"AFM(atomic force microscope)"의 검색결과 입니다.

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afm STM 장단점 spm 실험 스핀코팅 sem 분석

"AFM(atomic force microscope)" 검색결과 41-60 / 214건

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현미경 미세조직관찰보고서

) 원자 현미경 (AFM, atomic force microscope)칸틸레버라고 불리는 작은 막대가 시편의 표면을 주사하면, 이 때 칸틸레버 끝에 붙어있는 탐침이 시료표면 ... 의 종류1-1) 광학현미경 (LM, light microscope)유리렌즈를 사용하여, 광원 (빛)은 가시광선을 이용하며, 컬러로 관찰 가능하다. 미세구조를 관찰하기 위해 광학

리포트 | 27페이지 | 4,000원 | 등록일 2022.05.09

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지르코니아와 상호작용하는 금 표면 위의 메르캡토파이러빅산층 표면 물성 (Surface Properties of Mercaptopyruvic-acid Layer Formed on Gold Surfaces Interacting with ZrO2)

한국청정기술학회 박진원

논문 | 6페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.17 | 수정일 2025.05.22

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미생물학 필기 (OT)

레이저 현미경으로 3차원 구조를 형상화함2.4 세포구조의 규명: 전자현미경투과 전자현미경과 주사 전자현미경 두 가지 형태 존재AFM(atomic force microscope

리포트 | 9페이지 | 1,000원 | 등록일 2022.07.04

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표면 윤활 물질에 의한 인공 고관절 코발트-크롬 대퇴골두의 마찰 및 윤활 반응 (The Tribological and Lubrication Responses of a Cobalt-Chromium Femoral Head in Total Hip Arthroplasty)

대한고관절학회 박성훈, Duong Cong Truyen, 이재훈, 조윤호, 박승재, 박근민, 장준동, 이상수

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.03.20 | 수정일 2025.03.28

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X-선 이용을 위한 CNT 합성 및 분석 (Growth and properties of carbon nanotubes for field emission x-ray source)

ombination of atomic force microscop (AFM), scanning electron microscop (SEM), and transmission electron ... sec로 줄어들수록 CNT의 평균 벽수는 줄어든다. AFM (atomicforce microscope), SEM (scanning electron microscope), TEM ... (transmission electron microscope) 측정에 의한 결과는 기판 위 CNT합성과정에서 금속촉매 입자의 표면분포의 결정적인 증거가 된다.CNT합성은 열화학기상합

논문 | 5페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.23 | 수정일 2025.05.26

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현대물리실험-Atomic Force Microscope (원자현미경) 결과레포트

Atomic Force Microscope(원자현미경)실험9_결과레포트2017-2현대물리학실험1. 실제실험방법[실험장치 소개]기본적으로, 이번실험 Atomic Force ... 의 표에서 비교했는데, 타 현미경과 비교했을 때 AFM의 우수성을 알 수 있다.AFMSEM(주사전자현미경)TEM(transmission electron microscope)샘플 전 ... 위ing capacitance), SThM(scanning thermal), LFM(lateral force;시료표면의 마찰계수를 측정)으로 나뉜다.비접촉식 AFM은 캔틸레버

리포트 | 13페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.05.30 | 수정일 2020.04.06

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HVPE 방법에 의해 성장된 graded AlGaN 에피층의 특성 (Characterizations of graded AlGaN epilayer grown by HVPE)

(FE-SEM) and energy dispersive spectroscopy (EDS). From the result of atomic force microscope (AFM ... 과 EDS 측정으로부터 성장층의 Al 변화를 확인하였으며, AFM 측정결과 2인치 기판위에 성장된 graded AlGaN 에피층의 거칠기는 수십 nm였다. Al 조성의 변화는 XRD 측정 ... /hour. The changing of Al contentes was investigated by field emission scanning electron microscope

논문 | 6페이지 | 무료 | 등록일 2025.06.04 | 수정일 2025.06.06

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Surface characteristics of plasma electrolytic oxidized Ti-mesh for dental use (Surface characteristics of plasma electrolytic oxidized Ti-mesh for dental use)

, atomic force microscopy (AFM), and nanoindentation tester.PEO-treated Ti-mesh in solution containing ... pectroscopy, atomic force microscopy (AFM), and nanoindentation tester. PEO-treated Ti-mesh in solution ... -ray diffraction, field-emission scanning electron microscope, energy dispersive X-ray spectroscopy

