신소재의 응용

목차

1>x선 회절 분석기
2>x선의 회절
3>x선 회절 분석법
4>x선 회절 분석기 구조

본문내용

x선의 회절
결정 속의 원자는 입체적으로 규칙적이게 배열되어 있으므로 X선이 각 원자에 부딪치면 이들 원자 속의 전자는 X선의 진동수(주파수)와 같은 진동수로서 진동해서 이 진동을 근원으로 사방으로 퍼지는 전자파인 X선을 발생시킨다. 이것을 X선 회절이라 한다. X선 회절에 사용되는 X선의 파장은 원자의 크기와 같은 정도로서 물질을 구성하는 원자에 의해 만들어지는 산란파와 서로 간섭해서 회절현상이 일어나며, 그 회절현상은 원자의 배열방법과 밀접하게 관련되어 있어서 X선 회절패턴으로 부터 구조에 대한 중요한 지식을 얻을 수 있다. 그 특징은 ① 모든 원자에 의해 산란되고, ② 특정 입사각에서만 회절빔 생성되며, ③ 회절 X-선의 강도는 입사 X-선의 강도보다 적다는 점이다.
좁은 간극(슬릿)을 통과시켜서 가느다란 빔 모양으로 만든 X선을 결정편에 충돌시키면, 결정 내의 원자에 의하여 산란된 X선이 서로 겹쳐서 특정한 방향으로 강하게 간섭하여 결정판 뒤에 놓은 필름 위에 규칙적으로 늘어선 많은 반점의 상(라우에점무늬)이 찍힌다.

참고자료

· 없음