금속 성분 분석 실험

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금속 성분 분석 실험

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본문내용

LEED는 단결정표면의 구조 (Structure of single crystal surface) 를 연구하는데 있어서 가장 일반적인 장비이다. 이 장비는 넓은 영역의 주기적인 구조 (Long-range order of periodic surface structure) 를 관측하는데 있어서 강력하고, 부분적으로는 불규칙적인 구조 (Disordered structure)에 대해서도 정보를 얻을 수 있다.
전자총에서 전자를 방출시켜서 시료에 입사시켜주면 회절된 전자가 Screen에 pattern을 형성한다. 그 pattern을 직접 눈으로 관측하거나, 사진을 찍어 결정구조를 분석한다.
- RHEED(Reflection High Energy Electron Diffraction)
고체표면의 결정구조를 알아 낼 수 있는 장치이다. LEED와 비교하여 장점은 이종 또는 동종의 물질을 시료에 흡착하여 표면의 구조가 바뀌는 것을 연속적으로 관측할 수 있는 점과 높은 에너지의 전자빔을 사용하기 때문에 표면에 미세구조를 관측하는데 있어 유리하다. 즉, MBE (Molecular Beam Epitaxy) 와 같은 장비에 장착하여 쓰는 경우가 많다.
원리는 LEED와 같으나 LEED에 비해 고에너지를 사용하기 때문에 Escape mean free path가 길다. 이런 이유로 RHEED에서는 전자빔을 사선 (Glanzing angle) 으로 입사시켜 표면의 정보를 얻을 수 있게 장치적으로 설계 되어 있다.
XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy)

참고자료

· http://surface.skku.ac.kr/leed.html
· http://surface.skku.ac.kr/RHEED.html
· http://www.stoner.leeds.ac.uk/techniques/rheed.htm
· http://surface.skku.ac.kr/XPS.html