게이트 절연막과 게이트 전극물질의 변화에 따른 피드백 전계효과 트랜지스터의 히스테리시스 특성 확인 (The hysteresis characteristic of Feedback field-effect transistors with fluctuation of gate oxide and metal gate)

서지정보

· 발행기관 : 한국전기전자학회
· 수록지 정보 : 전기전자학회논문지 / 22권 / 2호 / 488 ~ 490페이지
· 저자명 : 이경수, 우솔아, 조진선, 강현구, 김상식

초록

본 연구에서는 급격한 스위칭 특성을 달성하기 위해 싱글단일-게이트 실리콘 채널에서 전하 캐리어의 양의 피드백을 이용하는 새롭게 설계된 피드백 전계 효과 트랜지스터를 제안한다. 에너지 밴드 다이어그램, I-V 특성, 문턱전압 기울기 및 on/off 전류 비는 TCAD 시뮬레이터를 이용하여 분석한다 [1]. 피드백 전계 효과 트랜지스터의 중요한 특징 중 하나인 히스테리시스의 특성을 보기 위해 게이트 절연막 물질과 게이트 전극물질을 변경하여 시뮬레이션을 진행했다. 이러한 특성변화는 피드백 전계효과 트랜지스터의 문턱전압 (VTH)을 변화시켰고, 메모리 윈도우 폭이 작아지는 현상을 보였다.

영어초록

In this study, we propose newly designed feedback field-effect transistors that utilize the positive feedback of charge carriers in single-gated silicon channels to achieve steep switching behaviors. The band diagram, I-V characterisitcs, subthreshold swing, and on/off current ratio are analyzed using a commercial device simulator [1]. To demonstrate the changing characteristics of hysteresis, one of the important features of the feedback field effect transistor, we simulated changing the gate insulating material and the gate metal electrode. The fluctuation in the characteristics changed the VTH of the hysteresis and showed a decrease in width of the hysteresis.

참고자료

· 없음