AND·OR·NOT 게이트 실험(예비보고서)

소개

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목차

1. 실험 목적
2. 실험 기본 이론
1) 디지털 논리회로(Digital logic circuit)
2) 조합논리회로(combinational logic circuit)와 순서논리회로(sequential logic circuit)의 차이점
3) 조합논리 게이트
4) IC(Intergrated circuit) 용어
5) TTL과 CMOS의 비교
6) TTL MARKING에 따른 제품 구분법
3. 실험 방법
1) NOT 게이트 실험
2) AND 게이트 실험
3) OR 게이트 실험
4. 참고문헌
5. 예비 보고서

본문내용

1. 실험 목적
▣ 논리 게이트인 AND, OR, NOT 게이트의 동작특성을 이해한다.
▣ AND, OR, NOT 게이트의 진리표와 논리식을 실험을 통해 확인한다.
※ 실험 부품 및 장비
부품 및 장비 규격 및 수량 부 품 TTL NOT 게이트 7404 1개 AND 게이트 7408 1개 OR 게이트 74321개 장 비 직류전원 공급장치(DC power supply) 디지털 멀티미터(DDM) 브레드 보드(bread board) 기 타 Jumper wire Wire stripper(또는 nipper)
2. 실험 기본 이론
1) 디지털 논리회로(Digital logic circuit)
디지털 논리회로는 조합논리회로(combinational logic circuit)와 순서논리회로(sequential logic circuit)로 나눌 수 있다. 조합논리회로는 논리 게이트로 구성되는데, 논리게이트의 출력은 논리연산을 이용하여 적용된 입력의 값을 조합하여 결정된다. 조합논리회로는 일련의 부울식에 의해 논리적으로 규정될 수 있는 연산을 수행한다.
반면에 순차논리회로는 비트 값을 저장하는 요소를 갖는다. 순차논리회로의 출력은 입력과 기억장치 요소에 있는 값의 함수이다. 다시 말해 이러한 값은 앞에서 적용된 입력과 저장된 값의 함수로 결정되는 것이다. 결과적으로 순차논리회로의



2) AND 게이트 실험
그림 4- 7 AND 게이트 실험회로
④ TTL 7408을 이용하여 그림 4-6 AND 게이트 실험회로를 구성하여라. 입력 A단자와 B단자에 표 4-2에 표시된 전압을 각각 인가한 경우의 Y단자의 출력전압을 측정하여 표 4-2에 기재하여라. Y단자의 출력전압은 소수점 한자리까지 측정하여라.
그림 4- 8 3-입력 AND 게이트 실험회로
⑤ TTL 7408을 이용하여 그림 4-7 3-입력 AND 게이트 실험회로를 구성하여라. 실험회로 구성시 그림 2-12를 참조하여라.
입력 A단자, B단자, C단자에 표 4-2에 표시된 전압을 각각 인가한 경우의 Y단자의 출력전압을 측정하여 표 4-2에 기재하여라.
3) OR 게이트 실험
그림 4- 9 OR 게이트 실험회로
⑥ TTL 7432를 이용하여 그림 4-8 OR 게이트 실험회로를 구성하여라. 입력 A단자와 B단자에 표 4-3에 표시된 전압을 각각 인가한 경우의 Y단자의 출력전압을 측정하여 표 4-3에 기재하여라. Y단자의 출력전압은 소수점 한자리까지 측정하여라.
그림 4- 10 3-입력 OR 게이트 실험회로
⑦ TTL 7432를 이용하여 그림 4

참고자료

· 1) 인하대 e-class 정보통신기초설계/실습1 강의자료실 실험7. ANDORNOT 게이트 실험
· 2) 디지털 논리설계 3rd Edition. 최종필 외 6명. McGraw-Hill Korea. P47~57
· 3) http://www.elec.qmul.ac.uk/staffinfo/davew/lab/ttl74.htm (사진자료)