RFBL 측정 시스템용 0.5~6GHz 광대역 SSPA의 신뢰성 예측 (Reliability Prediction of a 0.5~6GHz Wideband SSPA (Solid-State Power Amplifier) for RFBL (RF Biased Lifetime) Test System)

서지정보

· 발행기관 : 융복합지식학회
· 수록지 정보 : 융복합지식학회논문지 / 11권 / 3호 / 1 ~ 12페이지
· 저자명 : 장동희, 이찬주

초록

본 연구에서는 RFBL(RF Biased Lifetime) 테스트용 장비 개발을 위한 SSPA(Solid-State Power Amplifier)의 신뢰성을 예측하였다. 이러한 장비는 8개의 소자를 동시에 측정 가능하며, 동작 주파수 대역은 0.5 ~ 6GHz의 광대역이고, 입력신호를 최소 30dBm을 제공한다. 전력 분배/결합기를 사용하여 3가지 다른 구조를 가정하고, 전력 증폭기는 GaN 소자를 사용하였다. 소비전력으로부터 각 소자의 최대채널온도를 계산하고, 각각의 고장률 λ로부터 평균고장시간(MTTF, Mean Time To Failure)을 구하였다. 전체 사용된 소자의 개수를 고려하여 최종 평균고장시간을 구하여 가장 신뢰성이 높은 구조를 선택할 수 있었다. 예측 결과 직렬 연결하는 방식의 신뢰성을 100%라고 가정하면 상대적으로 전력 분배기를 사용하는 두 번째 경우는 26%, 전력 결합기를 사용하는 세 번째 경우는 53%의 수준이었다. 이러한 결과를 바탕으로 신뢰성이 가장 우수한 RFBL 측정 장비를 설계할 예정이다.

영어초록

In this study, the reliability of a SSPA (Solid-State Power Amplifier was predicted for the development of RFBL (RF Biased Lifetime) testing system. This system can measure 8 devices simultaneously, operates 0.5 ~ 6 GHz wide frequency range, and provide an input signal of 30dBm above. Three different structures were assumed for the power divider/combiner, and the power amplifier used GaN devices. The maximum channel temperature was calculated from the power consumption of the device, and the MTTF (Mean Time To Failure) was obtained from the failure rate. Considering the number of devices used, the final MTTF was calculated to find the most reliable system structure. If we assume that the reliability of the cascade architecture is 100%, the second case using a power divider is 26% and the third case using a power combiner is 53%. Based on these results, we will design the most reliable RFBL test system.

참고자료

· 없음