[전자회로실험]MOSFET 기본특성 결과보고서

소개

"[전자회로실험]MOSFET 기본특성 결과보고서"에 대한 내용입니다.

목차

1. 실험 결과
2. 결론 및 정리
3. 고찰 사항

본문내용

우선 문턱 전압의 경우 데이터시트 값보다도 크다는 것을 확인할 수 있다. 실험을 진행하면서 MOSFET이 터지는 현상이 많이 발생하여 여러 번 교체하는 문제가 발생하였다. MOSFET에 열이 지속적으로 가해져 문턱 전압이 변형이 되었고 실험 측정 장치가 값이 계속해서 바뀌는 문제가 있어 오차가 존재하였다. 따라서 정확한 측정에 어려움이 존재하였다. 이후 실험에서도 온도에 의한 변형이 존재할 수 있어 주의가 필요하다고 볼 수 있다.
위 실험에서 측정하고 계산된 그래프는 이론과 비슷한 개형을 그리는 것을 확인할 수 있다. 일부 오차의 겨우 breadboard에 내부저항이 존재하는데 여기서 전압강하가 일어나 드레인과 소스 사이에 정확한 전압을 제공하지는 못할 것이다. 멀티미터를 통해 전류를 측정할 때 전류계에 의한 전압강하가 일어나 오차가 발생하게 된다. MOSFET이 온도가 높아져 변형이 일어나고 터지는 문제점도 같이 존재할 것이다.

참고자료

· 없음