SEM 분석을 통한 이차전지 양극재 morphology 분석_결과보고서

소개

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목차

1. 실험 일자

2. 실험 제목

3. 실험결과
1) 실험 내용
2) 실험 과정
3) 실험 결과

4. 실험고찰
1) 각 사진이 어떤 결정을 의미하는지 서술.
2) 사진의 빨간 부분들이 어떤 것을 의미하는지 서술.
3) single crystal NCM의 Morphology와 Size를 고려하여 충/방전 시 생기는 단점을 서술.

5. 참고문헌

본문내용

2. 실험 제목: SEM 분석을 통한 이차전지 양극재 morphology 분석

3. 실험결과
(1) 실험 내용
이번 실험에서는 scanning electron microscopy를 통해 single crystal과 poly crystal의 morphology를 분석하였다. SEM(Scanning Electron Microscope)은 전자 광학의 한 형태로서, 물체의 표면을 고해상도로 관찰하는 데 사용된다. SEM은 전자를 이용하여 물체의 표면을 스캔하고, 그 결과를 화면에 표시함으로써 이미지를 생성한다. SEM 측정 시 내부는 진공상태로 유지한 뒤, 측정이 진행되는데 전자들이 필라멘트로부터 시편까지 이동하면서 공기 중의 분자들과 충돌해 산란되는 것을 방지하기 위해서이다. 진공상태를 유지하기 위해서 outer chamber와 inner chamber를 사용하였다.

참고자료

· 윤존도 외 3인, 주사전자현미경 분석과 X선 미세분석, 청문각, 2006
· 박영서 외 3인, 표면 특성 기기 분석, 동명사, 2014