열 열화에 의한 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름의 전기 특성에 관한 연구 (A Study on Electricity Properties of Polyethylene Terephthalate Film due to Thermally Degradation)

서지정보

· 발행기관 : 한국전기전자재료학회
· 수록지 정보 : 전기전자재료학회논문지 / 30권 / 11호 / 693 ~ 698페이지
· 저자명 : 이성일

초록

본 연구에서는 90 ℃ ~ 170 ℃의 온도에서 0.3 ~ 3000kHz의 주파수에서 정전 용량, Tanδ, 열 화상, FTIR, SEM의 측정 결과를 통해 폴리에틸렌 테레 프탈레이트 필름의 열분해 특성을 조사 하였다. 본 연구의 결과는 다음과 같다. 그것은 커패시턴스가 열 화상 온도가 증가함에 따라 감소한다는 것을 발견했다. 이 결과는 가열 온도에 따른 화학 결합의 연화에 의한 것으로 생각된다. Tan δ는 90 ℃에서 170 ℃로 온도가 상승함에 따라 감소 함을 발견 하였다. 이 결과는 COOH 라디칼 또는 OH 라디칼의 분자 운동에 의한 것으로 생각된다. FT-IR 측정의 결과로부터 열 복사에 의한 재료의 구조적 변화가 발생하지 않음을 알 수있다. SEM 측정은 온도가 증가함에 따라 시료의 열분해에 의해 안정화되는 것으로 나타 났지만 과도한 열적 열화로 인해 재료의 안정화가 방해받는 것을 알 수 있었다.

영어초록

In this study, the thermal degradation properties of polyethylene terephthalate film has been examined by thecapacitance, Tan δ, thermography, FTIR, and SEM results at temperatures of 90~170℃ and frequencies of 0.3~3,000kHz. It was found that the capacitance decreased with increasing thermal imaging temperature, probably caused byweakening of chemical bond with increasing temperature. Tan δ decreased upon increasing temperature from 90℃ to 170℃,probably due to the molecular motion of COOH radical or OH radical. The FT-IR measurement reveals that no structuralchange of the material occurs upon thermal radiation. The SEM measurement shows that the material is stabilized bythermal decomposition with increasing temperature; however, excessive thermal degradation obstructs the stabilization ofthe material.

참고자료

· 없음