지능검사(비네검사와 웩슬러 지능검사)

목차

I. Binet검사
II. Wechsler 검사

본문내용

I. Binet검사
정신능력을 측정하는 검사 가운데 가장 널리 사용되는 검사가 지능검사이다. 현대적인 지능측정방법을 개발한 Alfred Binet(1857~1911)는 천부적이고 다재다능한 프랑스 심리학자이다. 20세기 초 프랑스 정부가 초등학교의 의무교육을 법제화함으로써 모든 아동들은 초등학교에 입학하였다. 정신박약아동들도 정신아동들과 함께 공부를 시켰으나 정신박약아동들은 뒤따라올 수가 없었다. 1904년 파리의 공립교육장관은 결함이 있는 아동들을 따로 가르치기 위하여 Binet에게 그들을 찾아낼 수 있는 객관적 진단도구를 개발하도록 요청하였다. Binet는 공동연구자인 Theodore Simon과 함께 지각과 운동 기술보다 추리력과 문제해결능력 등 고등정신능력을 측정하는 30개 문항을 난이도의 수준에 따라 상향식으로 배열한 검사를 개발하였다.

참고자료

· 교육심리학 : 학습심리학 / 이웅 저 / 한국교육기획 / 2009
· 발달심리학 / 곽금주 저 / 학지사 / 2016
· 심리학개론 / 이명랑 저 / 더배움 / 2017
· 아들러 인생방법 심리학/알프레드 아들러 저, 한성자 역/동서문화사/2017
· 상담심리학 / 이수연 저 / 양성원 / 2017
· 성격심리학 / 권석만 저 / 학지사 / 2017
· 발달심리학 : 전생애 인간발달 / 정옥분 저 / 학지사 / 2014
· 심리학의 이해 / 방선욱 저 / 교육과학사 / 2003