논문 | 14페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.29 | 수정일 2025.06.04

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AFM-발표 자료(PT)

된다 . 5) STM 단점 AFM2. AFM 이란 ?1) AFM (Atomic Force Microscope) STM(Scanning Tunneling Microcopy) 의 문제점 ... (Atomic Force Microscope) 을 통칭하여 부르는 용어 . 날카로운 탐침 (Probe or Tip) 이 표면에 수 Å 이내로 접근하여 Scanning2 ) 분석방법 ... 이었던 Binning, Roher , Gerber 와 Weibel 에 의해 1982 년에 개발 정의 : STM (Scanning Tunneling Microscope) 과 AFM

리포트 | 23페이지 | 3,000원 | 등록일 2019.11.06

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텅스텐 기판위에 구리 무전해 도금에 대한 연구 (A Study of Copper Electroless Deposition on Tungsten Substrate)

econdary electron microscope (FESEM), Atomic force microscope (AFM), X-ray photoelectron spectroscope (XPS ... 형 모양으로 변하였다. 순수 구리의 도금을 위해서는 도금 용액에서 적당한 pH를 유지하여야 한다. 도금된 구리의 농도는 RBS로 측정한 결과 99 atom％였다. 또한, Cu/W ... orientation of Cu in electroless deposition. The deposited copper concentration was 99 atomic percent

논문 | 8페이지 | 무료 | 등록일 2025.06.03 | 수정일 2025.06.06

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[나노측정 및 표면 분광학 시험 족보] A+ 학점 취득 확정

, 접착, 크립 및 마찰 등을계산한다.응용 분야로는 질화티타늄 코팅 점검,금속 결합의 안정성 점검, 박막 접착 성공 유무 점검 등이 있다.CHAPTER 2-2 Atomic Force ... the로 미세구조에 대한 측정이 가능하지만,SEM은 미세구조에 대한 측정이 힘들다.TEM의 샘플은 FIB를 통해서 쉽게 만들 수 있다.Probe microscope는 Electron ... microscope에 비해1. 수평방향으로 2~3ANGSTROM 의 분해능을, 수직방향으로 0.1ANGSTROM 의 분해능을 가진다.2. 3차원의 양적 정보를 알 수 있다.3

시험자료 | 30페이지 | 2,000원 | 등록일 2019.10.16 | 수정일 2019.10.22

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재료분석학 Report-재료분석기기 및 분석원리

Tunneling Microscope) 주사 터널링 현미경(2) AFM (Atomic Force Microscope) 원자간력(3) EFM (Electrostatic Force ... Spectroscopy) 오제이 전자 현미경3) STM / AFM / EFMSPM (Scanning Probe MicroScope) 주사 탐침 현미경(1) STM (Scanning ... 원소를 구분해 낼 수 있다.3) STM / AFM / EFMSPM (Scanning Probe MicroScope) 주사 탐침 현미경원자는 그 크기(0.1∼0.5nm)가 너무 작

리포트 | 11페이지 | 3,000원 | 등록일 2020.04.21 | 수정일 2020.04.23

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Atomic force microscopy 결과보고서

의공학 실습Atomic force microscopyAbstract나노미터 단위의 분해능을 가진 원자력 현미경(AFM)은 생물 세포의 기능적 구성요소를 관찰, 조작, 탐구 ... 모멘트가 발생하여 일어나는 효과이다. 기계적인 힘이 가해지면 편극이 일어나 쌍극자 모멘트의 방향이 바뀌어서 발생하게 된다.MaterialsAFM (Atomic Force ... 은 국소전자구조를 알아내는 쓰인다. 시료표면의 마찰계수를 측정하는 LFM(Lateral Force Microscopy)이 있으며 접촉식 AFM에 온도센서, 전기용량센서를 부착

리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2018.05.06

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5 AFM

다. SPM의 종류로 STM(Scanning Tunneling Microscope), AFM(Atomic Force Microscope) 등이 있다. STM의 가장 큰 결점은 전기 ... Ⅰ. INTRODUCTION SPM(Scanning Probe Microscope)은 물질의 표면 특성을 원자 단위까지 측정할 수 있는 현미경을 총칭한다. 원자현미경의 배율 ... 적 으로 부도체인 시료를 볼 수 없다는 것인데, 이를 해결한 것이 AFM이다. Figure 1과 Figure 2는 AFM의 구조를 나타낸 그림이다. AFM에서는 마이크로머시닝 으로 제조

