"Wafer Map Defect Pattern"의 검색결과 입니다.

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"Wafer Map Defect Pattern" 검색결과 1-9 / 9건

Detection of Defect Patterns on Wafer Bin Map Using Fully Convolutional Data Description (FCDD)

한국산업경영시스템학회 Seung-Jun Jang, Suk Joo Bae

논문 | 12페이지 | 4,300원 | 등록일 2023.07.31

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액티브 러닝을 활용한 반도체 웨이퍼 신규 불량 패턴 검출 (Active Learning for Detecting New Defect Patterns in Wafer Bin Maps)

대한산업공학회 황성진, 백인성, 김성범

논문 | 13페이지 | 무료 | 등록일 2025.05.06 | 수정일 2025.05.17

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FCDD 기반 웨이퍼 빈 맵 상의 결함패턴 탐지 (Detection of Defect Patterns on Wafer Bin Map Using Fully Convolutional Data Description (FCDD))

한국산업경영시스템학회 장승준, 배석주

논문 | 12페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.29 | 수정일 2025.05.15

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웨이퍼 맵의 다중 결함 패턴 인지를 위한 벡터 표현 기반 캡슐 네트워크 구현 (Multiple Defect Pattern Recognition in a Wafer Map Using Vector-Representation Based Capsule Network)

한국통신학회 김미선, 최지환, 이하림

논문 | 11페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.29 | 수정일 2025.05.15

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Multi-class Data Description 기반의 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 분류 및 신규 불량 패턴 검출방법 (A Multi-Class Data Description Based Method for Classifying Predefined Defect Patterns and Detecting New Defect Patterns of Wafer Bin Maps)

대한산업공학회 송창용, 정영선, 김병훈

논문 | 12페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.29 | 수정일 2025.05.15

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데이터 클래스 불균형을 고려한 전이학습 기반의 반도체 웨이퍼 빈 맵 결함 패턴 분류 (Semiconductor Wafer Bin Map Defect Pattern Classification based on Transfer Learning Considering Data Class Imbalance)

한국산학기술학회 박인영, 김지영

논문 | 7페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.29 | 수정일 2025.05.15

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이상치를 고려한 딥러닝 기반 웨이퍼 맵 결함 패턴 클러스터링 (Deep Learning based Semiconductor Wafer Maps Clustering Considering Outliers)

한국신뢰성학회 하소미, 김도현

논문 | 10페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.16 | 수정일 2025.05.10

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딥러닝을 이용한 웨이퍼 빈 맵 신규 패턴 검출 (New Pattern Detection of Wafer Bin Map Using Deep-Learning)

대한산업공학회 백승호, 이창현, 김성범

논문 | 12페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.16 | 수정일 2025.05.10

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패턴 불균형에 강건한 자가 지도학습을 활용한 웨이퍼 불량 패턴 클러스터링 방법 제안 (New Wafer Defect Pattern Clustering Method using a Self Supervised Learning Robust to Pattern Imbalance)

대한산업공학회 최이수, 윤주호, 김병훈

논문 | 14페이지 | 무료 | 등록일 2025.04.26 | 수정일 2025.05.14

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