[전자전기]TTL특성및응용실험(결과)

소개

중앙대학교 전자전기공학부 3학년2학기 실험

전자회로 실험실습(강훈,박세현,최영환,김윤호 공저)의 예비레포트입니다.

물론 학점은 A+였고 레포트 점수도 만점이었습니다

목차

1. 목 표
2. 결과보고 사항
3. 결 론

본문내용

1. 목 표
TTL(Transistor-Transistor Logic)으로 구성된 NAND Gate형 디지털 IC의 특성 및 동작을 이해하고 실험을 통한 관측으로 이의 사용법을 익히며 그 특성 및 동작을 확인할 수 있다. 특히 입력에 따른 논리출력을 알 수 있으며, 변화하는 입력에 대한 출력의 함수를 통해 액티브 풀다운의 효과를 관찰할 수 있다.

3. 결 론
이번 실험을 통하여 TTL IC의 특성에 대해 많이 연구해볼 기회가 되었다. TTL IC의 경우 학 부수업중 전자회로등을 통하여 간단히 소개가 되거나, 수업에 따라서 접하지 못한 부분도 많기 때 문에 직접 예비보고서를 작성하는 단계에서부터 많이 알아볼 수 있는 기회가 된 것 같다.
하지만 미리 조사해간 74LS00대신 74HC00N이 나온것에 대해서 충분히 예상할 수가 없었고 간단한 실험이었음에도 많은 반복 실험을 하기도 했다. 74HC00N은 BJT로 구성된 TTL 과 달리 MOSFET으로 이루어진 CMOS이기 때문에 NAND GATE로써 유사한 동작을 하지만 데이터시트를 보거나 좀더 조사해보면 알 수 있듯이 그 특성은 좀 다르기때문이다. 74LS00의 경우 전형적인 VOH의 출력이 3.4~5V임을 감안했을때, 실험에서 얻은 측정값은 5V 근처에서 나타나 오차가 꽤 크게 생각되어졌다. 그러나 74HC00N의 데이터시트를 통해 출력이 Vcc값에 많이 영향을 받는다는 사실을 알게 되었다.
여러 입력을 통해 NAND GATE의 논리적 특성을 관찰할 수 있었고, 특히 입력이 open인 경우에 관해 많이 고민을 하게 하였는데 양쪽 모두를 open으로 하였을 때 그 출력이 Low였기 때문에 자연스레 open이 high일 것이라고 생각할 수 있었다. 그러나 한쪽을 high로 하고 한쪽을 pen 시켰을때 그 출력은 일정하지가 못했으며 섣부른 판단을 내릴수가 없었다. 이는 open이 실상 high이나 논리적으로 floating 상태인 것에 기인하는 것 같다. 주변에서의 정전기등으로 인한 잡음에 의해서도 많이 신호를 오인시킬 소지가 있다. 또한 다음 CMOS실험에서 조사를 통해 CMOS소자에서 입력을 오픈으로 두는 것은 절대 피해야 할 사항임을 알 수 있었다.
또한 출력이 low와 high의 중간영역에서 애매한 전압을 나타내는것에 대한 액티브 풀다운의 작용을 알아보기 위해 입력전압을 변화시키며 그 출력의 변동을 측정했는데 처음 실험은 입력과 동시에 출력이 똑같이 선형적으로 변해버리는 결과를 나타내며 엉망이었다. 이는 직류전원입력을 Vcc 와 동시에 연결하는 실수를 범했기 때문이다. 특히 Vcc와 선형적인 출력을 보이는 74HC00N이었기 때문에 더욱 치명적이었던 것 같다.

참고자료

· 없음