테스트 수행시간을 고려한 임베디드 소프트웨어의 적합성 테스트 시나리오 추출 기법 (Conformance Test Scenario Extraction Techniques for Embedded Software using Test Execution Time)

서지정보

· 발행기관 : 한국정보처리학회
· 수록지 정보 : 정보처리학회논문지D / 17권 / 2호 / 147 ~ 156페이지
· 저자명 : 박인수, 신영술, 안성호, 김진삼, 김재영, 이우진

초록

임베디드 소프트웨어의 적합성 테스트는 소프트웨어의 기능이 명세를 따라 정확히 구현되었는지 검사하는 것이다. 적합성 테스트에서 테스트 시나리오는 소프트웨어의 전체 기능을 테스트할 수 있도록 추출되어야 한다. 일반적으로 테스트 시나리오는 단순히 전체의 기능들을 한 번씩 테스트해 보는데 초점이 맞춰져 있다. 하지만 테스트 시나리오는 테스트 수행의 효율성을 고려할 필요가 있다. 이 연구에서는 각 함수들을 테스트하는데 걸리는 시간과 사용자 입력으로 인해 발생하는 대기 시간을 고려하여 최적화된 테스트 시나리오를 추출하는 기법을 제안한다. 테스트 시나리오를 추출하기 위해 상태 머신 다이어그램과 테스트 케이스를 바탕으로 그래프 형태의 테스트 모델을 생성한다. 테스트 모델에는 테스트 수행 시간과 사용자 입력에 대한 정보가 포함되어 있다. 최적화된 테스트 시나리오는 테스트 모델을 기반으로 수정된 최단거리 알고리즘을 이용하여 추출한다. 제안하는 테스트 시나리오 작성 기법을 이용하면 테스트 수행 시간을 줄일 수 있고, 테스트 자동화를 향상시킬 수 있다.

영어초록

Conformance testing for embedded software is to check whether software was correctly implemented according to software specification or not. In conformance testing, test scenarios must be extracted to cover every test cases of software. In a general way, test scenarios simply focus on testing all functions at least one time. But, test scenarios are necessary to consider efficiency of test execution. In this paper, we propose a test scenario extraction method by considering function’s execution time and waiting time for user interaction. A test model is a graph model which is generated from state machine diagram and test cases in software specification. The test model is augmented by describing test execution time and user interaction information. Based on the test model, test scenarios are extracted by a modified Dijkstra’s algorithm. Our test scenario approach can reduce testing time and improve test automation.

참고자료

· 없음