무기합성 및 분석화학실험 결과보고서(양이온1족 및 6족의 정성분석)

목차

1. 실험날짜
2. 실험제목
3. 결과 및 분석
4. 토의 및 고찰
5. 참고문헌

본문내용

금속이온의 각종화학반응(산-염기 반응, 산화-환원반응, 침전반응, 착물 형성반응 등)을 토대로 하여 물질이 가지고 있는 성질을 이용해 혼합용액으로부터 각 이온 을 분리 시키고 확인하는 방법이다.

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적외선 영역의 빛의 파장을 변환시키며 시료에 조사하면 그 물질의 고유한 특정 파장의 빛을 흡수하거나 산란하는 성질을 이용하여 투과하는 빛의 세기를 측정함으로써 물질의 분자 구조와 분자 결합에 관한 정보를 얻을 수 있는 기기이다. FT System에서는 단시간에 전파장 영역의 빛을 검출하여 푸리에변환을 시켜 파장의 스펙트럼을 얻게 되므로 분석 시간이 대폭 단축되고 분해능이 증가하는 이점을 가진다. 또한 레이저를 이용하여 주파수를 자동적으로 보정해 주기 때문에 정확한 주파수의 측정치를 얻게 되며 모든 측정치가 컴퓨터에 자동 수록되므로 자료 검색이 용이하다. 특히 본 기기는 기존의 데이터 처리 파장범위를 훨씬 넘는 근적외선, 중적외선, 원적외선범위 (50-16500 Cm-1) 까지 측정할 수 있다.

<중 략>

광학현미경은 빛의 파장 때문에 그 확대 능력에 한계(약 0.2㎛)가 나타난다. 이러한 한계를 극복하기 위해 전자를 이용 시료의 표면 조직을 고배율까지 입체적으로 관찰할 수 있는 장비가 전자현미경이다. 고압(10,000 volt 이상)으로 가속된 전자총(electron gun)에서 방출된 전자빔을 ion 증착된 시료 표면 위에 주사하여 시료에서 반사된 2차 전자(secondary electron)를 검출기로 모아 영상화 시키는 장비이다.

<중 략>

에너지 분광검출기는(EDS) 는 시료표면에서 방출되는 X선 분광기로 측정하여, 그 미소영역에 0.1% 이상 함유되어 있는 원소를 정성 및 정량 분석하는 장치이다.EDS는 시료에 입사된 전자빔에 의해 발생한 X-선은 특성 에너지 값을 나타낸다. 이 X-선은 원자의 종류 및 전자궤도이 따라 다르므로 이를 이용하여 시편의 화학적 성분을 정성 혹은 정량분석을 할 수 있다.

참고 자료

중앙대학교 공동기기원 http://crf.cau.ac.kr/
http://faas.apro.re.kr/sub02_02_05.htm
양이온 1족과 6족의 정성분석 handout