자 현미경(AFM, Atomic Force Microscope) : 원자현미경은 표본의 표면을 캔틸레버 라고 불리는 작은 막대가 주사를 하면, 이 ... 다을 이용한다. 따라서 칼라로 관찰이 가능하다.가. 일반 광학 현미경(light or bright-field microscope)대물렌즈로 1차 확대 상을 대물렌즈로 2차 확대 상 ... 을 만든다.나. 위상차 현미경(phase contrast microscope)굴절률의 차이를 이용하여 표본(시료)을 관찰하는 방법으로 염색되지 않은 살아있는 세포 를 관찰하는데
    리포트 | 13페이지 | 1,500원 | 등록일 2006.11.29
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  • 자료 표지
    [현미경] 원자현미경
    ) 가장 널리 쓰이는 원자현미경은AFM(Atomic Force Microscope)O 그이후 MFM(Magnetic Force Microscope), LFM(Lateral Force ... 거나 물질 표면을 원자단 위로 변형 시켜서 글자를 쓰는 등 첨단 기술에 사용2.원자 현미경의 종류에 따른 특성AFM (Atomic Force Microscope)1. AFM에서 바늘 ... Microscope), FMM(Fore Modulation Microscope), EFM(Electrostatic Force Microscope), SCM(Scanning
    리포트 | 6페이지 | 2,500원 | 등록일 2004.03.07
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  • 자료 표지
    [생물학실험] 현미경의 종류와 구조
    하고, 광원은 가시광선 대신에 파장이 짧은 전자를 이용한다. 따라서 전자현미경에서는 컬러상을 관찰할 수 없고 흑백상을 관찰하게 된다.3) 원자현미경(AFM, Atomic Force ... 현미경 사용법1. INTRODUCTION(1) 현미경의 종류1) 광학현미경(LM, Light Microscope) : 유리렌즈를 사용하며, 광원(빛)은 가시광선을 이용 ... 한다. 따라서 칼라로 관찰이 가능하다.가. 일반광학현미경(light or bright-field microscope)대물렌즈로 1차 확대상을 대물렌즈로 2차 확대상을 만든다.나. 위상차현미경
    리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2005.04.16
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  • 자료 표지
    나노기술에 대해서.
    )을 측정?분석하고 제어하는데 필요한 장비를 제작하고 활용하는 기술영역: AFM(Atomic Force Microscope, 원자힘 현미경), STM(Scanning ... Tunneling Microscope, 주사통과현미경) 등이 있다.나노구조체를 제조(합성)하는 기술 영역bottom up 방식: 소형화top down 방식: 원자 및 분자 제어, 자기조합 및
    리포트 | 7페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.12.08
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  • 자료 표지
    미세구조분석
    과 마이크로톰표본자르는 도구전자자계렌즈광학렌즈(유리)렌 즈진공대기중조명매체전자빔(전자광선)가시광선광 원전자현미경광학현미경4. 원자현미경 (AFM, Atomic Force ... Microscope)원자현미경 (AFM)정 의 날카로운 탐침(Tip)이 시료표면에 수Å (1Å=10-10m) 이내로 접근할 때 작용하는 원자력에 의한 캔틸리버의 굽힘을 측정하여 피드백 제어 ... 미세구조 분석SEM TEM AFM 조사 및 작성: 8조목 차1. 조원소개 2. 이론적 배경 3. 미세구조 분석과 기기 4. 주사전자현미경(SEM) 5. 투과전자현미경(TEM) 6
    리포트 | 53페이지 | 2,000원 | 등록일 2005.06.18
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  • 자료 표지
    MEMS란
    (Atomic Force Microscope)이나 STM(Scanning Tunneling Microscope) 등과 같이 미소 탐침을 이용한 시스템에 있어서 마이크로 및 나노 크 ... 여 분출된다. 또한, 실리콘 기판 위에 표면 미세 가공을 적용하여 광에 대한 셔터와 미러 등을 구성한 일례로서 광통신을 위한 광의 전달과 경로 제공 등의 역할을 한다.이와 함께 AFM
    리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2007.01.08
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  • 자료 표지
    원자현미경(spm)
    구조도AFM(Atomic Force Microscope)이란?STM의 가장 큰 결점은 전기적으로 부도체인 시료는 볼 수 없다는 것인데, 이를 해결하여 원자현미경을 한층 유용 ... .01nm)까지도 측정해낼 수 있다.SPM의 종류○ STM(Scanning Tunneling Microscope) : 원자현미경 계열 중 처음으로 등장.○ AFM(Atomic ... 원자현미경의 Nano-Force의 절대값 측정에 관한 연구지도 교수 : 권현규 교수님논문 연구 : 진재식SPM이란?SPM은 Scanning Probe Microscope의 약자
    리포트 | 25페이지 | 6,500원 | 등록일 2003.05.28 | 수정일 2016.04.05
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