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선택성장영역 크기에 따른 InGaN/GaN 다중양자우물 청색 MOCVD-발광다이오 드 소자의 특성 (The characteristic of InGaN/GaN MQW LED by different diameter in selective area growth method)

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최초등록일 2025.04.15 최종저작일 2012.02
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선택성장영역 크기에 따른 InGaN/GaN 다중양자우물 청색 MOCVD-발광다이오 드 소자의 특성
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    서지정보

    · 발행기관 : 한국결정성장학회
    · 수록지 정보 : 한국결정성장학회지 / 22권 / 1호 / 5 ~ 10페이지
    · 저자명 : 배선민, 전헌수, 이강석, 정세교, 윤위일, 김경화, 양민, 이삼녕, 안형수, 김석환, 유영문, 하홍주

    초록

    일반적으로 mesa 구조의 발광다이오드 제작은 MOCVD법으로 수행되고 있다. 특히 개개의 발광다이오드 칩을식각하고 분리하기 위해서 발광다이오드는 반응성이온식각(RIE)공정과 절단(scribing) 공정을 거치게 된다. 플라즈마를 이용한 건식식각공정인 RIE 공정은 결함, 전위, 표면의 댕글링 본드 형성과 같은 몇 가지 문제점을 유발하고, 이러한 이유로 인해 소자 특성을 저하시킨다. 선택영역성장법은 사파이어 기판 위에 고품질의 GaN 에피층을 성장시키는 방법으로써 주목받고 있다. 본 논문에서는 고품질의 막을 제작하고 공정을 간소화하기 위해서 선택영역성장법을 도입하였고, 기존의 발광다이오드 특성에 영향을 주지 않는 선택영역의 크기를 규정하고자 한다. 실험에 사용된 원형의 선택성장영역의 직경크기는 2500, 1000, 350, 200 μm이고, 선택성장 된 발광다이오드의 소자 특성을 얻고자 SEM, EL, I-V 측정을 시행하였다. 주된 발광파장의 위치는 직경크기 2500, 1000, 350, 200 μm에서 각각 485, 480, 450, 445 nm로 측정되었다. 직경 350, 200 μm에서는 불규칙한 표면과 기존 발광다이오드보다 높은 저항 값을 얻을 수 있었지만, 직경 2500, 1000 μm에서는 평탄한 표면과앞서 말한 350, 200 μm의 특성보다 우수한 전류-전압 특성을 얻을 수 있었다. 이러한 결과들로 기존 발광다이오드의 특성에 영향을 주지 않는 적당한 선택성장 직경크기는 1000 μm 이상임을 확인하였다.

    영어초록

    In general, the fabrications of the LEDs with mesa structure are performed grown by MOCVD method. In order to etch and separate each chips, the LEDs are passed the RIE and scribing processes. The RIE process using plasma dry etching occur some problems such as defects, dislocations and the formation of dangling bond in surface result in decline of device characteristic. The SAG method has attracted considerable interest for the growth of high quality GaN epi layer on the sapphire substrate. In this paper, the SAG method was introduced for simplification and fabrication of the high quality epi layer. And we report that the size of selective area do not affect the characteristics of original LED. The diameter of SAG circle patterns were choose as 2500, 1000, 350, and 200 μm. The SAG-LEDs were measured to obtain the device characteristics using by SEM, EL and I-V. The main emission peaks of 2500, 1000, 350, and 200 μm were 485,480, 450, and 445 nm respectively. The chips of 350, 200 μm diameter were observed non-uniform surface and resistance was higher than original LED, however, the chips of 2500, 1000 μm diameter had uniform surface and current-voltage characteristics were better than small sizes. Therefore, we suggest that the suitable diameter which do not affect the characteristic of original LED is more than 1000 μm.

    참고자료

    · 없음
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