현미경조사

소개

1. 광학현미경

유리렌즈를 사용하며, 광원(빛)은 가시광선을 이용한다. 따라서 칼라로 관찰이 가능하다.

가. 일반광학현미경(light or bright-field microscope)

광원으로부터 나오는 빛을 집속렌즈가 빛을 모아서 시료에 조사하면 대물렌즈에서 일차확대상을 만든후 대안렌즈에서 최종 배율(확대된상)을 결정하여 눈으로 관찰할 수 있게된다.
대안렌즈는 대개 10배의 배율을 갖고, 대물렌즈는 보통 4, 10, 25, 40, 100배 렌즈중에서 선택을 할수 있으므로 만일 10배의 대물렌즈로 시료를 관찰한다면 최종 관찰배율은 10x10=100 즉 100배의 배율이 된다.

나. 위상차현미경(phase contrast microscope)

굴절률의 차이를 이용하여 표본(시료)를 관찰하는 방법으로 염색되지 않은 살아있는 세포를 관찰하는데 유용하나 굴절률이 낮은 일반 염색된 시료에는 부적합하다.

다. 간섭현미경(interference microscope)

물체가 빛을 지연시키는 현상을 이용하여, 표본을 투과한 물체광에 광원에서 분리된 간섭광을 겹치게 하여 광파장에 대한 간섭현상으로 투명한 표본에서도 그 구조가 뚜렷이 나타나게하는 원리를 이용.

목차

1. 광학현미경
2. 전자현미경
3. 원자현미경

본문내용

전자현미경의 종류

전자빔이 물질에 입사되면 여러 가지 현상이 발생하여 여러 가지 전자들이 시료에서 방출되며 이들을 활용하는 다양한 방법들이 있다.

SEM (Scanning Electronic Microscopy, 주사형 전자현미경)

10-3Pa이상의 진공 중에 놓여진 시료표면을 1-100nm 정도의 미세한 전자선으로 x-y의 이차원방향으로 주사하여 시료표면에서 발생하는 2차 전자, 반사전자, 투과전자, 가시광, 적외선, X선, 내부 기전력 등의 신호를 검출하여 음극선관(브라운관) 화면상에 확대화상을 표시하거나 기록하여 시료의 형태, 미세구조의 관찰이나 구성원소의 분포, 정성, 정량 등의 분석하는 장치이다. 주로 금속 등 도체, IC, 산화물 등 반도체, 고분자 재료나 세라믹 등 절연물의 고체, 분말, 박막시료가 표본이 된다.

자기장형 렌즈를 이용하여 전자빔을 가늘게 집속하며, 이를 시료면 위를 주사함으로써 발생하는 2차전자를 검출 및 증폭하여 브라운관의 그리드에 넣는다. 2차전자의 양은 표면의 물질과 표면의 굴곡에 따르기 때문에 텔레비전과 비슷한 원리에 의해서 형광면 위에 확대상을 얻을 수 있다. 배율은 시료면 위와 형광면 위의 주사 진폭의 비로 정해진다. SEM의 분해능은 전자빔을 가늘게 만들수록 높아지는데 보통은 10㎚ 정도로 쓰이며 TEM을 따라가지는 못한다. 그러나 TEM보다 시료기술이 쉬운 데다가 복잡한 표면을 입체적으로 볼 수 있다는 특징이 있다.
TEM (Transmittance Electronic Microscopy, 투사형 전자현미경)

TEM은 필라멘트에서 나온 전자를 약 10만V로 가속하여 양극의 구멍을 빠져 나온 전자빔을 묶어 모아 얇은 조각으로 자른 시료에 조사한다. 그 상을 전자렌즈로 차례차례 확대하여(대물·중간·투영의 3단 렌즈) 마지막 단계의 상을 형광판에서 관찰하고 카메라로 찍는다. 전자빔의 통로는 물론 모두 진공으로 되어 있다. 직류전류를 조절하면 렌즈의 세기(초점거리)가 달라진다. 광학렌즈는 세기가 일정하기 때문에 핀트를 맞추려면 렌즈를 이동시키지만 전자 렌즈의 경우에는 위치는 고정시켜 놓고 전류를 조절함으로써 초점을 맞춘다.

참고자료

· 없음