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[고분자공학실험]PMMA 무유화 중합2025.04.281. PMMA 무유화 중합 이 실험은 모노머인 MMA(Methyl methacrylate)에 KPS 개시제를 이용하여 무유화중합 반응을 일으켜 PMMA(Poly methyl methacrylate)를 만드는 실험이었습니다. 실험 후에는 SEM 장치를 통해 만들어진 PMMA의 표면을 관찰하고, 각 시각마다 Conversion을 계산하였습니다. 무유화중합반응은 유화중합반응을 개선시킨 반응으로, 유화제나 이온성 개시제와 같은 물질들이 반응 후에도 잔존하여 폴리머의 성능이나 반응의 Conversion을 저해하는 단점을 보완한 방법입니다. ...2025.04.28
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X형 제올라이트의 제조 및 특성화 실험2025.11.121. 제올라이트(Zeolite) 제올라이트는 다공성 결정질 알루미노실리케이트 광물로, 규칙적인 미세공 구조를 가지고 있습니다. X형 제올라이트는 FAU(Faujasite) 구조를 가진 합성 제올라이트로, 큰 공동 구조와 높은 이온교환 용량을 특징으로 합니다. 촉매, 흡착제, 이온교환제 등 다양한 산업 분야에서 광범위하게 사용되며, 분자 크기 선택성으로 인해 분자체(molecular sieve)로도 알려져 있습니다. 2. 제올라이트 합성 X형 제올라이트는 수열합성(hydrothermal synthesis) 방법으로 제조됩니다. 규산나...2025.11.12
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Synthesis and analyze zeolitic imidazolate framework 실험보고서2025.05.061. Zeolitic imidazolate frameworks (ZIFs) ZIF는 MOF 중 하나로, 토폴로지가 Zeolite와 비슷한 배위화합물이다. ZIF는 내부에 pore가 존재하며 Imidazole의 종류, 즉 작용기의 크기에 따라 pore의 크기가 달라진다. 이번 실험에서는 ZIF-8과 ZIF-67을 합성하고 다양한 분석 기기들을 이용하여 분석하였다. XRD 결과로 ZIF의 pore 크기가 약 11.6Å임을 확인하였고, BET와 SEM 결과를 통해 같은 imidazole을 사용했기 때문에 동일한 육각형 모양과 pore 크...2025.05.06
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숭실대학교 신소재공학실험2 반도체 소자 전기적 특성 분석 결과보고서2025.01.211. 반도체 소자 전기적 특성 분석 이 보고서는 반도체 소자의 전기적 특성을 분석하기 위해 SEM, AFM, TEM, OM, Alpha step, Four-point probe 등의 분석 기법을 사용한 실험 결과를 다루고 있습니다. 실험을 통해 표면 morphology, 단면 두께, 소자 면적, 상부 전극 두께, 금속 막의 비저항 등을 측정하고 분석하였습니다. 실험 결과 분석에 따르면 불순물, 온도, 금속 막의 구조 등의 요인으로 인해 실험값과 이론값의 차이가 발생하였으며, 금속 막의 두께 감소에 따라 비저항이 증가하는 것을 확인하...2025.01.21
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숭실대학교 신소재공학실험2 반도체 소자 전기적 특성 분석 예비보고서2025.01.211. SEM (주사 전자 현미경) SEM은 전자총과 전자선 검출기의 구조를 가지고 있다. 전자총은 전자를 발생시키는 기기이고, 검출기는 시료와 전자선의 상호작용으로 발생한 다른 전자선을 검출하는 기기이다. SEM의 전자총으로부터 나온 전자선은 관측하려는 시료의 표면 원자들과 상호작용하여 이차 전자, 후방 산란 전자, X선 등을 발생시킨다. SEM은 이러한 이차 전자를 검출하여 기본적인 상을 형성하게 된다. 2. AFM (원자력 현미경) AFM은 측정하고자 하는 시료와 AFM 내의 탐침 사이의 미세한 원자간 상호작용을 측정한다. 이를...2025.01.21
