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목차
1. 실험 일자
2. 실험 제목
3. 관련 이론
1) SEM
2) Secondary Electron(SE)와 back Scattered Electron(BSE)
3) EDX
4) single crystal (SC)과 poly crystal (PC)의 특징 (장단점)
5) 배터리 충/방전 그래프 해석 (양극재 NMC or NCM)
4. 참고문헌본문내용
2. 실험 제목: SEM 분석을 통한 이차전지 양극재 morphology 분석
3. 관련 이론
(1) SEM
SEM(Scanning Electron Microscope)은 전자 광학의 한 형태로서, 물체의 표면을 고해상도로 관찰하는 데 사용된다. SEM은 전자를 이용하여 물체의 표면을 스캔하고, 그 결과를 화면에 표시함으로써 이미지를 생성한다. 시료로 들어갈 sample은 시편 스테이지에 들어갈 만큼 작아야 하고 진공, high energy electron beam을 견딜 수 있도록 안정된 물질이어야 한다. 정전하가 심하거나 전도도가 낮은 시료는 측정할 수 없다. 따라서 전도성이 낮은 시료는 전자를 반사하지 못하기 때문에 Au, Pt, C로 표면을 coating을 하고 진행한다. SEM 측정 시 내부는 진공상태로 유지한 뒤, 측정이 진행되는데 전자들이 필라멘트로부터 시편까지 이동하면서 공기 중의 분자들과 충돌해 산란되는 것을 방지하기 위해서이다.참고자료
· 윤존도 외 3인, 주사전자현미경 분석과 X선 미세분석, 청문각, 2006
· 박영서 외 3인, 표면 특성 기기 분석, 동명사, 2014태그
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자료후기
Ai 리뷰이 문서는 SEM 분석을 통한 이차전지 양극재의 morphology 분석 실험 내용을 상세히 설명하고 있습니다. 실험 목적, 이론적 배경, 분석 기법, 결과 해석 등이 체계적으로 정리되어 있어 관련 연구를 진행하는 데 유용할 것으로 판단됩니다.
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