XRD와 XRF

소개

X선 회절 분석 XRD(X-ray Diffraction)와 X선 형광분석 XRF(X-ray Fluorescence)의 원리와 구성, 특성 및 장점, 취급시 주의할 점

목차

1. XRD ( X-ray Diffraction ) X선 회절 분석
1) X선 회절의 원리
2) X선 회절 분석기 (X-ray Diffractometer, XRD)
3) X선 회절 분석기의 구성
4) 장치 취급시 주의할 점
5) X선 회절 측정법의 장점
6) X선 회절 측정법이 불가능 한 경우

2. XRF ( X-ray Fluorescence ) X선 형광 분석
1) X선 형광의 원리
2) X선 형광 분석기 (X-ray Fluorescence, XRF)
3) X선 형광 분석기의 구성
4) X선 형광 분석기의 특성 및 장점
5) 펠렛 취급시 주의사항

본문내용

임의의 결정 상태에서 d의 원자 간격을 갖고 규칙적인 격자 형태를 하고 있을 경우에 X선을 입사각 θ로 조사하면 X선은 원자에 의해 모든 방향으로 산란된다. 산란된 X선의 행로차인 P’RP’‘가 입사 X선의 파장의 정수배로 된 X선은 간섭 효과를 받게 되어 강해진다. 이것을 회절현상이라 하고, 이렇게 발생된 X선을 회절 X선이라고 부른다. 회절 현상이 발생하는 경우 입사 X선의 파장 λ 및 입사각 θ와 격자면 간격 d 사이에는 2dsinθ=nλ 식이 성립되는데 이것을 Bragg 식이라고 한다.
이 식으로부터 회절 X선이 나타내는 입사각 θ가 정해지면 격자면 간격 d를 구할 수 있게 된다. 보통 XRD의 경우 입사x선과 격자면이 이루는 각도인 θ보다도 측정계의 기하학적 배치를 잘 반영하는 각도 2θ(회절각, 입사각의 2배)가 사용되며 조사선 X선 파장에 대한 2θ-d의 대조표가 이미 구해져 있기 때문에, 이 표로부터 d를 유추한다.

참고자료

· 없음