반도체 공정 관련 내용 정리 리포트

소개

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목차

1. 기초
2. PHOTO LITHOGRAPHY
3. DRY ETCHING
4. CVD
5. CLEANING
6. CMP
7. ION IMPLANTATION
8. DIFFUSION
9. METAL PROCESS
10. 실습 진행 중 알게된 내용정리
11. SPUTTERING
12. PHOTO
13. ETCHING

본문내용

기초
1) 전기전도도(자유전자)의 조절 가능한 물질
2) 10^-5 ~ 10^4의 저항률을 가짐(온도와 반비례 관계 <-> 도체)
Si 사용이유 : 1) 싸고 쉽게 얻을 수 있음 2) SiO2의 유용성 및 생성이 쉬움 3) wafer가 단단하고 etch 성질이 공정상 용이
P-type : B N-type : P, As
유전체(SiO2) : 유전분극 발생(쌍극자 모멘트) => 절연체 : 유전율 매우 낮음 [누설전류 발생]
(유전율 : 외부 전기장에 의해 작아진 유전체 내 전기장 세기)
Capacitor = 극판 면적 & 유전율 비례, 극판 거리 반비례 -> High k 물질 필요
PN junction의 구조 : source, drain의 전압bias 에 상관없이 gate 전압에 의해 결정

Pattern 형성 공정 : PHOTO, ETCH, CMP
박막형성 공정 : CVD/PVD, DIFUSSION
불순물 주입 공정 : ION implantation
표면 세정 공정 : Cleaning
금속 배선 공정 : Metalization

PHOTO LITHOGRAPHY
Transfer pattern from mask to wafer
Wafer 위에 회로의 가패턴을 만드는 과정
Adhesion promotion : 1) pre-clean 2) HMDS: 친수성 -> 소수성 3) wafer cooling
PR coating : static(정지 상태에서 nozzle 분사 후 wafer 고속회전, past) -> dynamic(저속 회전하며 nozzle 분사 후 wafer 고속 회전, now) + Edge Based Removal(side rinse, thinner(solvent)이용 PR 제거) : pr이 carrier와 접촉하여 particle 유발 방지
Soft bake : 잔존 solvent 제거
Align & Exposure : mask와 wafer상의 pattern 일치작업
Post Exposure Bake : 노광 공정 이후 PR은 빛의 간섭에 의해 굴곡 생김 -> 현상하기전에 Photo Active Compound를 확산시켜 PR 사이공간채워 매끄럽게 함

참고자료

· 없음