전자파 차폐 도어용 핑거 스트립의 가속수명시험 및 유효성 평가 (Accelerated Life Testing and Validity Evaluation of Finger Strips Used for Electromagnetic Shielding Doors)

서지정보

· 발행기관 : 대한기계학회
· 수록지 정보 : 대한기계학회논문집 A / 39권 / 9호 / 831 ~ 837페이지
· 저자명 : 이주홍, 조해용, 김도식, 장무성

초록

사람과 전자기기들은 우리 주변의 환경 속, 특히 병원의 자기 공명 영상(Magnetic resonance imaging, MRI) 장비 또는 군용으로 사용되는 전자기 펄스(Electromagnetic pulse, EMP) 장비, 그리고 수많은 전자파를 만들어 내는 장치들에 노출되는 경우가 잦아졌다. 이러한 전자파는 사람과 전자기기에 유해하고, 이를 차폐하기 위해 사용되는 것 중에 하나가 핑거 스트립이다. 핑거 스트립은 열전도성이 좋기 때문에 전자파를 흡수하여 열로 변환한다. 이 특징을 효과적으로 이용하여 전자파 차폐가 필요한 실내의 특수 문짝에 핑거 스트립을 설치해서, 전자파로부터 사람과 전자기기들을 보호한다. 본 연구에서는 핑거 스트립의 주 고장모드에 영향을 주는 가속인자로 하중을 선택하여 가속수명시험을 실시한다.
가속수명시험의 결과로부터 핑거 스트립의 실사용조건 수명을 예측하며, 동일한 조건에서 실시한 수명시험 결과와 비교하여 가속수명시험의 유효성을 평가하고자 하였다.

영어초록

Many persons and electronic devices are exposed to electromagnetic (EM) waves generated from magnetic resonance imaging (MRI) equipment, EM pulses (EMPs), and many other kinds of EM wave devices. Finger strips are used to provide shielding from these EM waves. Because of the high thermal conductivity of finger strips, they are used in the design of specialized doors that are installed in shielded rooms. In this study, we perform an accelerated life test using the load acceleration stress, which affects the main failure mode of finger strips. We predict the life of the finger strip under normal usage conditions based on the results of the accelerated life test. We compare the results with those predicted from the life test under normal usage conditions to evaluate the validity of accelerated life testing.

참고자료

· 없음