CTL cell에서의 우세장 발생과 특성 (The generation and characteristics of the dominant field in CTL cell)

서지정보

· 발행기관 : 한국정보통신학회
· 수록지 정보 : 한국정보통신학회논문지 / 17권 / 5호 / 1055 ~ 1063페이지
· 저자명 : 박웅희

초록

전자파 내성 및 전자파 장해 측정을 위한 표준 전자파 발생 장치 중 하나인 CTL cell에서 두 개의 입력 단자에 동일 신호와 역위상 신호 입력에 따른 다양한 전계와 자계 발생에 대해 살펴보았다. 기본 공진주파수 TE011이 2.20GHz인 CTL cell을 이용하여 우세 전계장과 우세 자계장 조건에서 입력 전력의 변화에 따른 전계 특성, 측정 위치에 따른 전계 특성, 주파수 변화에 따른 전계 특성을 측정하였고, 이를 이용하여 CTL cell의 측정 영역에서의 동작 특성과 공진주파수의 영향을 받지 않고 사용 가능한 주파수 대역을 살펴보았다.

영어초록

CTL cell that is one of the standard electromagnetic generation equipment can measure the characteristic of the electromagnetic susceptibility and the electromagnetic interference. In case of being input the same magnitude signal with the phase difference of 0o or the phase difference of 180o at two input ports of CTL cell to be the fundamental resonant frequency(TE011) of 2.20GHz, the characteristics of the electric field and the magnetic field at the uniform area were measured. And, it measured the electric field characteristic due to the variation of the input power, the test position and the input frequency under the dominant E-field and the dominant H-field of CTL cell. Using these mesuremed data, it examined the operation characteristic and the available frequency band of CTL cell.

참고자료

· 없음