Atomic Force Microscope(AFM) 결과보고서

소개

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목차

1. 이론적 배경
2. 실험 방법
3. 실험 결과
4. 실험 결과에 대한 분석 및 고찰
5. 결론
6. Reference

본문내용

AFM (Atomic Force Microscope)은 Scanning probe microscopy의 일종으로 AFM의 Probe는 시료표면을 따라가며 Probe와 표면사이에 작용하는 반데르발스힘의 변화를 측정하여 표면정보를 나타낸다. AFM의 탐침자는 Cantilever라고 불리는데, 이 Cantilever는 뾰족한 Tip을 끝에 가지고 있어 팁이 시료의 표면에 가까워지면 반데르발스 힘이 작용하여 Tip이 구부러진다. 그러면 이 구부러지는 정도에 따라 Cantilever의 Tip에 부딫혀 반사되는 레이저의 반사각이 달라지게 되는데, 이렇게 레이저가 매번 다른 각도로 반사되고 진행하여 두 개의 거울에 반사되고 최종적으로 Position Sensitive Photo Detector (PSPD)에 감지되어 표면정보를 나타내게 된다.

참고자료

· 고려대학교 화공생명공학과, 화공생명공학실험Ⅰ 매뉴얼
· https://terms.naver.com/entry.nhn?docId=5662833&cid=62802&categoryId=62802
· https://terms.naver.com/entry.nhn?docId=2693230&cid=60261&categoryId=60261
· https://www.olympus-ims.com/ko/metrology/surface-roughness-measurement-portal
· /parameters/#!cms[focus]=001
· https://en.wikipedia.org/wiki/Surface_roughness