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디지털입력과 주파수 성분 분석을 통한 혼성신호 회로 테스트 방법

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최초등록일 2025.02.25 최종저작일 2003.04
혼성신호 회로 테스트 랜덤신호 웨이블릿
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디지털입력과 주파수 성분 분석을 통한 혼성신호 회로 테스트 방법
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    서지정보

    · 발행기관 : 대한전자공학회
    · 수록지 정보 : 전자공학회논문지 - SD / 40권 / 4호 / 34 ~ 41페이지
    · 저자명 : 노정진

    초록

    혼성신호 회로에 발생할 수 있는 각종 파라메트릭 폴트를 검사하기 위한 새로운 기법을 제안한다. LFSR에서 발생하는 랜덤신호를 사용하여 테스트 입력으로 사용하며, 웨이블릿으로 테스트 출력을 분석하고 압축하는 방법을 사용한다. 웨이블릿은 테스트 출력을 다른 여러 주파수 대역으로 분석하여 각각에 대한 응답 신호를 발생시킨다. 각각의 신호는 디지털 적분기를 사용하여 압축된다. LFSR에서 발생된 테스트 입력신호는 전체 주파수 영역에서 일정한 값을 유지하게 되며 따라서 multi-frequency 응답을 발생시켜 준다. 제안된 방법은 실험을 통하여 성능을 검증하였다.

    참고자료

    · 없음

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