커버리지 변화 정보를 활용한 코드 누락 결함에 대한 뮤테이션 기반 결함 위치 식별 기법의 성능 향상 (Improving Mutation-Based Fault Localization for Better Locating Omission Faults Using Coverage Change Information)

서지정보

· 발행기관 : 한국정보과학회
· 수록지 정보 : 정보과학회논문지 / 47권 / 9호 / 863 ~ 872페이지
· 저자명 : 전주영, 홍신

초록

많은 소프트웨어 결함이 코드 누락 결함(omission fault)의 형태를 가지는 데 반하여, 기존의 뮤테이션 기반 결함 위치 식별(mutation-based fault localization) 기법은 코드 누락 결함에 대해 낮은 정확도를 보여 효용성이 낮은 문제가 있다. 본 논문에서는 뮤테이션 기반 결함 위치 식별 기법인 MUSEUM과 Metallaxis에 뮤테이션에 따른 커버리지 변화와 테스트 결과 또는 출력을 연계하는 요소를 추가함으로써 코드 누락 결함을 대상으로 위치 식별 성능을 향상하는 MUSEUM+과 Metallaxis+ 기법을 제안한다. 10개의 코드 누락 결함과 6개의 일반 결함을 포함하는 총 16개 Defects4J 결함사례를 대상으로 실험한 결과, 제안한 MUSEUM+과 Metallaxis+기법은 총 10개의 코드 누락 결함 중 6개에 대해 효과적으로 정확도를 향상시켰으며, 16개 전반에 있어 정확도 향상을 확인할 수 있었다.

영어초록

Although omission faults are bugs commonly found in real-world programs, existing mutation-based fault localization techniques show low accuracy at locating omission faults because useful mutants are not likely generated at locations where necessary statements are missed. This paper introduces two new techniques, MUSEUM+ and Metallaxis+, an extension of two mutationbased fault localization techniques, MUSEUM and Metallaxis, by adding elements that link the change of coverage information and the change of test results. The proposed MBFL techniques additionally utilize coverage change information to consider the characteristics of omission faults. The experiment with the 16 JFreeChart faults in Defects4J, including 10 omission faults and 6 non-omission faults demonstrate that the presented techniques, MUSEUM+ and Metallaxis+, show improved faults localization accuracy.

참고자료

· 없음