광학현미경(LM), 투과전자현미경(TEM), 주사전자현미경(SEM)의 원리

소개

광학현미경과 전자현미경의 원리를 알기 쉽게 그림으로 설명한 리포트입니다.
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목차

목 차

[광학현미경(LM), 투과전자현미경(TEM), 주사전자현미경(SEM) 의 원리]


1. 광학현미경

1) 광학현미경의 원리
2) 광학현미경의 구조

2. 전자 현미경

1) 전자현미경의 발달
2) 광학현미경(LM)과 전자현미경(TEM)의 비교
3) 전자현미경의 원리

(1) 투과전자현미경(TEM)과
주사전자현미경(SEM) 기본 원리
① 투과전자현미경 (TEM)
② 주사전자현미경 (SEM)
③ 투과 전자현미경와 주사 전자현미경 사진

본문내용

1. 광학현미경
1) 광학현미경의 원리
광학현미경의 원리는 렌즈가 빛을 굴절시켜 초점을 한 곳에 모아 상을 형성하는 것이다. 굴절(refraction)은 빛이 하나의 매질에서 다른 매질로 전달될 때 일어난다. 즉, 두 매질의 경계에서 빛이 구부러지는 현상을 굴절(refraction)이라 한다. 광학현미경은 광원에 의한 빛을 집속렌즈가 모아서 시료에 조사하면 대물렌즈에 확대 상이 만들어 진다.
2) 광학현미경의 구조
①대안렌즈 관 (Ocular tube)
대안렌즈를 부착할 수 있는
단안대안렌즈 관(monocular tube)
양안대안렌즈 관 (binocular tube)
삼안대안렌즈 관(trinocular tube)
: 사진대안렌즈 관(photo tube) 부착



② 주사전자현미경 (SEM)
주사전자현미경 (scanning electron microscope(SEM))은 전자가 표본을 통과하는 것이 아니라 초점이 잘 맞추어진 전자선 electron beam을 표본의 표면에 주사 한다. 주사전자현미경에서 주로 이용하는 에너지가 작은 이차 전자와 후방 산란 전자 중 이차 전자는 회절 조건에 민감하게 변하지 않고 표면 형상에 따라 민감하게 변함으로 표면 형상의 정보를 정확히 얻을 수 잇다. 주사된 전자선이 표본의 한 점에 집중되면 일차전자만 굴절되고 표면에서 발생된 이차전자는 검파기 detector에 의해 수집된다. 그 결과 생긴 신호들이 여러 점으로부터 모여들어 음극선관 cathod ray tube에 상을 형성하게 한다. 주사전자현미경의 특징은 초점이 높은 심도를 이용해서 비교적 큰 표본을 입체적으로 관찰할 수 있다는 것이다. 전자beam을 시료 위에 주사시켜서 시료로부터 튀어나온 2차 전자를 모아서 검출한 후 여러 가지 복잡한 기계장치를 거친 후 CRT에 영상화시키는 전자

참고자료

· [참고자료]
· 전자현미경 시편 제작 / 이정용 / 大英社
· 전자현미경 매뉴얼 / 김대중 / 고려의학
· http://super.gsnu.ac.kr/lecture/microscopy/em.html
· 구글 이미지 검색