현미경조직관찰

소개

현미경 조직 관찰 레포트입니다..
SEM에대한 자세한 설명있구요..
조직관찰에 대해 자세한설명 되어있습니다.

목차

1. 서 론

2. 이 론 Ⅰ
(1) SEM의 원리
(2) SEM의 특징
(3) SEM의 용도
(4) SEM의 구조

3. 이 론 Ⅱ
(1) 시편의 준비
(2) 시편의 부식
(3) 철강 및 주철용 부식제
(4) 비철금속용 부식제

4. 결 론

5. 참고문헌

본문내용

1. 서 론
금속의 현미경 시험은 내부조직을 알아내는 데 가장 편리한 방법으로 널리 사용되고 있다. 이 방법은 시편을 잘 연마하여 그 표면이 거울면과 같이 매끈하게 된 것을 적당한 부식제로 부식시켜 조직을 보기 쉽게 만들고, 금속 현미경으로 보아서 그 조직을 알아내는 방법이다.
2. 이 론 Ⅰ
(1) SEM의 원리
SEM 이란 10-3Pa이상의 진공 중에 놓여진 시료표면을 1-100nm정도의 미세한 전자선 으로 x-y의 이차원방향으로 주사하여 시료표면에서 발생하는 2차 전자, 반사전자, 투과전자, 가시광, 적외선, X선, 내부기전력 등의 신호를 검출하여 음극선관(브라운관) 화면상에 확대화상을 표시하거나 기록하여 시료의 형태, 미세구조의 관찰이나 구성원소의 분포, 정성, 정량 등의 분석을 행하는 장치이다.
주로 금속 등의 도체, IC, 산화물 등의 반도체, 고분자 재료나 세라믹 등의 절연물의 고체, 분말, 박막시료가 표본이 된다. 주로 2차 전자가 시료의 형태관찰, 반사전자나 X선이 성분분석에 사용된다. SEM의 원리구성 예는 윗 그림에 표시하였음. 전자선은 전자총부의 원통내의 음극(Filament)를 가열하여발생한 전자가 양극으로 가속되어진다.
통상, 0.5~30kV로 가속되어진 전자선은 집속 렌즈와 대물렌즈의 전자 렌즈의 작용으로 최종적으로 3~100nm의 직경까지 미세해지며 시료표면에 조사 된다. 이렇게 미세해진 전자선을 전자 probe라고 부른다. 전자probe는 주사 코일에 의해 전자표면상의 X와 Y의 2차원 방향으로(통상의 Television) 새롭게 설정된 면적을 주사 시킨다.
전자 probe의 주사와 동기 된 브라운관 화면상에 시료로부터 발생한 신호를 각각의 신호로 변환시킨 검출기에서 검출, 증폭하여 영상으로 보여준다. 브라운관화상은 전자 probe의 주사면적을 작게 할수록 확대 되어진다.
이 화상을

참고자료

· △ 열처리 가이드: 강의 표준 열처리 작업방법과 실제 / 김한군 / 원창출판사
· △ 鋼의 熱處理 (II) / 델링, 칼 에릭 / 釜山工業大學
· △ 열처리 실험 / 이재운 / 태훈출판사
· △ 강의 열처리: 공정기술 / 크라우스, 조지 / 골드
· △ 鐵鋼熱處理 / 박준규 / 世進社
· △ http://nahtec.chonbuk.ac.kr
· △ http://www.metalnet.co.kr/tech/thermo/thermo14/thermo4.html
· △ http://blog.naver.com/nanomate?Redirect=Log&logNo=110010974901