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[반도체공정]전자 빔 물리적 증착법(E-beam evaporator) 발표자료2025.05.021. E Beam Evaporator E Beam Evaporator는 진공 중에서 물질을 가열하여 증발시켜 그 증기를 기판 위에 응축시켜 박막을 제작하는 물리적 증착 방법의 한 종류입니다. E Beam Evaporator는 전자 빔을 이용하여 타겟 물질을 가열하여 증발시키는 방식으로, 고융점 물질의 증착이 가능하고 증착 속도가 빠르며 밀착 강도가 높은 장점이 있습니다. 하지만 X-rays 발생, 와류 또는 방전 발생, 높은 진공 상태 요구, 필라멘트 성능 저하에 따른 증발률 불균일 등의 단점도 있습니다. 1. E Beam Evap...2025.05.02
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디스플레이 개론 기말과제2025.01.101. VFD의 동작원리 VFD는 고진공의 유리 용기내에 Cathode, Control Grid, Anode 전극을 형성시킨 3극관의 일종으로 640°C 정도로 가열된 Wire Cathode(emitter/filament)에서 방출되는 열전자가 제어 전극인 Mesh Grid에 의해 가 속 혹은 제어되어 메쉬 전극의 hole을 통과하게 되면 그 전자들이 Anode상에 도포된 형광체와 충돌하여 형광체를 여기 시켜 가시 광을 방출하게 한다. 2. Color 브라운관의 동작 원리 일반적으로 컬러 브라운관에 사용되어지는 인라인(In-Line)...2025.01.10
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일반물리학및실험2 음극선의 편향 결과레포트2025.01.201. 음극선의 편향 이 실험은 음극선관을 이용하여 전기장에 의한 전자의 편향 현상을 직접 확인하는 것을 목적으로 합니다. 실험 결과에 따르면 가속전압을 고정시켰을 때와 편향판 전압을 고정시켰을 때 모두 편향된 거리를 측정하였고, 이론값과 비교하여 오차 분석을 수행하였습니다. 오차 요인으로는 실험실 밝기, 스크린의 곡면, 전압 조절의 정확성 부족, 자 측정의 오차, 지구 자기장의 영향 등이 고려되었습니다. 2. 전자의 속력 계산 실험의 각 조건에 대하여 전자가 스크린에 닿기 전 전자의 속력을 계산해야 합니다. 이를 통해 전자빔의 특성...2025.01.20
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정보디스플레이학과 광전자공학 1차 준비 보고서 - EL(electroluminescence)과 전자현미경2025.01.061. EL(electroluminescence) EL은 유기물 또는 무기물 모두 빛을 낼 수 있으면 이용할 수 있다. 투명한 유기 필름 또는 선형 구조물에 발광층이 될 형광체를 도포한 후, 교류전압이 가해졌을 때 전기장은 형광체로 하여금 빠르게 충전과 방전을 일으키게 한다. 이 순환과정에서 전자의 움직임이 빛으로 보이게 되는 것이다. EL의 가장 기본적인 원리는 전기 에너지가 빛 에너지로 변환된 것이다. EL은 방출 파장의 폭이 좁아서 단색광을 표현하는 데에 적절하고, 두 개의 전극 사이에서 발광을 하기 때문에 적어도 한 쪽은 투명...2025.01.06
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음극선의 편향2025.04.301. 음극선의 편향 실험을 통해 전기장에 의한 전자의 편향 현상을 확인하였습니다. 가속전압을 고정시키고 편향판 전압을 변화시킬 때와 편향판 전압을 고정시키고 가속전압을 변화시킬 때 모두 이론값과 유사한 결과를 얻었습니다. 다만 약간의 오차가 발생했는데, 이는 전자빔의 도착지점 측정, 초기 편향, 진공상태 등의 요인으로 인한 것으로 분석되었습니다. 2. 전자의 속력 계산 가속전압이 200V, 250V, 275V일 때 전자의 속력을 각각 계산해 보았습니다. 가속전압이 증가할수록 전자의 속력이 증가하는 것을 확인할 수 있었습니다. 3. ...2025.04.30
