[컴퓨터공학,전자공학] JTAG 레포트

목차

1. BackGround
2. What is JTAG
3. Why JTAG
4. JTAG Operation 방식
5. JTAG Chip 의 구조
6. Boundary-Scan Cell 의 구조
7. TAP ( Test Access Port )
8. Register 의 종류와 기능
9. Intel StrongArm SA-1110의 ID Code Register
10. TAPC State Diagram
11.Intel Strong Arm Pin Definition
12. JTAG Instructions
13. IDCODE Instruction[ 00110 ]
14. EXTEST Instruction [ 00000 ]
15. 참고자료

본문내용

1. Background

70년대 중반에는 “bed-of-nails"라는 테크닉을 사용하여 직접 board를 테스트하였다. 그런데 board 단자 사이의 거리가 좁아짐에 따라 test가 매우 어렵게 되었고 결정적으로 multi layer board가 나타남에 따라 bed-of-nails은 불가능하게 되었다. 또한 테스트하다가 하드웨어에 손상을 가져다 줄 수 있고 고가의 비용 등 여러 가지 문제점들이 발생하게 되었다. 이런 문제점을 해결하기 위해 80년대 중반에 Joint European Test Access Group 이란 단체가 결성되었으며 그들은 a serial shift register around the boundary of the device라는 개념을 발전 시켰다. 그 후에 이 단체는 North American company와 join하게 되었으며 이에 따라 E(European)문자가 없어지고 JTAG으로 남게 되었고 결국에는 IEEE에서 1990년에 표준화하여 IEEE std 1149.1로 제정되었다.

참고자료

· - KELP, < JTAG 소개 및 원리 >, 유영창
· - TI, < IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer >
· - Intel, < Intel StrongARM SA-1110 Microprocessor Developer's Manual >