X선 진단장치의 고압정류방식이 대조도 향상에 미치는 영향 (Effects of Contrast Improvement on High Voltage Rectification Type of X-ray Diagnostic Apparatus)

서지정보

· 발행기관 : 대한방사선과학회
· 수록지 정보 : Journal of Radiological Science and Technology / 37권 / 3호 / 187 ~ 193페이지
· 저자명 : 이후민, 윤준, 김현주

초록

본 연구는 X선 진단장치의 고압정류방식이 그리드 성능을 측정하는 선택도(selectivity)와 대조도 향상능력(contrast improvement ability : K factor)에 미치는 영향을 분석하고자 산란선 함유율을 측정하였다. 정류방식이 서로 다른 X선발생장치를 대상으로 각 장치의 관전압과, 관전류량을 측정하여 출력선량의 정확도를 측정 및 교정한 후 각 장치별 노출조건을 동일하게 설정하고 형광량계를 이용하여 아크릴을 투과한 X선의 산란선 함유율을 측정하였다.
Grid 미사용 시 피사체를 투과한 X선의 산란선 함유율 측정 결과는 단상정류방식장치에서 가장 낮은 함유율(34.158%)이 측정되었고, 인버터 정류방식(37.043%)과 삼상24피크 정류방식(37.447%)은 산란선 함유율이 증가하였다. 각 장치들의 산란선 함유율 차이는 최저 0.404%에서 최고 3.289%의 차이를 보였다.
8:1 Gird 사용 시 피사체를 투과한 X선의 산란선 함유율을 측정한 결과는 단상정류방식장치에서 가장 낮은 함유율(18.258%)로 측정되었고, 인버터정류방식(25.502%)과 삼상24피크정류방식에서 산란선 함유율(24.217%)이 증가하였다. 그리드 선택도에 따라 단상정류방식과 정전압(인버터와 삼상24피크)정류방식에서 산란선함유율의 차이는 최저 1.285%에서 최고 7.244%의 차이를 보였다. 통계분석 결과 단상정류방식 및 정전압정류방식에서 대조도 향상계수(K factor)에서도 유의한 차이를 보였다.
결론적으로 그리드 선택도와 대조도 향상계수는 정전압정류방식보다는 단상전파방식에서 모두 증가하여 그리드의 사용으로 선택도 향상과 대조도의 개선효과가 증가함을 알 수 있었다.

영어초록

The purpose of this study was to analyze the effect on the selectivity on of high-voltage rectification device that measured the performance of the grid, and the contrast improvement ability (K factor) by measuring the scattered radiation content of the transmitted X-rays. The scattered radiation generated when the X-ray flux comes from the diagnostic X-ray generator that passes through an object. Targeting four different rectifications of X-ray generators, the mean value of the tube voltage and the tube current was measured in order to maximize the accuracy of the generating power dose within the same exposure condition.
Using fluorescence meter, the content of the scattered rays that are transmitted through the acrylic was measured depending on the grid usage. When grid is not used, the content of the scattered rays was the lowest (34.158%) with the single-phase rectifier, was increased with the inverter rectifier (37.043%) and the three-phase 24-peak rectification method (37.447%). The difference of the scattered radiation content of each device was significant from the lowest 0.404% to the highest 3.289% while using 8:1 grid, the content of the scattered ray was the lowest with the single content of the scattered ray was the lowest with the single-phase rectifier (18.258%), was increased with the rectifier (25.502%) and the 24-peaks rectification (24.217%). Furthermore, there was difference up to content 7.244% to the lowest content 1.285% within three-phase 24-peaks rectification, inverter rectifications, and single-phase rectifier depending on the selectivity of the grid.
Drawn from the statistical analysis, there was a similar relationship between the contrast improvement factor and the K factor. As a result, the grid selectivity and the contrast were increased within the single-phase rectifier rather than the constant voltage rectifier.

참고자료

· 없음