공정 개선을 위한 가변 샘플링 간격을 이용한 계수치 관리도의 최적 설계 (Optimal Design of Attribute Control Chart using Variable Sampling Control for Process Improvement)

서지정보

· 발행기관 : 한국산업경제학회
· 수록지 정보 : 산업경제연구 / 26권 / 5호 / 2017 ~ 2040페이지
· 저자명 : 배홍석

초록

본 연구에서는 Shewhart 계수치 관리도의 관리한계 설정 방법에 대한 문제점과 비편향 ARL 설계에 대한 개념을 고찰하였고, 기존에 개발된 VSI 기법을 이용한 계수치 관리도의 문제점들을 관리모수에 따른 ATS 곡선으로 분석한다. 그리고 이러한 문제점을 해결하기 위하여 근사 비편향 ATS 설계를 통한 관리모수들을 설정한다. 이때 설정할 관리모수는 정해진 샘플링 간격에 대한 관리상한, 관리하한, 경고한계선이 된다. 본 연구에서는 Acosta-Mejia(1999)의 연구를 확장하여 최적의 계수치 관리도에 대한 근사 비편향 ARL 설계를 제시하였고, 보다 빠른 공정변화의 이상 상태를 감지하기 위하여 VSI 기법을 이용하였다. 그리고 계수치 관리도로써 공정 개선에 대한 식별신호와 이상상태에 대한 신호를 주는 기능을 함께 가지는 관리도를 설계하는 것으로 이러한 설계 방법을 위하여 근사 비편향 ATS 특성을 가지는 계수치 관리도의 설계방법을 제시하였다. 끝으로 계수치 데이터의 특성인 연속적인 데이터가 아니므로 완벽하게 비편향성을 가지는 ATS 곡선을 설계하는 것은 불가능하기 때문에 비편향 ATS 설계에 “근사(nearly)"를 언급하였다.

영어초록

The proposed design method minimizes bias, i.e., an average time to signal for the shift of process from the target value (ATS) curve, as well as it applies a VSI method to an attribute control chart for detecting a process shift efficiently.
First, the results of the factorial experiment obtained by various parameter circumstances show that the VSI control chart using nearly unbiased ATS design provides the smallest decreasing rate in ATS among other charts for all experimental cases. Second, we represent that a process change is rapidly detected when short sampling interval  approximate to min . In addition, the change of the sampling interval may not influence in a set of control chart parameters. Third, we demonstrate ATS curve has large bias establishing the parameter of VSI control chart using the Shewhart method. However, the proposed design method for the development of a control chart robust of sample size and control parameter size. Finally, We present an optimization model that may efficiently provide optimal ATS values for process parameters in a steady state, and that may efficiently establish parameters of correct control chart by supplying an optimization algorithm.

참고자료

· 없음