IC 소켓 검사용 다중 채널 측정 시스템 개발 (Development of Multiple Channel Measurement System for IC Socket)

서지정보

· 발행기관 : 한국전기전자학회
· 수록지 정보 : 전기전자학회논문지 / 25권 / 2호 / 315 ~ 321페이지
· 저자명 : 강상일, 송성용, 윤달환

초록

본 논문에서는 초소형 반도체 부품 IC 소켓 검사에 필요한 다중 채널 시험장치를 개발한다. 이 시험장치는 저 저항(수 mΩ급)으로 저전류(수 uA급)～5A 범위의 미세전류상태에서 생산 시스템 요구 규격에 맞는 IC를 다양한 형태로 시험분석을 실행한다. 0.25 mm이하의 리드피치(Lead Pitch)를 가진 IC 소켓 채널수의 증가로 다양한 시험을 동시에 실행해야하는 시험장비는 회로의 고집적화를 위하여 여러 개의 SMU(Source Measure Unit) 보드를 동시에 탑재하도록 구성된다. Daisy chaintest method를 통하여 채널지점(Channel Point)당 약 2분 소요되는 시험시간(Test Time)을 40 초(sec) 이내로 단축이 가능하고, 그래픽 기반 인터페이스, 분석 도구(I-V Curve Mode 등) 및 데이터 로깅(Data Logging)을 통한 테스트 플로우 분석을구현함으로써 시험시간과 소요비용을 절감한다.

영어초록

In this paper, we have developed the multiple channel measurement system for IC Socket Test. The one can test thecurrent-voltage measurements for pitting the several device specification, which analyze the thin current from several to 5A with very low resistor mΩ. The increasement of the IC socket channel with lead pitch under 0.25 mm be needto perform several functions, concurrently. The system to perform these functions be designed to integrate severalSMU(source measure unit) on board. So, we can reduce the 2 minutes test time per channel point to 40 sec, with daisychain test method. Using by graphic interface, I-V curve mode and data logging technologies, we can implement the testflow methods and can make economies the time and cost.

참고자료

· 없음