1. 엘립소메트리 (Ellipsometry) 엘립소메트리는 선형 편광된 빛이 시편에서 반사될 때 편광 상태가 타원 편광으로 변하는 현상을 이용하여 시편의 광학적 특성을 측정하는 방법이다. 이 기술을 통해 Silicon oxide와 Titanium이 증착된 Silicon oxide 시편의 굴절률과 두께를 측정할 수 있으며, 선형 편광된 빛의 편광 상태 변화를 관찰하여 엘립소메트리의 작동 원리와 측정 방법을 이해할 수 있다. 2. 편광 (Polarization) 편광은 전자기파가 진행할 때 파를 구성하는 전기장이나 자기장이 공간상에서 ...