SEM 분석을 통한 이차전지 양극재 morphology 분석_예비보고서

소개

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목차

1. 실험 일자

2. 실험 제목

3. 관련 이론
1) SEM
2) Secondary Electron(SE)와 back Scattered Electron(BSE)
3) EDX
4) single crystal (SC)과 poly crystal (PC)의 특징 (장단점)
5) 배터리 충/방전 그래프 해석 (양극재 NMC or NCM)

4. 참고문헌

본문내용

2. 실험 제목: SEM 분석을 통한 이차전지 양극재 morphology 분석

3. 관련 이론
(1) SEM
SEM(Scanning Electron Microscope)은 전자 광학의 한 형태로서, 물체의 표면을 고해상도로 관찰하는 데 사용된다. SEM은 전자를 이용하여 물체의 표면을 스캔하고, 그 결과를 화면에 표시함으로써 이미지를 생성한다. 시료로 들어갈 sample은 시편 스테이지에 들어갈 만큼 작아야 하고 진공, high energy electron beam을 견딜 수 있도록 안정된 물질이어야 한다. 정전하가 심하거나 전도도가 낮은 시료는 측정할 수 없다. 따라서 전도성이 낮은 시료는 전자를 반사하지 못하기 때문에 Au, Pt, C로 표면을 coating을 하고 진행한다. SEM 측정 시 내부는 진공상태로 유지한 뒤, 측정이 진행되는데 전자들이 필라멘트로부터 시편까지 이동하면서 공기 중의 분자들과 충돌해 산란되는 것을 방지하기 위해서이다.

참고자료

· 윤존도 외 3인, 주사전자현미경 분석과 X선 미세분석, 청문각, 2006
· 박영서 외 3인, 표면 특성 기기 분석, 동명사, 2014