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SEM 보고서2025.01.271. 주사전자현미경(SEM) 주사전자현미경(SEM)은 진공에 놓인 시료의 표면을 1~100 nm의 전자선으로 관측하는 현미경입니다. 분석 특징으로는 표면 형상 및 구조 관찰, SE와 BSE 영상, EDS 원소 분석 등이 있으며, 공간분해능은 약 1 nm, EDS 원소 분석의 검출 범위는 C(Be)-U입니다. SEM의 원리는 집속된 전자빔을 시료표면에 주사하면서 전자빔과 시료와의 상호작용에 의해 발생되는 이차전자 또는 후방산란전자를 이용하여 시료의 표면을 관찰하는 것입니다. SEM의 주요 구성요소로는 전자총, 자기렌즈, 검출기 등이 ...2025.01.27
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재료공학기초실험_SEM 주사전자현미경관찰(1)_전자현미경 원리 및 시편준비2025.05.081. 주사전자현미경(SEM)의 원리 및 구조 주사전자현미경(SEM)은 재료의 표면 형상분석 및 성분분석에 널리 사용되는 장비입니다. SEM은 전자총, 집속렌즈, 대물렌즈, 조리개, 전자 검출기 등으로 구성되어 있습니다. 전자총에서 발생한 전자빔이 시료에 주사되면 시료 표면에서 발생하는 2차 전자를 검출하여 화상을 구현합니다. SEM은 최대 수백만 배의 고배율 이미지를 얻을 수 있으며, 시편 준비가 간단하고 정성/정량 분석이 가능한 장점이 있습니다. 2. SEM의 전자총 및 전자빔 생성 SEM의 전자총은 전자를 만들어내고 가속시키는 ...2025.05.08
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숭실대학교 신소재공학실험2 다결정 박막 코팅 및 분석 결과보고서2025.01.211. 다결정 박막 코팅 및 분석 이 보고서는 다결정 박막 코팅 및 분석에 대한 실험 결과를 다루고 있습니다. 실험의 목적은 다결정이 무엇인지 이해하고, Spin-coater와 AFM 기계 사용법을 익히며, 단결정과 다결정의 구조 차이를 분석하는 것입니다. 실험 방법으로는 CsPbBr3 전구체 용액을 준비하고 Spin-coating 및 열처리를 진행했습니다. 실험 결과로 XRD, SEM, PL 데이터를 확인했으며, 단결정과 다결정의 XRD 패턴 차이, UVO 처리에 따른 박막 특성 변화 등을 분석했습니다. 1. 다결정 박막 코팅 및 ...2025.01.21
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SEM(주사 전자 현미경)의 원리 및 조작 방법2025.01.221. SEM의 동작원리 SEM은 가느다란 전자 빔을 시료 표면에 주사하여 시료표면에서 발생하는 2차 전자를 이용하여 입체적인 표면상을 관찰하는 현미경입니다. SEM은 광학현미경(OM)과 달리 전자빔(파장: 0.6 nm)을 사용하여 더 높은 분해능(3~20 nm)과 배율(10~30만배)을 가지고 있습니다. 2. SEM 조작방법 SEM 조작 방법은 다음과 같습니다. 1) 시료 준비: 전도성 물질은 바로 측정 가능하지만 비전도성 물질은 코팅 과정이 필요합니다. 2) 진공 유지: SEM 내부에 진공을 유지하여 필라멘트 연소, 가스 분자와의...2025.01.22
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SEM을 이용한 polymer blend film topology2025.05.151. SEM (주사전자현미경) SEM은 주사전자현미경으로, 시료 표면의 형태와 구조를 관찰할 수 있는 장비입니다. 이 실험에서는 SEM을 이용하여 polymer blend film의 표면 형태와 구조를 분석하였습니다. 2. Polymer blend film Polymer blend film은 두 가지 이상의 고분자를 혼합하여 만든 박막 구조입니다. 이 실험에서는 polymer blend film의 상 분리 현상과 표면 형태를 관찰하였습니다. 3. 상 분리 (Phase separation) Polymer blend film에서는 서로...2025.05.15
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