XRD 이용한 시료의 집합조직 분석 (예비레포트)

소개

XRD 이용한 시료의 집합조직 분석(예비레포트)

목차

1. XRD(X-Ray Diffraction) 원리

2. XRD 장비를 이용한 집합조직 분석법
1) Pole figure
2) <3-D ODF>

본문내용

XRD(X-Ray Diffraction) 원리
X-선은 1895년 독일의 물리학자 RONTGEN이 진공관 실험도중 전자의 충격에 의하여 금속 양극으로부터 발생되는 현상을 관찰하던 중 발견하였으며, 그 당시 그것이 무엇인지 모르지만 미지의 복사선 일 것 이라고 생각하여 X-Ray라 불렀다. 그 후 다른 과학자에 의해 X-Ray가 빛의 일종인 것이 확인되었고 물질의 내부 미세구조 연구에 매우 유용한 수단으로 아주 널리 쓰이게 되었다.
X선은 고속의 전자가 무거운 원소의 원자에 충돌할 때 발생된다. 즉 에너지를 가진 전하가 갑자기 정지할 때 발생하며, 충돌한 점에서 모든 점으로 방사된다. 타겟에 충돌하는 전자의 운동에너지는 대부분 열로 변하며 1%이하의 에너지가 X선으로 변하게 된다. X선의 본질은 빛을 비롯해서 라디오파, 감마선등과 함께 파장이 다른 전자기파에 속한다. 파장은 대략10m ~10m이며 빛에 비하여 파장이 대단히 짧아 빛과 비슷한 성질을 갖고 있으나 몇 가지 다른 성질도 가지고 있다.
현재 X-Ray를 이용하는 분석방법은 X-Ray 회절 분석과 형광 X-Ray 분석 등이 주로 쓰인다. 이 중에서 X-Ray의 회절현상을 이용하여 시료를 분석하는 장비가 XRD(X-Ray Diffractometer)이다.
빛의 회절은 X선이 발견되기 이전에도 연구가 많이 진행되어진 상태였으며, 일정한 간격으로 규칙적인 배열을 가진 원자결정에 결정내의 원자사이 거리와 거의 비슷한 파장을 가진 전자파를 쏘아주게 되면, X선이 결정에 의해서 회절 될 것이라는 가정으로 실험에 성공한 것이 1912년 독일의 Von Laue에 의해서였다.

참고자료

· 1. B.D. Cullity, S.R. Stock, "Elements of X-Ray Diffraction", 2001, Prentice Hall
· 2. 강상욱, 서일환, "기초 X선 결정학", 1997, 고려대학교 출판부
· 3. 김양, "X선 결정학", 1991, 민음사
· 4. 고등기술연구원 (http://www.iae.re.kr/develop/lease/information.php)
· 5. XRD 분석 프로그램 제공 사이트(http://www.softdisc.co.kr)