24GHz 차량 추돌 예방 레이더 시스템-온-칩을 위한 자체 내부 검사 회로 및 알고리즘 (Built-In Self-Test Circuit and Algorithm for 24GHz Automotive Collision Avoidance Radar System-on-Chip)

서지정보

· 발행기관 : 한국정보기술학회
· 수록지 정보 : 한국정보기술학회논문지 / 9권 / 8호 / 33 ~ 39페이지
· 저자명 : 박선영, 류지열, 김성운, 하덕호, 최연욱

초록

본 논문에서는 24GHz 차량 추돌 예방 레이더 시스템-온-칩 고주파 전단부(RF front-end)에 대해 입력 임피던스, 전압이득, 잡음지수 및 입력 전압 정재파비를 자동으로 측정할 수 있는 새로운 형태의 고주파 BIST(Built-In Self-Test) 회로 및 알고리즘을 제안한다. 이러한 BIST 회로는 TSMC 0.13µm 혼성신호/고주파 CMOS 공정 (fT/fMAX=140/120GHz) 공정으로 설계되어 있고, 알고리즘은 LabVIEW로 구현되어 있다. BIST 알고리즘은 입력 임피던스 정합과 출력 직류 전압 측정원리를 이용한다. 본 논문에서 제안하는 방법은 자동으로 쉽게 고주파 전단부의 성능 변수를 측정할 수 있기 때문에 시스템-온-칩의 저가 성능 검사의 대안이 될 것으로 기대된다.

영어초록

This paper presents new RF Built-In Self-Test (BIST) circuit and algorithm for 24GHz automotive collision avoidance radar system-on-chip front-end. The proposed circuit and algorithm measure automatically input impedance, voltage gain, noise figure (NF) and input voltage standing wave ratio(VSWRin). The BIST circuit is designed using TSMC 0.13µm mixed signal/RF CMOS (fT/fMAX=140/120GHz) process, and the algorithm is realized using LabVIEW. The BIST approach utilizes input impedance matching and output DC voltage measurements. Since the proposed method in this paper is automatic and simple to measure performance parameters of RF front-end, it is expected that it will be an alternative for inexpensive performance test of system-on-chip.

참고자료

· 없음