리포트 | 10페이지 | 3,000원 | 등록일 2018.04.03

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신소재공학과 디스플레이 표면실험

차원 혹은 3차원 영상을 얻을 수 있다.1-1)원자간력 현미경 (原子間力顯微鏡, Atomic Force Microscope, AFM)은 주사 프로브 현미경 (Scanning ... Probe Microscope, SPM)의 한 종류이다. 이름대로, 실험시료와 탐침의 원자 사이에 작용하는 반데르발스힘 을 검출하여 이미지를 얻는다.원자 사이에 작용하는 힘은 모든 물질

리포트 | 4페이지 | 1,000원 | 등록일 2020.03.28

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표면/원소/전기적특성/광학 분석 장비 (AFM, SEM, TEM, FT-IR, XPS/UPS, Raman, CV, PL, Impedance, UV, Reflectance, Transmittance)

electrons의 detect를 통해 이미지를 얻는 방법을 사용하고 있습니다.2) Scanning probe microscopy(AFM)반면 AFM은 Atomic force ... 을 가지고 있으며 lateral resolution은 0.1-3.0nm, vertical resolution은 0.01nm로 알려져 있습니다. AFM은 atomic force를 사용 ... Study & Explain Analysis & Measurement1. Surface Morphology: AFM, SEM, TEM1) Electron Microscopy

리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2019.08.21

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AFM과 STM 발표자료

Microscope)AFM (Atomic Force Microscope)MFM (Magnetic Force Microscope)LFM (Lateral Force Microscope)FMM ... Microscope and AFM is atomic force microscope.And Standard classification are shape of probes. And ... (Atomic Force Microscope)2/22..PAGE:3What is the SPM?SPM (Scanning Probe Microscopes)- For studying

리포트 | 22페이지 | 3,000원 | 등록일 2016.05.30

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Nanofabrication by Polymer Self-assembly

ratio, 구성요소에 따라 band가 달라진다.What information can you get from the AFM and SEM investigations?AFM은 atomic ... force microscope의 약자로 탐침을 통해 시료 표면에 원자 단위의 미세한 크기까지 근접시켜 표면의 원자 구조와 형태를 측정하는 현미경이다. SEM은 scanning ... electron microscope의 약자로 집중적인 전자 빔을 주사하여 표본을 얻는 것으로 AFM과 마찬가지로 표면 구성에 대한 정보를 얻을 수 있다.Give an example

리포트 | 9페이지 | 2,000원 | 등록일 2019.05.12

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Surface characterization by AFM 예비 실험보고서

1. 실험제목Surface characterization by AFM2. 실험목적Atomic Force Microscope의 원리에 대해 이해하고 이를 통해 표면을 분석해본다.3 ... 접촉 모드에 분류할 것인지 학자들 사이에서 의견이 분분하다.? Atomic Force Microscope(AFM)의 원리AFM은 탐침 끝의 원자와 시료 표면의 원자들 사이에 작용 ... 하고 제작하는 기능, 다양한 물리적 특성을 분석하는 기능을 지닌 종합적인 나노측정기술로 발전하고 있다.[그림.1] SPM장치의 개요? 원자간력 현미경(Atomic Force

리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2016.04.15

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액상 레이저 기화법 사전보고서

, Atomic Force Microscope)주사형탐침현미경의 일종으로 예리한 탐침으로 시료표면을 주사하여 그 탐침으로 작용하는 위치함수로서 취득할 수 있는 상을 얻는 현미경이다. 첨단경 ... 조에 따라 상의 대조를 얻어낼 수 있다.② 주사형 터널 현미경 (STM, Scanning Tunneling Microscope)선단이 예리한 심침(칩)을 시료 표면에 접근시켜(약 ... 을 충분히 차단함으로써 시료 표면의 요철, 경우에 따라서는 원자상을 관찰할 수 있다. 또한 STM 이미지를 통해 전자의 파동성을 관찰할 수 있다.③ 원자간력현미경 (AFM

리포트 | 7페이지 | 1,500원 | 등록일 2020.06.01

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