임베디드 시스템을 위한 상태 전이 모델 기반 테스트 케이스 생성 기법 (Test Case Generation Technique Based on State Transition Model for Embedded System)

서지정보

· 발행기관 : 한국정보기술학회
· 수록지 정보 : 한국정보기술학회논문지 / 9권 / 4호 / 11 ~ 21페이지
· 저자명 : 정소영, 장영원, 유철중

초록

임베디드 시스템의 활용분야가 매우 광범위해지면서 시스템의 품질과 신뢰성 보증을 위한 테스트 과정에 많은 관심이 쏟아지고 있다. 특히, 임베디드 시스템의 블랙박스 테스트 기법에 대한 연구가 활발히 진행되면서 테스트 과정에서 요구되는 모델 작성이 이슈화 되고 있다. 본 논문에서는 임베디드 시스템의 상태 전이 모델을 기반으로 하여 테스트 케이스를 생성하는 기법을 제안한다. 시스템의 명세서에 근거하여 시스템의 행위를 블록으로 모델링하고, 블록이 가지는 상태와 전이를 식별한다. 식별된 블록과 상태는 하드웨어 특성을 고려한 속성 값과 행위를 포함한다. 블록과 상태를 추출한 후 상태 전이를 기반으로 한 모델이 구축되며, 모델로부터 상태 전이 표가 작성되어 구체적인 테스트 케이스를 생성할 수 있는 자료를 제공한다. 본 논문에서 제안된 기법은 임베디드 시스템 테스트를 위한 효율적인 테스트 케이스를 생성할 것으로 기대된다.

영어초록

While the application field of the embedded system is very wide range, the concern which is a lot in the test procedure for the quality of system and reliability warranty drops. Particularly, while the investigation of the black box testing method of the embedded system is actively progressed, the modeling required in the test procedure becomes an issue. In this paper, we propose a test case generation technique based on state transition model for embedded system. A behaviour of system is modeled by a block based on a specification of system. The state and the transition of a block are determined. A block and the state where it is distinguished include the attribute value and the behaviour considering the hardware feature. The model which does the state transition with the base after extracting a block and state is constructed. And data in which the state transition table is prepared from a model and which can produce the concrete test case are provided. The technique proposed in this paper is expected to produce the efficient test case for the embedded system test.

참고자료

· 없음