"X-선 광전자분광(XPS)"의 검색결과 입니다.

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"X-선 광전자분광(XPS)" 검색결과 41-49 / 49건

[재료공학실험]희생양극실험

로 조절이 가능하다.2. XPS 기본원리일정한 에너지를 가지는 X선(광자)을 시료에 쬐면 시료로부터 광전자 (photoelectron)들이 방출되는데, 이 광전자들의 운동 에너지 ... 1. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)photons이 물질에 입사될 때, 원자나 분자로부터 방출된 전자들의 에너지를 측정하는 기기이다. XPS ... = Eb + e fs = h n - Ek + (e fs - e fsp)Ek : 분광계(spectrometer)에서 측정되는 광전자의 운동 에너지h n : 광자의 에너지Eb : 광전자

리포트 | 6페이지 | 1,000원 | 등록일 2006.06.30

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CVD법에 의한 CNT의 증착 및 특성

-9mbar이였고, Lens mode는 large area이였다.XPS 분석은 일정한 에너지를 가지는 X선을 기판에 조사하면 기판으로부터 광전자(photoelectron)들이 방출 ... -2. SEM & TEM 분석363-4-3. Raman 분석363-4-4. XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석374. 결과 및 고찰384-1 ... 의 이동 정도에 따라서 그 박막의 결정화 정도와 결합력의 변화를 예측할 수 있다.3-4-4. XPS(X-ray Photoelectron Spectroscopy) 분석XPS 분석

리포트 | 73페이지 | 3,500원 | 등록일 2008.05.10

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[재료공학]전자현미경

초점분의 특성 X선을 EDS (Energy Dispersive X-ray spectrometer-에너지 분산형 X선 분광기)에서 나노 메타 영역의 원소분석, 전자 energy 손실 ... (SEM)- 성분정보에 따른(EDS)- 구조정보에 따른(TEM)- 그 외 여러 가지 전자현미경(SPM, XPS, AES)3. 전자현미경 시편제작- 전자현미경 시편- 단면 다층 박막 시편 ... 다.2> 주사전자현미경의 원리- 전자발생원(electron source)으로부터 전자선을 조사해 미소한 점으로 초점을 맞추고, 검출기로 미소점에서의 변화된 신호량의 대소를 브라운관

리포트 | 29페이지 | 2,000원 | 등록일 2007.03.14

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분석화학이란 어떤 학문인가

, 물질이 발사하는 빛이나 물질이 흡수하는 빛을 이용하는 광분석, 전압·전류의 측정에 의한 전기분석 등이 있다.③ 각종 장치를 이용하는 열분석, X선분석, 질량분석, 핵자기공명(NMR ... 한 주목을 받고 있는 분야. 투과 전자 현미경(TEM)과 주사 전자 현미경(SEM)을 비롯한 XRD, AES, XPS, SIMS 등의 장비가 주로 이용되며 미세 구조와 조성 그리고 ... .분젠과 G.R.키르히호프에 의한 분광분석법(分光分析法)의 발명을 비롯하여 많은 기술과 방법이 개발되었고 특히 1950년경부터 전자기술의 발전에 따라 이것을 고도로 이용한 분석기

리포트 | 3페이지 | 1,000원 | 등록일 2008.04.01

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[기기분석] 기기분석 장치 종류와 특징

(SAM)X-선 회절분석기(XRD/Thin film)이차이온질량분석기(SIMS)무기분석원자흡광분석기유도결합플라즈마 분광분석기자외/가시광 분광기산소/질소 분석기탄소/황 분석기수소분석기 ... 가능.- 시료의 오염이 없음, 화학적 안정함.9.XPS( X-ray Photoelectron Spectroscopy)-X선에 의해 여기된 전자의 에너지 양을 측정하여 재료의 조성 ... 몇 가지 분석법으로 분류된다.{표면/구조분석투과전자현미경(TEM/STEM/ATEM)주사전자현미경(SEM/EPMA)X선광전자 분광분석기 (ESCA/XPS)주사형 오제이 전자현미경

리포트 | 5페이지 | 1,000원 | 등록일 2004.11.01

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전자 현미경의 원리와 기능에 따른 분류(SEM,TEM, XPS, AES, EDS, STM)

때 전자총의 음극 바로 밑에서 전극 코일을 통해 X-Y축방향으로 적당량을 편향하여 집속렌즈의 축에 일치하게 하는 기능을 말한다.4. 주사 코일 : 집속렌즈와 대물렌즈 사이에 위치 ... 들이세조직 구성성분에 대하여 구조와 화학성분을 정량화할 수 있다.-투과전자현미경(Transmission electron microscope)은 전자선(electron beam ... 의ergy analyzer)이며, 가장 흔히 쓰이는 것으로 반구형 에너지 분석기와 원통형 거울 분석기를 들 수 있다.X선발생기와 전자 에너지 분광계는 초고진공(UHV)계에서 작동

리포트 | 18페이지 | 2,500원 | 등록일 2006.12.22 | 수정일 2017.11.04

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[공학실험] 양극희생실험

전자의 운동에너지는 분석기와 검출기에서 정확히 측정된다. 방출된 광전자의 운동에너지 Ek는 X-선 광자의 특성에너지 hv에서 core 준위의 결합에너지 Eb와 분광계의 일함수를 뺀 ... 1. xps란?XPS (X-ray photoemission spectroscopy)는 전자를 이용한 표면분석의 방법으로서 대표적인 자리를 차지하고 있다. 표면의 원소구성비 ... 는 떻게 측정할 수 있을까? XPS 방법에서는 원소에 X-ray를 쏘여주어, 광전효과(Photoelectric effect)에 의하여 튀어나오는 내각 전자의 운동에너지를 측정

리포트 | 11페이지 | 1,000원 | 등록일 2004.12.02

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[재료공학실험] 표면 분석 장치 XPS와 XPS 내에 작동하는 네가지 펌프

< 표면분석 장치 - XPS >>ESCA / Auger SystemUHV 장치의 기본 압력은 1.0 x 10-10 Torr 이하이며, 오제이 전자 분광기(AES), 이온총 , X ... -선 광전자 분광기(XPS), Quadrupole 질량분광기(QMS), 그리고, Hemispherical analyser가 장착되어 있다. 압력을 초고진공 으로 유지 하기 위해 ... 는데V 걸고 있다.그림f. 스퍼터 이온펌프의 원리전계 전자 방사 혹은 우주선으로 발생한 전자 등이 자장으로 양극 공간에서 자장방향으로 나선 하면서 오고가고 한다. 이 속에 들어 온

리포트 | 12페이지 | 1,500원 | 등록일 2005.01.16

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[박막공학과 성분분석] 성분분석법 및 박막증착법

각각의 전자가 속해 있던 준위의 에너지에 의해 결정된다. XPS에서 광전자 피크와 Auger 피크가 겹쳐서 나타나면, X-선의 에너지를 바꾸어서 분리시킬 수 있 는 것이 이러 ... 적인 분석업무에 사용투과전자현미경, 주사전자현미경, X-선 마이크로분석기, ESCA응용면에 걸친 소프트개발을 하기위해 필요한 요소에 이용이온마이크로 분석기, 오제이(Auger ... 에 있는 전자가 채울 때 과잉에너지 즉, 그 원소 고유의 고준위 궤도전자와 저준위 궤도전자의 에너지 차가 그냥 X-선 광자 에너지가 되는 경우에는 입사전자선의 에너지 값에 관계없이

리포트 | 21페이지 | 1,500원 | 등록일 2004.12.16

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