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재료공학기초실험_SEM 주사전자현미경관찰(1)_전자현미경 원리 및 시편준비2025.05.081. 주사전자현미경(SEM)의 원리 및 구조 주사전자현미경(SEM)은 재료의 표면 형상분석 및 성분분석에 널리 사용되는 장비입니다. SEM은 전자총, 집속렌즈, 대물렌즈, 조리개, 전자 검출기 등으로 구성되어 있습니다. 전자총에서 발생한 전자빔이 시료에 주사되면 시료 표면에서 발생하는 2차 전자를 검출하여 화상을 구현합니다. SEM은 최대 수백만 배의 고배율 이미지를 얻을 수 있으며, 시편 준비가 간단하고 정성/정량 분석이 가능한 장점이 있습니다. 2. SEM의 전자총 및 전자빔 생성 SEM의 전자총은 전자를 만들어내고 가속시키는 ...2025.05.08
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SEM(주사 전자 현미경)의 원리 및 조작 방법2025.01.221. SEM의 동작원리 SEM은 가느다란 전자 빔을 시료 표면에 주사하여 시료표면에서 발생하는 2차 전자를 이용하여 입체적인 표면상을 관찰하는 현미경입니다. SEM은 광학현미경(OM)과 달리 전자빔(파장: 0.6 nm)을 사용하여 더 높은 분해능(3~20 nm)과 배율(10~30만배)을 가지고 있습니다. 2. SEM 조작방법 SEM 조작 방법은 다음과 같습니다. 1) 시료 준비: 전도성 물질은 바로 측정 가능하지만 비전도성 물질은 코팅 과정이 필요합니다. 2) 진공 유지: SEM 내부에 진공을 유지하여 필라멘트 연소, 가스 분자와의...2025.01.22
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고분자실험 SEM, TEM 예비보고서2025.05.091. 전자 현미경 전자 현미경은 가시광선을 사용하지 않고 0.01nm 정도의 파장을 가진 전자빔을 사용하며, 광학 현미경에서의 렌즈 역할을 전기장이나 자기장이 대신한다. 전자빔의 사용으로 인해 시료에 영향을 줄 수 있으며, 고진공 상태에서 분석해야 한다는 제약이 있다. 전자 현미경은 크게 SEM(주사 전자 현미경)과 TEM(투과 전자 현미경)으로 분류할 수 있다. 2. SEM(주사 전자 현미경) SEM은 이미지가 샘플 표면의 특정 위치에서 전자빔을 스캔하여 형성되는 분석 방법이다. SEM은 표면에서 흩어진 전자들을 수집하며 분석을 ...2025.05.09
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SEM 보고서2025.01.271. 주사전자현미경(SEM) 주사전자현미경(SEM)은 진공에 놓인 시료의 표면을 1~100 nm의 전자선으로 관측하는 현미경입니다. 분석 특징으로는 표면 형상 및 구조 관찰, SE와 BSE 영상, EDS 원소 분석 등이 있으며, 공간분해능은 약 1 nm, EDS 원소 분석의 검출 범위는 C(Be)-U입니다. SEM의 원리는 집속된 전자빔을 시료표면에 주사하면서 전자빔과 시료와의 상호작용에 의해 발생되는 이차전자 또는 후방산란전자를 이용하여 시료의 표면을 관찰하는 것입니다. SEM의 주요 구성요소로는 전자총, 자기렌즈, 검출기 등이 ...2025.01.27
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유기소재실험2_SEM2025.05.151. SEM(주사전자현미경) 주사전자현미경(SEM)은 시료 표면을 전자선으로 주사하여 입체구조를 직접 관찰할 수 있는 전자현미경입니다. 시료 내의 원소에서 발생하는 특성 X선을 분석하는 X선 마이크로 애널나이저와 병용하여 시료 내의 특정 원소의 검출이나 분포를 해석하는 데 널리 사용됩니다. SEM은 주로 시료 표면의 정보를 얻을 수 있고 시료의 두께, 크기 및 준비에 크게 제한을 받지 않습니다. 또한 광학현미경에 비해 집점심도가 2배 이상 깊고 광범위하게 집점을 맞출 수 있어 입체적인 상을 얻는 것이 가능합니다. 2. SEM의 원리...2025.05.15
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